Mo/Si多层膜的制备及X射线衍射表征

采用磁控溅射方法制备Ｍｏ／Ｓｉ多层膜．通过小角Ｘ射线散射图证明该多层膜是原子水平的,界面清晰,与设计周期基本相同．通过Ｘ射线衍射方法检测了该多层膜的组成和结构,同时对Ｍｏ／Ｓｉ多层膜的位错密度等参数进行定量研究．结果表明,该超晶格的位错密度随周期厚度的减小而增大,晶粒尺寸随周期厚度的减小而减小     

X光照相法测量高温气冷堆燃料微球包覆层厚度

高温气冷堆对燃料微球各包覆层的厚度有严格的要求。测量包覆层厚度常用的方法是Ｘ射线照相法，瓷相磨片法，光学颗粒尺寸分析仪法和Ｖ型槽法。本文描述了用Ｘ射线照相法测量包覆层厚度的测量过程。采用光栅技术，用９８Ｊ型精密测量投影仪对Ｘ光底片进行测量，用微机采集和处理数据。该测量方法的测量重现性好，对一选定的微球重复测量直径２０次，标准偏差１μｍ左右。该测量方法是无损检验，测量精度高，速度快，过程便于监督，适合于燃料微球生产过程中的在线测量。     

整体X光会聚透镜及其在微束X射线荧光分析中的应用

测量了整体Ｘ光会聚透镜的性能，对于Ｍｏ－Ｋα线，透镜焦斑直径为３０μｍ与没有透镜仅使用光栏相比，功率密度增益优于２０００。与功率约为１Ｗ的细聚焦Ｍｏ靶Ｘ光管相配合用于微束Ｘ射线荧光分析时，中重元素的最小探测极限达到０．５ｐｇ。。     

1.5—4.5MeVα粒子引起Lu,Ta和Au L亚壳层电离的研究

以能量为１．５－４．５ＭｅＶ的α粒子轰击Ｌｕ，Ｔａ和Ａｕ靶，测得Ｌ亚壳层Ｘ射线产生截面，利用荧光产额和Ｃｏｓｔｅｒ－Ｋｒｏｎｉｇ跃迁几率等原子参数得到Ｌ亚壳层电离截面，将实验所得Ｌ亚壳层电离截面与ＥＣＰＳＳＲ预言值进行比较，对Ｌ１和Ｌ３亚壳层，理论值与实验结果符合较好。     

由草酸盐先驱物制备尖晶石型化合物MCo2O4

报道了用草酸盐先驱物制备尖晶石型化合物ＭＣｏ２Ｏ４的方法。用热重，Ｘ射线粉末衍射和ＩＲ光谱证实了尖晶石型化合物ＭＣｏ２Ｏ４的形成，由扫描电镜测得最终产品的颗粒尺寸为１－１０μｍ。     

NiTi形状记忆合金表面多层梯度陶瓷膜的制备

在ＮｉＴｉ形状记忆合金表面采用三步法制备了多层梯度钛酸铅陶瓷薄膜。第一层膜采用原位水热法制备，第二层膜以醇热法制备，第三层膜应用溶胶－凝胶法制得。Ｘ射线衍射研究确认最外层薄膜具有四方钙钛矿结构。扫描电子显微镜观察表明，薄膜总厚度约为３μｍ；由里及外三层膜中的晶粒尺寸依次约为０．１μｍ、０．２μｍ和０．３μｍ。在陶瓷膜与记忆合金基体的界面处可观察到明显的根状结构，而且在三层陶瓷膜之间的界面处也观察到     

X射线位置灵敏探测器及在能谱测量中的应用

研制了一种一维Ｘ射线位置灵敏探测器，位置分辨本领好于１ｍｍ，由该探测器与衍射晶体相结合所组成地低以能Ｘ射线能谱测量系统，对于＾５７Ｃｏ，６．４ｋｅＶ的Ｘ射线，其能量分辨本领好于５０ｅＶ。     

X射线衍射仪精确测定点阵常数的研究

Ｘ射线衍射测定晶体点阵常数是基本的实验方法．用普通Ｘ射线衍射仪粉末法测定硅点阵常数，比较了不同测试方法和计算方法，以定点扫描三点抛物线法定峰、ｃｏｓ２θ外推法计算结果最佳．     

meso-四-(4-甲氧基苯基)卟啉的晶体和分子结构

用Ｘ—射线测定了ｍｅｓｏ－四（４－甲氧基苯基）卟啉的溶剂合物（ＴＰＭＰ·ＣＨＣｌ３）的晶体结构。实验表明，该晶体属单斜晶系，空间群Ｐ２１／Ｃ，ａ＝１．４３７７（２）ｎｍ，ｂ＝０．９６７４（７）ｎｍ，ｃ＝１．５６８８（４）ｎｍ，β＝１０１．００（２）°，Ｖ＝２．１４２ｎｍ３，Ｚ＝２，ｄｃ＝１．３２４ｇ／ｃｍ３，μ＝２．６１３ｃｍ－１，Ｆ（０００）＝４４４。讨论了分子结构中的非平面共轭效应及卟啉环与锰（Ⅲ）离子配位后锰（Ⅲ）对其结构参数的影响。     

非晶硅太阳电池的性能与结构参数的关系

在Ｒｉｃｈａｒｄ Ｓ．Ｃｒａｎｄａｌｌ和Ｐｏｒｐｏｎｔｈ Ｓｉｃｈａｎｕｇｒｉｓｔ等人工作的基础上,用平均场区域近似（ＵＦＲＡ）方法,对ｐ－ｉ－ｎａ－Ｓｉ：Ｈ薄膜太阳电池进行了解析分析,得出了电池性能参数随本征层厚度变化的关系。短路电流密度先随厚度的增加而增加,在１μｍ左右达到最大值,而后将减小,但但小得不多,开路电压基本上下随本征层厚度变化。填充因子随本征层厚度一直减小,从厚度０．１μｍ时的０．     

