微晶粒铁电相变的时域介电谱

测量了钛酸锶钡微晶粉粒和硅油固液两相混合物的时域介电谱。得出的5个分量实质上是钛酸锶钡陶瓷和硅油时域介电谱的迭加，清楚地给出了微晶粒的铁电相变讯号。     

W-K合金的正电子湮没寿命谱研究

正电子湮没技术（PAT）是一种无损的材料探测技术,它可以反映正电子所在处电子密度信息,而电子密度信息能反映材料内部微尺寸变化,正电子对于纳米尺寸缺陷的变化非常敏感. 本文用正电子湮没技术中的正电子湮没寿命谱分析技术（PLAS）,对WK混合粉体在不同温度和压强条件下烧结后的微尺寸缺陷变化进行了分析,表明压强对于WK合金的缺陷变化没有明显的影响,而WK合金的微尺寸缺陷随温度有明显变化.     

Fe-基形状记忆合金不同预应变量下的正电子湮没寿命谱研究

利用正电子湮没寿命谱研究了几种不同成分Ｆｅ基形状记忆合金预应变过程中缺陷结构的变化，并讨论了这一变化对合金形状记忆效应的影响     

高温超导体YBaCuO光掺杂效应的正电子寿命谱研究

报道了YBaCuO高温超导体进行光掺杂的基本情况,提供了正电子寿命与光掺杂量之间的变化关系,讨论了光掺杂机理,并将实验结果与理论模型进行了对比.     

高温超导体YBaCuO正电子寿命谱源修正的研究

本以高温超导体YBaCuO为研究对象，以对高斯函数进行卷积的数学模型为基础，系统地研究了正电子寿命谱的数学迭代过程和拟合方法，阐明了源修正的重要意义，并给出了源修正的一种方法及其重要结果。     

测量具有较长寿命的任意样品的寿命谱确定正电子湮没谱仪分辨函数的方法研究

本文在研究高斯拟合６０Ｃｏ分辨程序物理的基础上，进一步阐明通过测量具有较长 寿命的任意样品的寿命谱，确定正电子湮没谱仪分辨函数的方法．     

HIPS的γ辐照交和应的正电子寿命谱研究

测量了高强度聚苯乙烯的正电子寿命谱随／γ辐照剂量的变化，观察到自由体积孔洞的平均半径随辐照剂量的增加而基本不变，自由体积孔洞的浓度和半径分布宽度随辐照剂量的增加而减少，这一实验结果表明，γ辐照后高强度聚苯乙烯力学性能的改善与自由体积特性的变化相关联。     

亚硝酸钠多晶与粉末中铁电相变的研究

对NaNO 2粉末与多晶材料的复介电常数随温度的变化情况进行了讨论,并研究了其铁电相变过程.结果表明：1）高温（420K以上）低频（100Hz以下）条件下,NaNO2粉末及多晶材料复介电常数的变化主要是由离子扩散引起的.而高频（105Hz,106Hz）复介电常数实部的值在相变温度附近基本与频率无关,能够反映材料的极化和结构信息.2）在443K～450K范围内, NaNO 2粉末样品的激活能U为0.70eV,NaNO 2多晶的激活能U为1.58eV,NaNO 2多晶的激活能要大于NaNO2粉末的激活能,这说明NaNO2粉末与多晶中离子扩散可能起源于材料的本征缺陷.3） NaNO2粉末中铁电相变在复介电常数曲线上的表现比NaNO2多晶明显;临界温度Tc以上437K至440K范围内,NaNO 2多晶的复介电常数实部随温度的变化曲线偏离居里-外斯定律,说明该铁电相变过程中存在反常现象,这一现象与NaNO 2单晶的结果相吻合.     

Ba_3NaLaNb_（10）O_（30）晶体的物性研究

Ｂａ３ＮａＬａＮｂ１０Ｏ３０晶体具有四方钨青铜型结构，室温时的空间群和点群分别为Ｐ４／ｍｂｍ和４／ｍｍｍ，晶格参数ａ＝ｂ＝１２．４７１２Ａ，ｃ＝３．９３５０Ａ．介电、铁电等测量结果表明，该晶体在２８０Ｋ附近有一弥散性很强的铁电一顺电相变，其弥散性指数γ＝１．８．低温２００Ｋ时的ＸＲＤ显示它的低温相为四方相，点群为４ｍｍ点群．     

