X射线荧光分析技术在铝工业分析中的应用

介绍X射线荧光光谱法用于氧化铝、铝生产过程中各种材料的分析,如原料、中间物料、氢氧化铝、氧化铝、铝用炭素、氟化盐、铝及其合金等。     

X射线荧光分析技术在铝工业中应用

本文对X射线荧光分析技术在铝工业分析中的应用作了分析，供大家参考。     

X射线荧光方法在成矿规律研究中的应用

该文将X射线荧光方法的现场测量结果,与地质研究密切结合,总结成矿规律。     

X射线荧光分析技术在物证材料检验中的应用

本文在总结实际工作的基础上，综述了X射线荧光分析技术在刑事和民事案件取证中采集的七种物证材料检测的实际应用，讨论了X射线荧光分析技术在物证材料检测中的可行性和物证材料采集中几点值得注意的问题以及X射线荧光分析技术在物证材料检测方面的拓展前景。     

X射线荧光光谱基本参数法测定钢铁的组分

Philips MagiX Pro型X射线荧光光谱仪的基本参数法测定钢铁中的Al、Si、P、Ti、V、Cr、Mn、Co、W、Cu、Ni、Nb、Mo等13种元素。方法准确可靠,稳定性好、速度快。测得曲线涵盖合金牌号手册中常用碳钢、中低合金钢、不锈钢、工具钢等90％以上的牌号。线性范围内实现无标定量分析。     

X射线荧光元素录井技术在油气勘探开发中的应用

通过分析X射线荧光元素录井技术在岩性识别与地层划分、沉积环境与沉积相判别、物性参数计算与储层评价、关键“地质层位”卡层等方面的应用情况,评价该技术在油气勘探开发中的应用效果,并针对技术应用中存在的问题提出技术发展建议,以期深化录井行业从业人员与科研工作者对X射线荧光元素录井技术研究热点变化趋势的理解,进一步拓展该技术的应用研究范围。     

X射线荧光光谱测定纯铜样品中的痕量杂质元素

以英国进口的纯铜标准样品制作工作曲线,采用专用的空白标样和多点多项式方法计算峰底背景。用干扰曲线法进行基体效应和谱线重叠干扰的校正,部分重金属痕量元素选择高反射率的人工晶体PX-9来测定。开发了用X射线荧光光谱测定纯铜样品中18个痕量杂质元素的方法。其分析结果与直读光谱测定值基本相符,回收率在95％-105％范围,各元素的相对标准偏差RSD均小于5.0％。     

X射线荧光光谱法测定锰铁中的锰、磷、硅

研究了采用X射线荧光光谱仪测定锰铁中的分析元素,研究了系统制样方法:采用粉末样品压片制样,并利用内控标准元素(铁)作为主量元素(锰)的强度参比.本方法可用于锰钦中Mn、P、Si的同时测定.     

简述X射线荧光技术在地质勘查中的应用

X射线荧光技术具有快速、低成本等特点，主要应用于冶金、煤矿、材料、环保、等部门，近年来也运用于地质勘查并发挥了重要作用；本文介绍了X射线荧光技术在地质勘查中的原理和应用，对加快地质勘查工作进度、缩短找矿周期有着重要意义。     

荧光法测定片剂中抗坏血酸的含量

基于抗坏血酸（Vc）本身没有荧光,苯甲酸（BA）与Vc反应生成强荧光物质的特性,建立了一种荧光法测定vc含量的方法．在0．20mol·L^-1（pH=6．00）的Na（）HKHC8H4O4缓冲介质中,Vc能使BA体系的荧光明显增强,λex／λen=310nm／410nm．实验结果表明,Vc浓度在5．00×10^-7～1．50×10^-5 g·mL^-1范围内与增强的荧光强度△F呈良好线性关系,相关系数为0．9982,检测限为2．02×10^-9g·mL^-1,加标回收率为95．33％～102．67％,利用本法成功测定r不同厂家维生索c片剂中Vc的含量．     

新的三层BP神经网络算法在解谱分析中的应用

介绍了一个三层BP(back propagation)神经网络结构,并推导出LM(Levenberg-Marquardt)算法对网络的权重和偏置的更新.然后用LM算法和带动量的梯度算法来分别训练网络.结果表明:这两种算法得到的残差都在一个很小的范围内,应用神经网络技术解复杂X射线谱具有良好的优越性;而LM算法收敛更快,为我们节约了大量的解谱时间.还对解谱的残差进行了分析,提出了神经网络解谱的过程中需要注意的问题及其缺陷.     

