一种自动测试晶体管开关参数的微机系统

给出一种对晶体管开关参数（二极管反向恢复时间trr,晶体三极管开启时间ton和关闭时间toff以及延迟时间td,上升时间tr,存储时间ts和下降时间tf）进行自动测试的系统TSP－ATS。论文以存储电荷Qs作为PN结开关特性及晶体三极管的开关参数为实测对象,论述了自动测试系统的工作原理;给出了系统测试方案和TSP－ATS的硬件设计方框图及测试软伯的主流程图;对接口功能设计的状态图作了较详细的介绍并给出了最终的测试结果。     

锗合金结及合金扩散结晶体管低频h参数的温度关系

一、引言晶体三极管电学参数随温度变化而发生的剧烈变化是限制它们在无线电设备中更广泛应用的重要原因之一.因此,研究晶体三极管电学参数的温度关系能为晶体管的更广泛应用提供有价值的参考资料;同时,把实验结果与理论计算相比较,还可检验理论的正确性.锗合金结P-N-P晶体三极管小讯号参数的温度关系已有一部分实验及理论工作,锗合金扩散结P-N-P晶体三极管小讯号参数温度关系的资料目前还较零星.本     

基于光子晶体光纤非线性环路镜光开关的研究

采用光子晶体光纤构成非线性光学环路镜,利用非线性环路镜中信号光与控制光之间交叉相位调制效应实现全光开关. 讨论了光子晶体光纤结构参数对其非线性的影响,建立了基于光子晶体光纤非线性环路镜光开关的理论模型,研究了光开关的透过特性及影响光开关性能的因素. 研究结果表明,基于光子晶体光纤非线性环路镜的光开关,可以在较短的环长和较低的开关功率下实现高速光开关操作,其开关特性可由控制光功率灵活调控. 光子晶体光纤非线性环路镜光开关为实现用于高速光通信系统中的光开关技术提供了一种重要思路.     

低压配电设备通用自动测试系统的设计与实现

为解决低压配电设备状态信息检测仪器存在功能单一、使用不便且无电子化存储功能等问题,设计了一种通用自动测试系统。在硬件方面,自动测试设备集成多种测试资源,模拟量输入电路和矩阵开关,实现资源的灵活复用;软件方面,自动测试软件基于Lab Windows/CVI开发,利用多线程技术和多缓冲区技术,实现数据的实时高速采集,图形显示以及存储。实验结果表明,该系统能够完成对多种配电设备多种状态信息的采集,弥补现有检测设备的不足,方便现场人员的检修,为低压配电设备状态信息获取提供了新的解决方案。     

射极耦合型数字分频器输出信号的相位波动研究

通过对射极耦合型（简称ECL型）数字分频器的研究指出：ECL型数字分频器输出信号一次谐波相位波动是由组成分频器的ECL电路的时间延迟决定的。而ECL电路的时间延迟是与电路中的晶体三极管等效电路的参数有关。为此，给出晶体三极管基极电阻闪砾效应波动模型。     

晶体管开关参数自动测试系统

晶体管开关参数的自动测试一直是人们关注但尚未解决的问题，本文介绍了一种晶体管开关参数自动测试系统ＬＴＳＰ－ＡＴＳ（ＴｒａｎｓｉｔｓｔｏｒＳｗｉｔｃｈＰａｒａｍｅｔｅｒＡｕｔｏ－ＴｅｓｔＳｙｓｔｍ）．文中对ＴＳＰ－ＡＴＳ的原理、方案论证、系统设计及测试结果作了详尽的叙述。     

共射输入特征曲线相交的理论诠释

在晶体三极管的试验或使用中,不时要涉及到一些晶体三极管共射输入特性曲线的相交。对于为什么会相交这个问题,本文从理论上进行分析,从而给出这些晶体三极管共射输入特性曲线相交的理论诠释。     

高温超导桥结特性自动测试研究

本文报告了自行研制的高温超导桥结特性自动测试系统，该系统包括软件控制及相关电路两部分。由系统软件控制实现自动测量、自动存储、显示及打印等多种功能。文章最后给出部分测试结果，优于常规系统的测试精度．     

在射极偏置放大器中PNP型晶体三极管工作状态的确定

根据PNP型晶体三极管的工作原理,借助等效电源电压和射极偏置放大器中晶体三极管静态工作点电压、基射极导通电压之间大小关系,研究了确定射极偏置放大器中PNP型晶体三极管工作状态的方法,提出了一种简易可行的判据.     

T/R组件性能退化试验系统设计与实现

T/R组件是有源相控阵雷达装备的重要部件,其性能变化严重影响雷达技术、战术指标,通过试验系统进行T/R组件性能退化试验是分析T/R组件性能变化的重要途径。在分析T/R组件性能退化试验流程基础上,设计了T/R组件性能退化试验系统结构;设计了试验系统平台,解决了多个T/R组件自动测试与开关级联切换下的噪声系数测量问题;设计了自动测试软件,实现了T/R组件性能参数的自动测试、测量结果的自动存储。基于此试验系统,进行了某型T/R组件的性能退化试验,结果表明该试验系统能够自动完成多个T/R组件性能参数的自动测试,提高了测试效率,为T/R组件和有源相控阵雷达的性能分析提供了试验平台。