Ｘ射线残余应力的层析扫描测定

针对常规Ｘ射线残余应力测定法和美国Ｘ２００１应力仪测定方法存在的问题,提出了测定低原子序数材料内部三维应力的层析扫描方法,对装置和测定原理进行了讨论,设计出适合于层析扫描测定方法的计算机程序。根据提供的试验数据,能够对这类材料表面及内部任意一点进行全三维应力分析,计算应力及梯度和被测材料的晶面间距,并有一套计算的自我控制机制。     

铍焊件残余应力X射线断层扫描测定法

铍是广泛应用于核能、航空和航天工业的稀有轻金属，作为结构材料，因加工过程而引入的残余应力对其制品的使用将带来不良影响，测定残余应力的大小具有重要的意义。针对传统X射线残余应力检测技术，提出了X射线断层扫描测定法。该方法利用现有仪器，通过改变测定技术和计算方法，可以无损测定铍等轻金属制品表面残余应力及沿层深的分布。采用这一新方法计算了弧形铍焊件焊缝附近表面、距表面0．5mm和1．0mm处的残余应力，同时还计算出铍无应力(103)晶面的面间距d0，结果与根据晶面间距公式计算出的铍（103)晶面的面间距吻合较好。     

单晶体应力测量的X射线衍射分析

采用Hiroshi Suzuki等人提出的多步回归分析方法,结合不对称布拉格衍射,对CdZnTe单晶片的残余应力进行了测量．与传统的单晶体应力测量方法比较,这种新方法可以准确测定平面应力状态下的单晶体应力而不受d0值不可靠所带来的影响。     

New achievements in X-ray optics??the X-ray lens and its applications

An X-ray lens consists of a large number of X-ray capillaries. It can collect divergent X-rays emitted from an X-ray source and form a focused or parallel beam of high intensity. So it is an effective tool for adjusting and controlling wide bandwidth X-ray beams. In this paper, the X-ray lens made by the X-ray Optics Laboratory of Institute of Low Energy Nuclear Physics at Beijing Normal University and its applications in the field of X-ray analysis are presented.     

Al2O3—SiO2（sf）／Al—Si复合材料残余应力的研究

采用Ｘ射线法Ａｌ２Ｏ３－ＳｉＯ２（ｓｆ）／Ａｌ－Ｓｉ复合材料残余应力进行了研究。结果表明Ａｌ２Ｏ３－ＳｉＯ２（ｓｆ）／Ａｌ－Ｓｉ复合材料中存在较大的残余应力;残余应力的大小随纤维含量的增加而增加,且受到纤维分布的影响。在纤维定向增强的复合材料中,残余应力具有各向异性,平行纤维方向的残余应力最大,垂直纤维方向的残余应力最小。     

X—射线衍射直接因子分析法的研究

提出了采用X-射线衍射离散数据进行因子分析以求解混合物中的物相数的新方法，并通过对2～4相模拟混合物的实验测定得到了证实。对方法的原理、误差分析和判据选择也给予了详细的讨论。     

基于能量色散X荧光分析法测溶液浓度

目的 溶液浓度是一项重要的计量参数,溶液浓度测量广泛应用于工业和科学研究等领域。为了快速、准确测量溶液浓度,本文提出了能量色散X荧光分析方法。方法 将配制好的10种三氯化铁溶液作为标准溶液,利用能量色散X荧光分析方法测量出溶液中Fe的特征 X 射线峰峰面积,得到三氯化铁溶液的标准曲线,利用该标准曲线,对5组三氯化铁溶液进行了测量。结果 实验结果表明,三氯化铁的浓度与溶液中Fe元素的特征 X 射线峰的峰面积成较好的线性关系。且对五组三氯化铁待测溶液浓度进行数据分析,结果表明实验测得最大误差为1.74%,其他误差都在1%以内,小于传统的折射率测量误差（大约 3%）。另外,为了进一步分析其精确度,分别计算了浓度梯度差。由梯度差可知,最大梯度差为 3.71%,绝大多数在1%以内,最小为0。结论 该方法具有较高的精确度,且出数据快,随测随得,为快速、准确测量溶液浓度提供参考。     

航空发动机叶片残余应力监测及安全评定研究

针对航空发动机叶片的疲劳断裂问题,采用X射线衍射分析方法,对某型发动机压气机叶片进行了残余应力测试.分析了叶片表面不同部位残余应力随工作寿命和损伤情况的变化规律,探讨了将残余应力应用于叶片使用安全评定的可行性.结果表明,通过监测叶片表面残余应力,可以评估叶片的疲劳损伤状况,解决叶片的安全使用评定问题.     

顶管应力监测与分析方法

以鉴江顶管施工为背景,提出了一种顶管应力监测的方法。通过对该工程应力进行监测,以及对应力监测结果的分析,证实了该方法的可行性。并且通过对应力监测结构对的分析,掌握了顶管施工过程中的应力大小及其变化规律,并为今后相关工程实际提供参考依据。     

铝电解质中物相的定量相分析新方法

介绍了铝电解质物相定量分析的新方法,克服了无标定量相分析方法中的病态方程及较大误差问题。扩大了定量相分析的应用范围,提高了无标定量相分析方法的准确度和精确度。