钼酸钆晶体的结构及喇曼光谱研究

全面介绍了钼酸钆晶体的结构及相变情况;对其常温喇曼光谱进行了测试和详细分析,对各谱峰进行了识别和指认,指出实验中仅能观察到两条MoO4^2-离子的对称伸缩振动谱线是因两种Mo-O键长相近的MoO4^2-离子振动模的简并造成的,反对称伸缩振动模式大的光谱分裂范围是因晶胞中MoO4^2-离子数目较多和较强的层间耦合造成的。     

La_（3－x）／2Ba_（（3－x）／2）Ca_xCu_3O_y超导体正电子寿

用ｘｔ子寿命谱方法研究Ｃａ局域替换Ｌａ（３－ｘ）／２Ｂａ（３－ｘ）／２ＣａｘＣｕ３Ｏｙ中的Ｌａ和Ｂａ引起的电子结构变化；并结合氧含量和转变温度的测量，分析了电子密度增加的原因．实验表明，随着Ｃａ含量的增加，体系正常态的正电子寿命明显减小，这表明正电子探测的电子密度增加．     

SAG法Ba_（1－x）Sr_xTiO_3的介电性质

ＸＲＤ法分析和介电测量结果表明，ＳＡＧ法Ｂａ１－ｘＳｒｘＴｉＯ３（ｘ＝０、０．３、０．５和０．７）微粉和陶瓷的室温结构为立方相．其居里温度明显低于相应Ｂａ１－ｘＳｒｘＴｉＯ３晶体或常规工艺陶瓷的值，但居里温度仍随着Ｓｒ２＋含量的增加而线性下降．晶粒含杂质Ｆｅ３＋以及表面富钡可能使其晶格立方化，从而使居里温度下降以及三方－正交和正交－四方铁电相变消失．     

K2SO4-(NH4)2SO4-H2O三元体系溶解度测定及应用

对35℃条件下K2SO4-（NH4）2SO4-H2O三元体系的相平衡进行了测定，并绘制了等温相图，结果表明，该体系是一个含有（H，NH3）2SO4固溶体的体系，在此基础上进一步分析了两种提高固溶体中K2SO4含量的方案，可为工业化生产提供参考。     

pH电位滴定法同时测定H2SO4和（NH4）2SO4

将多元线性回归法应用于ｐＨ电位滴定中，提出了Ｈ２ＳＯ４和（ＮＨ４）２ＳＯ４混合液中各组分同时测定的方法原理，讨论了回归方程及最佳实验条件。对合成样品进行了测定，得到较满意的结果     

用热重法研究硫酸铵及硫酸铵与氯化钾体系的热分解行为

用非等温热重法测定了硫酸铵及硫酸铵与氯化钾体系的热分解动力学参数,实验数据以Ｃｏａｔｓ－Ｒｅｄｆｅｒｎ法处理得到硫酸铵第一步反应的活化能为Ｅ＝１２２．９ｋＪ／ｍｏｌ,频率因子Ａ＝６．６９５×１０９Ｓ－１,第二步反应的活化能为１９５３ｋＪ／ｍｏｌ,频率因子Ａ＝１．３５９×１０１３Ｓ－１;硫酸铵与氯化钾体系第一步反应的活化能为６５３３ｋＪ／ｍｏｌ,频率因子Ａ＝３．０２３×１０４Ｓ－１,第二步反应的活化能为１９１５ｋＪ／ｍｏｌ,频率因子Ａ＝２．９８２×１０１５Ｓ－１。     

PLZT(7/40/60)薄膜介电驰豫特征的研究

利用溶胶-凝胶技术制备PLZT薄膜,对样品进行X射线衍射和高频介电谱测试,结果表明:薄膜为钙钛矿结构,呈现[110]择优取向,100 MHz介电温谱显示该薄膜具有弛豫铁电体特征,介电频谱表明PLZT薄膜具有介电弛豫特征,体现温度弥散特性,通过理论拟合Cole-Cole曲线得到弛豫时间的分布函数,结合弛豫铁电体特性,时介...     

Nd_xBi_(2-x)Ti_4O_(11)体系的喇曼光谱及软模行为的研究

本文合成出了系列样品Nd_xBi_(2-x)Ti_4O_(11),得到了它们在常温常压下的溂曼光谱。实验结果表明,体系在x=0.3和1.2处经历了两次相变。且第一次相变与最低频声子模随Nd~(3+)的浓度x“软化”有关。