NSRL衍射和散射站的性能及在材料科学中的典型应用

介绍了国家同步辐射实验室二期工程X射线衍射和散射光束线实验站的建设与主要设备.利用设备采用X射线反射法,在不破坏样品的情况下得到了Si/C多层膜的结构信息;通过对标准Si粉末样品的FWHM测试表明该站可进行粉末全谱扫描;利用X射线掠入射衍射技术分析了ZnO薄膜的生长条件与结构的关系;采用X射线散斑方法直接观测了弛豫铁电体内部的纳米空间尺度的电极化团簇的空间时间构造.     

X射线衍射数据计算程序的改进及其在无机合成中的应用

对X射线衍射数据计算程序进行改进，并运用改进的XRD程序对本实验室近期合成的几种化合物及文献报道的巯基乙酸锑配合物的X射线衍射数据进行了计算，结果满意．同时，简要介绍运用X射线衍射分析判断新相生成并对其进行表征，探讨制备条件对组成结构的影响，推测反应机理及解决生产中的问题，为制备合格材料提供依据．     

Microsoft Office软件在X射线衍射分析中的应用

通过对Microsoft Office软件在X射线衍射分析应用的探讨,通过笔者长期对X射线衍射数据处理的实践和研究,提出了如何利用Microsoft Office软件强大的数据处理功能进行X射线衍射数据处理和分析。总结出了一些较为有用的操作技巧和技能,对科研领域需要大量处理和分析实验数据的科研人员有极高的参考价值和借鉴意义。     

SrTiO_3薄膜的掠入射X射线衍射研究

采用掠入射X射线衍射技术研究了外延SrTiO3薄膜面内晶格应变随着深度的分布.研究发现不管是较薄的还是较厚的薄膜其面内晶格应变随深度的分布都不是连续变化的,而是可以分为三个区域,即表面区、应变驰豫区、界面区.     

X射线衍射分析的实验方法及其应用

概要介绍了X射线衍射分析的原理及其相关理论,总结了X射线衍射的各种实验方法,对X射线衍射分析的应用分别进行了叙述,最后对X射线衍射分析的发展进行了展望.     

粉末X射线衍射技术在实验教学中的应用

粉末X射线衍射（powder X—ray diffraction,XRD）是一种应用广泛的无损分析测试技术。在实验教学中,通过XRD对样品进行物相分析,使学生了解粉末X射线衍射仪的基本构造和原理,掌握物相分析的方法,有益于激发学生对科研的兴趣和培养他们的科学思维能力。     

PbTiO3-CoFe2O4磁电材料样品库的同步辐射X射线衍射结构分析

用高分辨微区同步辐射X射线衍射研究了PbTiO3-CoFe2O4组合材料样品库晶嵌：结构随成分的变化，发现在80％PbTiO3成分附近存在着一个由外延应力引起的狭窄立方相区．分析表明，正是此相区的存在造成了该区域介电常数、非线性介电常数和磁电系数异常的增大．     

PbTiO3-CoFe2O4磁电材料样品库的同步辐射X射线衍射结构分析

用高分辨微区同步辐射X射线衍射研究了PbTiO3-CoFe2O4组合材料样品库晶体结构随成分的变化,发现在80%PbTiO3成分附近存在着一个由外延应力引起的狭窄立方相区.分析表明,正是此相区的存在造成了该区域介电常数、非线性介电常数和磁电系数异常的增大.     

PbTiO_3-CoFe_2O_4磁电材料样品库的同步辐射X射线衍射结构分析

用高分辨微区同步辐射X射线衍射研究了PbTiO3-CoFe2O4组合材料样品库晶体结构随成分的变化,发现在80%PbTiO3成分附近存在着一个由外延应力引起的狭窄立方相区.分析表明,正是此相区的存在造成了该区域介电常数、非线性介电常数和磁电系数异常的增大.     