荷兰红芹中微量元素的X射线荧光光谱测定法

提出了荷兰红芹中微量元素的Ｘ射线荧光光谱分析方法。熔珠江制备试样及标准试样。并提出了用重吸收剂技术和高倍稀释技术联用消除基体效应的方法，同时研究了谱线干扰的消除方法，此法可广泛应用于多种药用植物中的微量元素分析。     

利用X射线光电子能谱确定煤及其残焦中硫的形态

利用X射线光电子能谱(XPS)技术分析了宜宾煤及其释放出挥发分后残焦中硫的形态,研究了煤中的硫在挥发分释放过程中的迁移规律.结果表明:XPS能够鉴别出宜宾煤中的硫;宜宾煤的S2p图谱有2个需要解叠的峰,分别位于163～164eV和169～171eV之间,这主要是由煤中的硫化铁和硫酸盐引起的;宜宾煤中含有硫砜,但不含亚砜.残焦的分析结果表明,在900℃加热条件下,宜宾煤在释放挥发分的同时,其中的部分燃料硫能够转化为硫酸盐和亚硫酸盐并被固定在残焦之中.在煤的挥发分释放过程中,也有部分燃料硫与挥发分一起释放出来,其份额与加热温度有关,随温度的升高而增加.     

X射线荧光光谱法测定海底钴结壳的方法研究

采用粉末压片制样,X-射线荧光光谱法直接测定钴结壳中Fe、Mn、Co、Ni、Si、Al、Ca、K、Na、Ti、P、Mg、Cu、Pb、Mo、Sr、V、Zn、Zr、Y、Ba等元素。重点讨论用熔融法定值部分样品,然后用加以定值的钴结壳标准及样品、国家岩石、土壤、水系沉积物系列标准用粉末压片制样,做工作曲线,一次测量钴结壳中二十余种元素,并用定值样品做精密度与准确度试验,各元素统计结果为RSD％（n=12）除V的RSD〈4％外,其余元素的RSD均小于2％,测定结果与标准值和ICP-MS测量值相符。     

基于X射线荧光的铝硅共渗涂层厚度测量研究

铝硅共渗涂层常喷涂于发动机高温叶片表面，涂层的防护对于延长发动机叶片的使用寿命至关重要。X射线荧光无损检测技术能快速便捷地监控涂层厚度情况，但是目前这种方法对于多元素双层膜铝硅共渗涂层厚度的检测不准确。为了进一步研究多元素双层膜铝硅共渗涂层厚度与X射线荧光检测值的关系，基于X射线荧光无损检测技术提出了一种方法来减小X射线荧光测量数据的误差，再通过验证钼元素荧光对数值与第1层膜厚度之间的线性关系来确定这种方法的可行性，最后基于X射线荧光吸收与发散的原理，拟合出中间层膜的厚度与钼元素荧光之间的计算模型。得出以下结论：当膜中钼元素质量分数大于基底中该元素质量分数时，随着膜厚度值的增加，仪器接收到的荧光效应先减弱再增强，临界值大约为14.3 μm，小于该临界值的铝硅共渗涂层，涂层元素相互渗透对厚度测量的影响不可忽视。     

用X荧光分析方法对大米加工过程中微量元素流失规律的研究

作者通过X射线荧光分析法（XRF），测定了稻谷、糙米和精米中微量元素Zn,Cu,Fe,Ca,Mn等的含量，结果表明：大米的加工愈精细，其所含的微量元素损失愈严重。