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相似文献
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作者用热壁外延方法在(100)GaAs衬底上生长Zn_(1-x)Mn_xSe拉半磁半导体薄膜,并用X射线衍射(XRD)、喇曼散射、俄歇电子能谱(AES)等技术对薄膜性能作了研究.实验结果表明已成功地生长出(100)Zn_(1-x)Mn_xSe单晶薄膜,其中x最大达到0.17.  相似文献   

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首先叙述了双层(BiAl)YIG薄膜的生长及层间晶格失配情况,测量了与膜面法向成任意角度磁化的铁磁共振谱,铁磁共振场和线宽随磁化方向的变化与单层膜明显不同,用薄膜层间磁耦合解释了这种薄膜的铁磁共振线宽的非均匀增宽和共振波谱出现的异常现象,计算出的层间磁耦合系数与磁化方向有关。  相似文献   

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绝缘衬底上高质量亚微米厚硅单晶膜的获得对于制成高速度、高集成度、低功能和抗辐射的集成电路十分重要.蓝宝石上外延硅膜的生长和其CMOS/SOS集成电路的研究已为国内外学者所重视.  相似文献   

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利用脉冲激光沉积在YSZ[100]基底上同质外延生长不同组分的YSZ薄膜.研究发现,当生长温度为300℃时,薄膜为非晶态,而在温度为650℃时,掺杂10%氧化钇(摩尔分数)的YSZ具有立方结构,而掺杂6%和8%氧化钇的YSZ薄膜同时具有立方和四方结构.通过调控生长工艺条件,以及利用具有不同组分的薄膜与基底来构造不同的应变状态,可以制备具有不同结构的YSZ外延薄膜.  相似文献   

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La0.7Ca0.3MnO3巨磁阻薄膜具有广泛应用前景的磁学材料,薄膜样品在外磁场下观察到较大的负巨磁阻效应。运用高分辨电子显微镜研究了巨磁阻薄膜的生长机制,确定了薄膜好的外延生长关系,并对薄膜界面的结构与缺陷进行了探讨。  相似文献   

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使用MOCVD生长技术,在n型及半绝缘衬底上生长了InP外延层,通过对迁移率和低温光致发光,光反射谱的分析,得出了样品纯度与有关生长条件的关系。  相似文献   

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铁电材料中的畴壁因具有不同于电畴内部的能量及极化分布情况而具有特殊的电磁性能.随着电镜技术的发展,铁电薄膜畴壁的导电性日益受到广大科研工作者的关注.畴壁导电是指在绝缘的铁电体材料中,在一定条件下畴壁充当导体传导电流.此传导电流不同于畴结构发生翻转时产生的位移电流.目前越来越多的实验已经探测到多种铁电材料畴壁中的传导电流,但其导电机理在理论上一直没有达成共识.该文采用相场理论模拟二维铁电薄膜的畴壁,通过在薄膜表面施加均匀电场,构造180°畴壁,然后在畴壁处加载局部电压,从理论上研究畴壁的导电性.结果发现:由于电场的施加,畴壁处电势比畴内电势高,载流子聚集在畴壁处;在畴壁处加载局部电压得到电流,畴壁处的电流值随着加载的局部电压值增大而增大.  相似文献   

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利用Monte Carlo方法对薄膜生长过程进行了计算机模拟,研究了在有缺陷的基底下,沉积粒子的能量和入射率对薄膜生长的影响.通过模拟发现,随着沉积粒子的能量提高或入射率的降低,沉积在基底上的粒子逐步由各自独立的离散型分布向聚集状态转变形成岛核.分析表明,这些变化是由于能量粒子的介入使得表面粒子的扩散能力增强,而入射率越小,每一步中对应粒子的扩散时间就越长,所以大量粒子能够充分扩散.  相似文献   

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Co/Ti/Si三元薄膜固相反应外延CoSi2过程实验研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
CoSi2是近年亚被活跃研究的一种微电子导电薄膜材料,采用Co/Ti双层及TiN/Co/Ti多层结构,通过不同热处理工艺,可以形成CoSi2/Si异质外延结构。通过XRD,AES,RBS,四探针等测试,研究了CoSi2外延生长时,Co,Ti,Si,O原子的互扩散过程,阐述了Ti在些过程中的重要作用。  相似文献   

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以酒精为碳源,用热丝CVD法,对不同表面状况的Si衬底作金刚石沉积比较.讨论了薄膜的成核、生长机制,认为CH_2是成核的主要气相种类,H原子直接参与了成核和生长,它们在薄膜沉积中起了极为重要的作用.解释了毛糙表面的Si衬底上金刚石易成核的现象.  相似文献   

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镜面抛光硅衬底上金刚石薄膜的生长   总被引:1,自引:0,他引:1  
在镜面抛光硅衬底上加负偏压,利用微波等离子体化学气相沉积方法生长金刚石薄膜。通过改变偏压成核阶段的不同条件制备出一系列样品,与直接在镜面抛光硅衬底上不加偏压直接生长的金刚石膜相比,成核密度明显提高,可达4×10^9cm^-2。  相似文献   

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报道了新一代紫外光源-激发态双分子(Excimer) 紫外光源在制备金属薄膜材料方面的应用研究。金属钯是一种优良的催化剂,首先在各种衬底如Al2O3、AIN、玻璃以及聚合物等上面淀积靶的金属有机化合物薄膜,通过紫外分解钯的金属有机化合物,形成数埃到十几埃的钯膜,然后再利用钯的催化效应,在无电极电镀液中沉积出几十纳米到几微米厚的各种金属薄膜(如Cu、Au、Ni等)。  相似文献   

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通过非平衡磁溅射方法和发迹衬底温度,在单晶Si(001)衬底上制备了氮化碳薄膜材料。实验结果表明,氮经碳薄膜的沉积率,氮原子质量分数皆与衬度温度有关。薄膜中的氮原子与处于sp^2和sp^3杂化状态的碳原子相结合。  相似文献   

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采用非平衡磁溅射方法,在不同衬底偏压条件下,在Si(001)衬底上制备出氮化碳薄膜,实验发现,氮化碳薄膜的沉积率取决于衬底偏压。通过对红外、电子能量损失谱的测试分析发现,衬底偏压对氮化碳薄膜中原子间的键合情况也有一定影响。  相似文献   

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La0 7Ca0 .3MnO3巨磁阻薄膜是具有广泛应用前景的磁学材料 ,薄膜样品在外磁场下观察到较大的负巨磁阻效应 .运用高分辨电子显微镜研究了巨磁阻薄膜的生长机制 ,确定了薄膜良好的外延生长关系 ,并对薄膜界面的结构与缺陷进行了探讨 .  相似文献   

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