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相似文献
 共查询到18条相似文献,搜索用时 78 毫秒
1.
介绍基于光散射原理的光纤式表面粗糙度测量仪的原理和结构,研制了一种新型测量仪,其测量范围和测量精度都有很大的提高,并应用于在位钢轧辊的表面粗糙度检测。  相似文献   

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运用激光束在加工表面上的散射原理,通过对国内外现有测量方法及测量仪器的研究分析,提出了利用激光散射原理测量表面粗糙度的方法,这种方法作为表面粗糙度的在线测量具有很好的应用前景.  相似文献   

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介绍了基于光散射原理的光纤式表面粗糙度测量仪的原理和结构.研制了一种新型测量仪,其测量范围和测量精度都有很大的提高,并应用于在位钢轧辊的表面粗糙度检测  相似文献   

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张振中  白宏刚 《山西科技》2011,26(1):89-91,93
系统论述了测量颗粒粒径常用的几种光散射法,分别是衍射法、全散射法、角散射法和光子相关光谱法,对于颗粒粒径测量技术的发展,具有一定借鉴价值。  相似文献   

7.
从理论上对车、镗、铣、刨等加工工件表面光散射场的空间频谱和功率谱与表面粗糙度评定参数Rz和Sm的关系进行了讨论,经过实验研究,提出了一种利用2D-CCD提取谱图信号,经过电子二次电子处理给出清晰谱线,由此确定Rz与Sm的方法。  相似文献   

8.
就表面粗糙度检测的光学测量原理和光学设计中的某些关键技术进行了讨论,对光行传感系统,激光光源的光强波动和背景杂散光干扰的抑制等实际问题进行了一些技术性探索。  相似文献   

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物体表面的反射散射光的强度反映了表面粗糙度的信息 ,即反射散射光的强度与表面的粗糙程度和探测光纤与反射表面之间的距离有关 .利用光纤将被测表面的反射散射光接收 ,测出了反射散射光强度与距离、粗糙度的关系 ,用最佳拟和曲线法计算出 Ra 与光强之间的关系  相似文献   

11.
本文从理论上对光纤传感器测量表面粗糙度时的多种测量误差进行了分析,建立了一种对输出光通量的计算分析方法。在此基础上研制了一种性能较佳的准直型光纤传感器,为深孔测量和“在线测量”表面粗糙度提供了一种新型的光纤传感器。  相似文献   

12.
O 原理简介分子量是聚合物的一种重要物理量,它与聚合物的许多重要物理、化学性质有直接关系。由光在聚合物溶液中的丁铎尔(Tyndall)效应,根据光散射原理,德拜(Debye)提出了光散射强度与聚合物分子量有如下关系:  相似文献   

13.
本文论述了采用多模光纤束非接触测量表面粗糙度的方法;介绍了光纤测试系统主要参数的选取;提出了提高系统分辨率和稳定性的措施;最后给出了研磨制件表面粗糙度的实测结果。  相似文献   

14.
本文论述了光纤式表面粗糙度测量仪研制过程中关键问题的解决方法,对非线性特性的参数计算、零点漂移、信号噪声、不同加工表面特性差异的处理都给出了完美的解决方法。该仪器以光散射理论为测量原理,用光纤为传输媒介,并用单片机8098进行计算、数据处理和测量智能控制。  相似文献   

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激光散射法测量液体表面张力系统的研制   总被引:2,自引:0,他引:2  
在简单介绍表面激光散射法测量液体表面张力原理的基础上,介绍了新研制的表面张力实验测量系统.根据光频外差探测原理设计了实验光路图,增强了干涉信号的强度,使得该系统与其他研究相比使用了较小功率(20 mW)的激光器.为了提高信噪比,采用了信号平均技术,并通过实验确定了最佳采样时间和平均次数.利用乙醇作标准试样对新研制的实验系统进行了校核实验,实验误差不大于±4%,证明该实验系统可以满足流体表面张力测量的要求.  相似文献   

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光学外差法检测超光滑表面粗糙度   总被引:2,自引:0,他引:2  
随着加工技术的发展,超光滑表面粗糙度的测量变得越来越重要.讨论了一种利用光学外差法检测超光滑表面粗糙度测量系统,采用Zeeman效应激光管得到差频光束,提出了新的优化测量光路.该光路仅使用一个半波片改变一路光束的偏振态,不仅克服了以前广泛使用的类似测量系统中光路具有可逆性的缺陷,保证了系统的稳定性,且同时使接收端光束的偏振态方向一致,使干涉信号可见度最大,提高了系统的信噪比和测量精度.采用两光束同心聚焦扫描方法可实现表面粗糙度的绝对测量.光路结构简单,实用性强.通过样品测量研究了本系统的测量稳定性和测量精度.结果表明,系统对表面粗糙度测量精度均方根值小于1nm.  相似文献   

17.
计算光波导边界随机畸变产生的损耗有耦合波理论和边界散射理论两种方法。该文以非对称平板介质波导为例,将这两种方法进行比较,发现虽然它们的原理不同,然而结果是完全相同的。  相似文献   

18.
表面粗糙度二维信息同步测量方法   总被引:1,自引:0,他引:1  
对表面粗糙度的评定参数进行了分析比较,应用Beckmann光散射理论推得同步测定表面粗糙度的振幅信息(轮廓均方根偏差σ)和频率信息(相关长度T)的方法。测得的二维数据能更全面地反映表面粗糙度状况。  相似文献   

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