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以氧化钕为主成分其它稀土元素为杂质的样品为例,采用氧化制片的方法对稀土类样品直接测定,方法简便、快速、准确可靠。测定范围0.01% ̄100%。 相似文献
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微小变动量法是X射线荧光分析中计算理论修正系数的一种成功的方法。用这种方法计算出基础理论修正系数后,可根据需要选择适当的消去项。本文应用作者编写的计算机程序,计算了熔融玻璃片试样的基础理论修正系数δi i后,消去分析元素i及基元素氧两个修正项,得到熔融玻璃片试样中元素间的理论修正系数α_(i-j)以及氧化物间的理论修正系数Aij。最后用所求得的理论修正系数,采用JIS(日本工业标准)模式,用比较标准法分析了6个铁矿石试样,获得较好的结果。 相似文献
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本文介绍SXRFS(x射线荧光谱仪模拟)系统的设计思想和实现方法。SXRFS是在AppleⅡ机上开发的计算机软件,采用浮点BASIC语言实现。系统由五个部分组成:XRFS(x射线荧光谱仪)简介、基本原理、仪器结构、样品制备和操作模拟。系统具有较强的交互功能,操作方便、灵治。SXRFS采用了计算机图形显示技术,特别是动画技术,使系统形象,逼真地模拟XRFS的全过程。 相似文献
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引言在X射线荧光分析中,待测元素的含量不仅仅是其特征X射线强度的函数,而且也是样品对初级辐射和特征X射线的质量吸收系数的函数。在理想条件下,待测元素的含量与特征X射线的强度呈线性关系。对于地质样品,这种理想条件严格说并不存在,需要对测量到的 相似文献
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X射线荧光分析用高炉生铁控样的制备和应用 总被引:1,自引:0,他引:1
本文介绍了X射线荧光光谱分析用高炉生铁内控样的制备和应用。通过收集合适元素含量范围、含量分布梯度均匀的生产样品,经均匀性试验,国标化学分析方法、ICP-AES法、高频红外法定值,筛选出十个生铁内控样。应用于生铁的X射线荧光光谱分析,结果准确可靠。 相似文献
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采用粉末压制的样片进行X射线荧光光谱分析,测定底质中的重金属As,Cr,Cu,Pb,Zn,其相对标准误差分别为0.009%,0.008%,0.012%,0.04%和0.0014%,方法的准确度与精密度均能满足底质样品分析的要求。 相似文献
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为了快速筛查针对金矿开采中Hg污染的情况,试验了能量色散X射线荧光光谱(energy dispersive X-ray fluorescence spectrometer,EDXRF)法直接测定Hg含量技术。对基于SDD探测器的便携式X-荧光(X-roy ftuorescence,XRF)分析仪,探测器分辨率为130eV@5.9keV,Rh靶X光管的管电压为40 kV、电流10μA的条件下对金矿样品进行测量。排除其他元素对Hg的谱线干扰,选取HgLα运用净峰面积法以金矿生产样品建立工作曲线,相关系数为0.985 1。实验表明,EDXRF法测定Hg,精密度高,平均偏差为9.0%,相对标准偏差(relative standard deviation, RSD)(n=10)小于1.3%,具有分析灵敏度高、样品制备过程简单、无损分析等优点,可用于金矿中Hg元素的快速检测。 相似文献
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本文提出了一种定量分析左心室壁运动并计算壁运动异常的方法,将左心室壁的移动区域划分为100区,在这100区中分别测量心室壁运动的情况,并以心周长进行归一化,这种方法的失败率很低,且可精确区正常心室壁与异常部位。 相似文献
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文章用X射线实验仪系统研究了X射线强度的衰减规律,讨论了X射线的衰减与吸收物质厚度的关系,以及X射线的衰减与原子序数的关系,对于利用X射线实验仪系统开展X射线系列实验和促进原子物理学教学改革具有较大的价值. 相似文献
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利用PANalytical Axios(PW4400)仪器的优越性,对人造富矿中主要成分进行了测定,给出了元素的干扰和基体效应校正系数,分析数据准确可靠。 相似文献
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《淮北煤炭师范学院学报(自然科学版)》1986,(2)
1972年 P.Horowitz 和 A.Howell 等人,首先使用同步加速器作辐射源做 X-射线荧光分析,为分析化学提供了一个新的手段。众所周知,X-射线荧光分析,是以 X-射线束作为探针入射到试样中,根据不同元素产生的特征 X-射线荧光去标识元素的。它是一种直接和较简便的方法。但是,常规手段产生的 X-射线强度较弱,而入射 X-射线束的强度又决定了它的分辨率,且在大气中很难准直,本底也比较高。同步辐射加速器作为 X-射线源,则能量可变,强度高且稳定,分辨率较高,准直性好,对分析工作较为有利,可以较大辐度提高方法的灵敏度和准确度。 相似文献
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电炉渣的X射线荧光光谱分析 总被引:1,自引:0,他引:1
采用X射线荧光光谱仪测定电炉渣中TCa、SiO2、MgO、MnO、TiO2、TFe、P2O5的含量,研究电炉渣的制样条件及分析条件,测定其精密度及准确度,完全满足生产要求。 相似文献
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研制的海底 X射线荧光探测系统是以新型电致冷 Si- PIN半导体探测器为 X射线探测器 ,以放射性同位素源为 X射线荧光激发源 ,在无液氮冷却条件下 ,能够实现对水底沉积物的原位测量 ,且一次测量可同时完成 5种以上 ,甚至多达十余种元素的定性、定量测定。其检出限可达 (10~ 2 0 0 )× 10 - 6 ,分析精度可达 2 %~ 10 %。 相似文献
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以热塑性树脂为熔剂,金属氧化物为金属元素载体,采用双螺杆熔融共混结合注塑挤出成型工艺,制备X射线荧光光谱法检测用聚合物基标准物质;采用扫描电子显微镜、能量色散X射线谱、同步热重分析等手段对标准物质进行表征。结果表明,聚乙烯基标准物质金属元素分布最均匀,高温烧蚀测试样品中金属氧化物含量与理论添加量误差小于0.6%,最大拉伸强度达12 MPa,初始热分解温度高于290℃,样品表面最大水接触角为91°,具有优异的力学性能、耐热性和疏水性。 相似文献
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文章对岛津XRF-1800型X射线荧光光谱仪在日常使用期间发生的各种故障,以及该仪器的使用人员和维修人员对发生各种故障的原因分析,排除故障的经验、解决的发法做了详细的阐述说明和分析,供仪器使用人员和维修人员参考。对于设备的维修维护建议还是采取预防为主,最好是给设备一个良好的工作环境,还要定期进行维护和保养,及时发现问题并排除掉,这样才能使设备更好的为我们服务。 相似文献