合肥国家同步辐射实验室软X射线磁性圆二色实验站建设及其初步应用

介绍了软X射线磁性圆二色谱的基本原理，合肥国家同步辐射实验室软X射线磁性圆二色实验站的主要装置，及其采用的相关技术，包括通过斩波器的同步光圆偏振度的计算及其与光通量的折中处理方法、光束线的主要组成和针对本储存环通量低所作的设计、与该实验站兼容的磁铁设计和采用的样品电流采集方式等，并介绍了各部分达到的性能指标．最后用该实验装置对不同厚度的Co多晶薄膜的自旋磁矩与轨道磁矩进行了初步研究，发现随薄膜厚度增加，样品自旋磁矩逐渐增大，而轨道磁矩逐渐减小．     

薄膜镀层的XRD分析

利用X射线多晶衍射和计算机模拟的方法对薄膜镀层的物相成分、晶粒度大小、膜厚度、粗糙度、膜密度、吸收系数、折射因子进行测试分析,分析结果表明采用此方法对薄膜进行分析准确度高,速度快.     

表面物理光束线和实验站的建设及研究进展

介绍了国家同步辐射实验室（NSRL）二期工程建设的表面物理光束线的设计参量和测试结果，以及实验站的基本配置、调试结果和自对用户开放以来取得的最新研究进展．测试和开放使用结果表明，NSRL表面物理实验站能够满足部分用户开展角分辨光电子能谱实验的需要．     

Hard X-ray diffraction enhanced imaging only using two crystals

Different configurations for the monochromator crystals and the analyzer crystals have been used in hard X-ray diffraction enhanced imaging (DEI) methods to overcome the complex task to adjust each of them to the ideal position. Here we present a very compact DEI configuration, and preliminary results of experiments performed at the Beijing Synchrotron Radiation Facility (BSRF) using only two crystals: the first one acting as monochromator and the second one as analyzer in the Bragg geometry. Refraction contrast images characterized by high contrast and spatial resolution are obtained and compared with absorption images. Differences among these images will be outlined and discussed emphasizing the potential capabilities of this very simple layout that guarantees a high transmission efficiency.     

X射线衍射分析的实验方法及其应用

概要介绍了X射线衍射分析的原理及其相关理论，总结了X射线衍射的各种实验方法，对X射线衍射分析的应用分别进行了叙述，最后对X射线衍射分析的发展进行了展望。     

Influence of crystal materials on the synchrotron X-ray fluorescence analysis: A study of crystal and amorphous clinopyroxene

Synchrotron X-ray fluorescence analyses of crystal and amorphous clinopyroxene were compared. The results showed that using the synchrotron X-ray as a source of energy, the diffraction X-ray of crystal materials will seriously affect the X-ray fluorescence analysis. In order to avoid the influence of diffraction, the best way to solve it is to use the monochromatic source, or to have a collimating slit between sample and Si (Li) detector.     

New-corrected functions of X-ray powder diffraction

X-ray powder diffraction is an indispensable technique to study material structure, phase transition and so on. It is necessary for high quality diffraction data to get high-precision diffraction angle. This work proposed four corrected functions of X-ray powder diffraction angle. Two methods, linearization method and modified Levenberg-Marquardt iteration method, are given to solve the function parameters, and the modified Levenberg-Marquardt method has fast convergent speed and stable solution. Two methods can give closed parameters, including those of Lu, Liu, and Chu functions and polynomial. New-corrected functions were used to fit the diffraction angle error of the tetragonal rutile polycrystalline TiO2 mixed with Gd0.45Y2.55Sc2Ga3O12 as a standard sample, and the computation result indicates that these functions can characterize the diffraction error very well. In some cases, the new-corrected functions can describe the diffraction angle error better than the reported corrected functions. At the same time, the lattice parameter of Gdo.45Y2.55Sc2Ga3O12 was computed with two methods. When the corrected function parameters and lattice parameters were solved by the least square method, the interaction of the function parameters and lattice parameters would result in great error. However, when the X-ray diffraction angles were corrected by corrected functions using a standard sample, the authentic lattice parameters can be obtained by the least square fitting.     

聚丙烯腈原丝微结构的X射线衍射分析

通过X射线二维衍射图像和2θ扫描法对四种不同的国内外聚丙烯腈原丝进行了结构表征,探讨了不同PAN纤维在微观结构上的差异,为深入分析PAN原丝的序态结构和了解其结构性能关系、进一步提高原丝的质量提供了依据。