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任新成 《延安大学学报(自然科学版)》2000,19(1):43-44
刚体转动惯量对于研究刚体转动具有重要意义 ,几何形状不规则刚体的转动惯量无法通过计算准确得出 ,只能靠测量 ,为此 ,提出了利用振动测定形状不规则均匀薄片转动惯量的方法 相似文献
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传统的降低板材厚度膨胀的方法主要是通过提高施胶量和添加石蜡,或通过热、蒸汽、化学处理等,但往往会增加成本及影响材料的力学性能。板材厚度膨胀的最主要根源是木材的结构和特性以及热压时水分、温度、压力和时间对板材的综合作用。笔研究了在不同的热压条件下,板坯内不同层的薄片刨花的膨胀以及薄片刨花板厚度方向上的膨胀分布。结果表明,在较低的热压温度下,刨花的压缩率和膨胀率呈明显的相关性,而在较高的热压温度下,尽管表层刨花的压缩率较高,但其厚度膨胀率仍小于芯层刨花。为降低木质复合材料的厚度膨胀,建议采用较高的热压温度。 相似文献
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陈刚 《渝州大学学报(自然科学版)》2008,25(1):65-67
针对气垫导轨装置的重要参数——气垫厚度进行测定分析,利用光杠杆系统测量微小长度变化的方法,测量滑块和气垫导轨之间的空气膜厚度,并对可能产生的测量误差进行分析、讨论;测量结果显示:在通常情况下其厚度大致在150μm左右,与相关的技术指标相符。 相似文献
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本文在比较各种板厚测量方法的基础上,根据成象原理着重论述了差动式激光三角法测厚技术,讨论了聚光透镜和成象系统结构参数的设计,分析了板材料动产生的动态测量误差,并提出自动补偿的途径。 相似文献
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研制了一种非接触厚度测量及厚度分选仪,其传感器由气动位移传感器和变压器式位移传感器复合而成,该系统不受被测对象水分、灰度及密度的影响,具有较高的测量精度,为非接触厚度测量提供了新手段. 相似文献
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利用调制光反射技术对一系列不同厚度的二氧化硅薄膜进行了测量,在不同调制频率下检测样品的调制光反射相位信号。同时针对实验条件建立了三维理论模型,通过对实验曲线的最小方差拟合,推算出二氧化硅薄膜的厚度。 相似文献
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本文首次利用Michelson干涉仪对多弧离子镀TIN装饰膜厚度进行了精确测量,该方法原理简单,测量精度高、可重复性强.是装饰膜厚度测量的最佳方法. 相似文献
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利用物质吸收β射线的特性,应用MCS-51单片机在线自动测量橡胶带厚度的系统总体结构及主要软硬件措施。给出一种测量特性曲线非线性校正方法及有关理论分析和应用结果。该算法计算量与分段线性拟合法相同,但具有更好的拟合特性。 相似文献
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用开放式谐振腔测量金属表面的介质涂层厚度 总被引:1,自引:0,他引:1
黄正华 《石油大学学报(自然科学版)》1996,20(3):114-117
同心圆环电容器构成的平面探头产生的辐射电场对介质有穿透能力,由于介质的极化,使探头的电容随介质的厚度发生变化。为增大两者间的依从关系并测出介质厚度。利用探头和金属板组成的开放式谐振腔来测量金属表面介质涂层厚度,从而提供了测量介质厚度的新途径。 相似文献
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Let X(t)be a(N,d,α)stable process of type A with Nα> d.The exact Hausdorff measure of the lever sets of X - 1(x)is evaluated. 相似文献
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传统测量方法是通过采用测定光信号的传播距离和传播时间来确定光速的.作者利用周期性光信号测量光速,即首先把光信号转变为电信号,经过混频滤波,进而测量相位差和时间增量求得光速. 相似文献
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刘国昌 《山东理工大学学报:自然科学版》2004,18(5):90-94
平面铰链四杆机构轨迹再现问题的传统方法求解,理论上可满足轨迹上9个插值结点,但在给定5个以上插值结点时,求解就已十分困难,这与实际工程中机构在满足一定约束条件下最佳地逼近预定运动规律的要求相矛盾.为解决这一矛盾,根据实际工程要求,提出平面铰链四杆机构轨迹再现问题的最优化求解方法,分析、比较了最优化解法与传统方法的异同及其对问题求解的影响,并借助实例给出最优化求解的方法步骤。 相似文献
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针对金属板材、塑料、玻璃的分类处理,提出一种基于PLC的运动板料长宽测量系统的设计方案.该系统能对板料尺寸进行动态测量,并将测量信息打印在板面上.对PLC、伺服驱动器和变频器的电路进行设计,利用WinCC完成触摸屏设计.系统试运行结果表明,板料测量能达到较高精度. 相似文献
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根据新型板坯大侧压机同步机构这一两自由度五杆机构,建立了其优化设计的数学模型,获得了能满足同步要求、有近似等速直线段运动出现的最佳机构尺寸。 相似文献
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TP77椭圆偏振光测厚仪功能的拓展研究 总被引:1,自引:0,他引:1
成功地将TP77椭圆偏振光测厚仪改装成卤钨灯或氙灯为光源的广谱椭偏仪。改装后的椭偏仪不含λ/4波长片,而配有一型号为WDG5001A的单色仪和一个X-Y函数记录仪,它可用来测量固体薄膜和片状材料的折射指数n(λ)和消光指数k(λ)。 相似文献