X射线衍射仪精确测定点阵常数的研究

Ｘ射线衍射测定晶体点阵常数是基本的实验方法．用普通Ｘ射线衍射仪粉末法测定硅点阵常数，比较了不同测试方法和计算方法，以定点扫描三点抛物线法定峰、ｃｏｓ２θ外推法计算结果最佳．     

用X射线衍射法测定聚氨酯的结晶度

本文用X射线衍射法测定聚氨酯的结晶度,采用Farrow几何法对散射曲线进行分峰并对分峰法作了改进,用Hermans和Weidinger归一化法计算结晶度.归一化法摆脱了X射线衍射分析中强度因子的繁琐数学运算.实验结果表明,聚氨酯结晶度随着硬段链值的增加而增加.     

X射线粉末衍射仪测定材料热膨胀的新方法

本文在简单综述测定材料热膨胀的各种方法与技术的基础上着重谈本文作者建立的Ｘ射线粉末衍射仪测定材料热膨胀的新方法并导出了新方法的测量误差极限的表示式。     

用x射线粉末衍射仪测定晶体热膨胀新技术的鉴测结果

我们用飞利浦ＰＷ１５３０ＱＳ型标准ＬｉＦ单晶来检测鉴定刘奉朝所述的用ｘ射线粉末衍射仪温室晶体材料热膨胀的新技术，获得ＬｉＦ在不同温区的线性热膨胀系数。这些结果跟有关文献用传统技术所得的结果相符，跟刘奉朝先前的报道一致。这些结果表明新技术比传统技术先进。     

X射线衍射分析的实验方法及其应用

概要介绍了X射线衍射分析的原理及其相关理论，总结了X射线衍射的各种实验方法，对X射线衍射分析的应用分别进行了叙述，最后对X射线衍射分析的发展进行了展望。     

利用X射线衍射仪评价防膨剂效果的实验方法

以水化膨胀能力最强的钠蒙脱石为研究对象,利用X′Pert Pro粉晶X射线衍射仪测试蒙脱石（001）晶面间距的原理,探索性地建立了使用X射线衍射仪直接、快速评价防膨剂防膨效果的方法和实验流程。系统总结了钠蒙脱石在去离子水、有机防膨剂、无机防膨剂中的（001）晶面间距变化情况。研究表明,蒙脱石（001）晶面间距的变化能够直观的反应防膨剂的防膨效果。并且采取了先抑后膨、先膨后抑的方法对防膨剂的稳定性、持续性进行了评价,拓宽了评价防膨剂的性能参数     

X射线荧光光谱测定纯铜样品中的痕量杂质元素

以英国进口的纯铜标准样品制作工作曲线,采用专用的空白标样和多点多项式方法计算峰底背景。用干扰曲线法进行基体效应和谱线重叠干扰的校正,部分重金属痕量元素选择高反射率的人工晶体PX-9来测定。开发了用X射线荧光光谱测定纯铜样品中18个痕量杂质元素的方法。其分析结果与直读光谱测定值基本相符,回收率在95％-105％范围,各元素的相对标准偏差RSD均小于5.0％。     

硅点阵常数精确测定及系统误差处理

精确测定点阵常数是研究结晶材料的重要方法之一，对于研究相变过程、晶体的缺陷和应力状态等均有重要意义。本实验除对晶体硅的点阵常数进行了精确测定外，仪器的系统误差对测定精度的影响也进行了测量、分析，并对测量结果给予了修正。     

X射线衍射仪角度校准的光学新方法

目前X射线衍射仪(XRD)的角度检定和校准测试主要依据JJG 629—1989《多晶X射线衍射仪检定规程》和JB/T 9400—2010《X射线衍射仪技术条件》等技术文件,具体方法是采用光学经纬仪或多面棱体等进行测试,该测量方法实际应用中存在一定难度,其次测量间隔较大,不能很好反映真实的角度误差规律.为此,提出了利用θ角和2θ角同轴并可独立运动的特点,组合采用光电自准直仪和小角度激光干涉仪等仪器,设计了一种新的XRD的角度校准方法,它能够自动快速地连续测量角度,取k=2时,扩展不确定度约1.2″.使用该方法测试能够精确得到θ和2θ轴的误差数据,可用于修正XRD测角误差,提高XRD测试精度.该方法也适用于同步辐射等大型衍射系统等其他需要角度校准的情况.     

