利用铁磁共振微分曲线测量铁磁共振线宽

一 引言 利用铁磁共振仪测量铁磁共振线宽AH,通常是测出外线偏振磁化率对角组元的虚部Xe″随外稳恒磁场H_e的变化曲线(图1a),从1/2X_(max)~(e″)所对应的两个稳恒磁场的差值来确定△H。这样的方法要求样品产生的信号大,当被测样品所产生的信号很小时,特别是对一些薄膜样品,则无法进行测量。另外,对于半高点1/2X_(max)~(e″)所对应的H_(e1)和H_(e2)的位置,不能直接确定,它要先由X_(max)~(e″)和X_(min)~(e″)确定X1/2_(max)~(e″)再由1/2X_(max)~(e″)确定H_(e1)和H_(e2),这样容易产生较大的误差。而利用铁磁共振微分曲线,在一定程度上可克服上述缺点,它的灵敏度和准确性都较一般的铁磁共振仪高。     

磁性纳米颗粒系统的铁磁共振和共振线宽分析

 对非相互作用磁性纳米颗粒系统的FMR线型模型进行了研究,以铁磁体从应用场中获得自由能F为例,导出磁性颗粒在较小各向异性时,共振场H_r与有效各向异性场H_A^eff的关系,这个结果与Raikher和Stepanou的结果一致.继而还对共振场线宽进行了分析,并与Smit和Beljers模型进行了比较,其结论说明:在超顺磁区域有效各向异性场H_A^eff对塞曼(Zeeman)相互作用和附加应用场H是不确定的.尤其是这种情况在H_A^eff较小、高温(高温区域),且H_A^eff≈H时,变得更显著.为此提出了随机颗粒阵列及参数特征对这个结果的影响机制.     

窄线宽液相外延YIG单晶薄膜

本文探讨了窄铁磁共振线宽的液相外延YIG单晶薄膜的组分计算与制备;同时分析了薄膜铁磁共振线宽与生长条件、微观结构的关系;初步分析了YIG薄膜的△H_(||)>△H_⊥的机理.     

磁性颗粒膜的铁磁共振

从理论上分析了颗粒膜在铁磁共振（FMR）场以上由于颗粒形状、尺寸、取向、百分含量及温度的效应．分析了斜置共蒸发沉淀而成的CoxAg1-x颗粒膜（百分含量（0．2〈x〈0.85）、体积填充因子以0．17〈f〈0．85））与Hτ的关系,在室温下FMR的Hιτ（f）-f曲线显示,在系统的逾渗点f=fp≈0．3时产生突变,这变化与铁磁（FM）颗粒的聚集增长相关联,这种关联是在f〉fp时与单一超顺磁相（SPM）颗粒比较．另外,对Fe—SiO2颗粒膜其Hτ（f）-f曲线的分析也显示在逾渗点f=fp≈0．28时产生不连续的跃变．磁性颗粒膜的这一性质提供了有效探明第一类磁逾渗材料的相转变途径．     

(La,Ga):YIG单晶薄膜的铁磁共振研究

本文研究了用于微波静磁波器件的(La,Ga):YIG单晶薄膜的铁磁共振特性,分析了共振线宽和单轴各向异性与生长条件、微观结构参数、表面质量之间的关系.从实验中观察到了三种性质不同的静磁共振模式,并根据这些模式并入一致共振模的条件对(La,Ga):YIG薄膜的线宽的增宽现象作了初步探讨.     

关于YIG单晶小球的磁共振测量

本文简要地叙述了用电子顺磁共振波谱仪(国产DSG-K1型)观测七个YIG单晶小球磁共振的方法,指出一个小球的共振主峰两侧有次峰。讨论了一种可能性:电子顺磁共振波谱仪是检验及研究铁氧体单晶材料的缺陷的有效工具。     

高灵敏度铁磁共振测量系统

本文介绍一种提高铁磁共振测量灵敏度的有效方法,即采用平衡差动放大器对微弱的铁磁共振信号进行差动放大,然后进行测量。用此方法可以测量非晶态金属薄片的微弱共振信号。     

氮化铁薄膜的结构及磁性研究

采用直流磁控溅射方法，以Ar／N2作为放电气体在玻璃基片上沉积了单相γFe4N薄膜，采用X射线衍射（XRD）和超导量子干涉仪（SQUID）对所制备的样品进行了结构和磁性性能分析，研究了基片温度对薄膜的结构和磁性性能的影响。     

磁性薄膜磁电阻效应的测量

本文阐述了各向异性磁电阻效应测量原理,介绍了四探针及六探针法测量磁性薄膜的磁电阻率的方法,并讨论了探针因子Ｍｒ的值与探针相对位置的关系,提出采用对称电流六探针来改善测量误差     

激光器线宽的测量

实现了延迟自外差法测量激光器线宽的实验系统。实际测量了1.52μm单纵横He-Ne激光器线宽,其线宽值小于40 kHz,测量分辩率达20 kHz。     

磁各向异性对YIG单晶磁性薄膜ΔH的贡献

在考虑任意磁化方向单磁各向异性等效场的基础上，根据磁矩进动方程，导出了张量磁化率Ｘ”的表达式，讨论了单晶ＹＩＧ磁性薄膜中磁各向异性对铁磁共振线宽的贡献，用“各向异性线宽因子”的概念定量描述了这种贡献，理论计算与实验结果符合得很好。     

磁各向异性对YIG单晶磁性薄膜△H的贡献

在考虑任意磁化方向单轴和立方磁各向异性等效场的基础上，根据磁短进动方程，导出了张量磁化率X”的表达式，讨论了单晶YIG磁性薄膜中磁各向异性对铁磁共振线宽的贡献，用“各向异性线宽因子”的概念定量描述了这种贡献．理论计算与实验结果符合得很好．     

用六探针测量磁性薄膜的磁电阻率

本文介绍了用六探针测量无限大磁性薄膜的磁电阻率的方法，并讨论了探针因子Ｍｒ的值与探值相对位置的关系，找到测量所需的最佳参数。     

自旋波线宽的测量

介绍了一种测量微波铁氧体材料自旋波线宽△H_K的方法,它是用连续微波信号进行测量的。用该装置测量了单晶YIG材料在平行激发下的“蝴蝶曲线”,从而可以得到在自旋波不稳临界点处,△H_K随外磁场的函数关系。     

连续双层YIG薄膜铁磁共振中的静磁模式

本文将文献[1]、[2]提出的单层铁磁薄膜的静磁理论扩展到具有单轴各向异性和立方各向异性的异磁化强度连续双层膜系统,考虑了K_u和K_1的影响之后,导出了频散方程式。用该方程式计算(La,Ga):YIG—La:YIG连续双层薄膜的静磁模共振波谱,其结果与实验波谱非常吻合。     

微波铁磁共振

本文阐释了微波铁磁共振的机理、测量方法,并用此方法具体测定了铁氧体的共振线宽△H与旋磁比γ等参数.     

Li—Zn—Cu系铁氧体磁性和铁磁共振的研究

研究了Li—Zn—Cu铁氧体的磁性及铁磁共振效应。实验结果表明,样品的晶格常数随Cu代换量增加而线性增加.样品的饱和磁化强度在500mT左右;居里温度θ_f=710K,增加代换量和提高烧结温度可降低铁磁共振线宽,共振线宽在测量频率为5GHz以上与频率呈线性关系.