X射线粉末衍射仪在本科实验教学的应用

大型精密仪器在科学研究及实际生产应用中的地位日趋重要,这类仪器如何合理地应用于高校本科实验教学、发挥其在培养学生实验技能和掌握研究方法与实验技术中的作用,是一线实验教师需要认真思考的问题.阐述了X射线粉末衍射仪在本科基础实验课程“现代化学实验与技术”中的实践及应用,包括实验设置的目的、意义及具体实施情况等,旨在促进大型精密仪器与本科实验教学的紧密结合,提升实验教学水平和人才培养质量.     

α—AL2O3单晶体的X射线衍射仪法分析

以α－ＡＬ２Ｏ３单晶体为例，探索了现代Ｘ射线衍射仪法分析技术在晶体取向和晶向偏离角测试方面 应用。采用方法测试的晶面的晶向偏离角为ψ＝４．９７°。经ＴＥＭ电子衍射菊池线测试晶面晶向偏离角Δθ＝５．１１°，误差小于０．２°。表明本文提出珠Ｘ射线衍射法测试单晶体向偏离角具有简捷，精确及可靠性高的优点。     

Eu2O3超微粒的X射线衍射研究

利用化学沉淀法制备了Ｅｕ（ＯＨ）３超微粒样品，将样品在空气中于不同温度下热处理２ｈ，得以了粒度不同的Ｅｕ２Ｏ３超微粒样品，采用Ｘ射线衍射方法对Ｅｕ２Ｏ３超微粒样品粒度及点阵参数ａ进行测定，结果表明，Ｅｕ２Ｏ３超微粒中存在晶格畸变。对超微粒中晶格畸变与粒度的关系进行了分析讨论。     

X射线衍射仪粉末法测定硅点阵常数的精确度和准确度

以普通粉末衍射仪用单边法并峰值定位法（不借助内标）测定高纯硅粉的点阵常数，目的是提高测定的精确度和准确度。考虑了各种误差。对焦点偏移误差进行了分析、确定了准直的要求并以实验方法消除了此误差。用实验方法测定了衍射峰位的垂直发散几何偏差从而解决了此误差的校正问题。对峰值法的Ｌｏｒｅｎｔｚ等物理偏差进行了以实验数据为根据的校核。多次点阵常数测定值的标准误差仅为百万分之三，达到了高精确度。用不同靶的特征谱线对这一结果进行了验证，结果良好。因解决了上述误差的校正问题，准确度也达到相应水平，因而解决了单晶法与多晶法测定硅点阵常数不符的问题。分析及实验数据说明用普通衍射仪并单边峰值定位法测定结晶良好的高对称晶系样品的点阵常数，其精确度和准确度可达百万分之四。     

用Y—2型X射线衍射仪测EXAFS

EXAFS谱学是近十几年才发展到实用阶段的一种原子近邻结构的测试方法,有极其广泛的应用,引起国内外学者的重视.以透射法为例其基本原理如图1所示.图中S为样品,其厚度为x;I_o为入射X射线的强度;I为透射X射线的强度;设样品的线吸收系数为μ,则下式成立     

精测点阵参数的一种新方法

提出了精测点阵参数的一种新方法，它适用于所有晶系，在原理上与线对法等效，但比线对法公式简单，计算容易，并具有较高的精度。     

X射线衍射技术的发展和应用

X射线衍射技术的应用范围非常广泛,现已渗透到物理、化学、材料科学以及各种工程技术科学中,成为一种重要的分析方法,本文介绍了X射线衍射的基本原理、主要应用和进展.     

线对法测定金属铝点阵参数

本文对X射线德拜相,用差分法求出各衍射线指数,再用线对法计算金属铝的点阵参数;并与常规法计算结果进行比较.对扩展线对法条件进行讨论.     

X射线衍射法测定焦炭石墨化程度的研究

本文讨论了用X射线衍射法测定冶金焦炭石墨化程度的过程,并应用外推法求得了适合于冶金焦炭的(002)晶面间距d_(max)不是3.44,而应为4.31,找到了一个合理表征冶金焦炭石墨化程度的计算式。     

α－AL_2O_3单晶体的X射线衍射仪法分析

以α－ＡＬ２Ｏ３单晶体为例，探索了现代Ｘ射线衍射仪法分析技术在晶体取向和晶向偏离角测试方面的应用。采用该方法测试的（０００１）晶面的晶向偏离角为＝４．９７°，经ＴＥＭ电子衍射菊池线测试（０００１）晶面晶向偏离角△θ＝５．１１°，误差小于０．２°。表明本文提出的Ｘ射线衍射法测试单晶体晶体向偏离角具有简捷、精确及可靠性高的优点。     

晶胞常数法测定Fe-Y分子筛骨架含铁量

提出以X射线衍射法测量晶胞常数α_0与化学分析测定硅铝比相结合,定量测定Fe-Y分子筛骨架中铁含量Fe(s)。得到了经验公式: