CMOS电路电流测试技术研究

集成电路的设计与测试是当代计算机技术研究的主要问题之一。CMOS集成电路测试技术,受到人们的广泛关注。本文介绍了CMOS集成电路测试技术基本原理和关键问题,探讨了电流测试的研究进展及现状,并提出了该技术的研究方向。     

基于蚂蚁路径的IDDT测试生成

始于90年代的瞬态电流测试（IDDT Testing）法可以检测出传统的电压测试法和稳态电流测试法所不能检测出的集成电路故障。瞬态电流测试产生需要一次产生两个或两个以上向量。其测试向量产生比较复杂,寻找高效的测试向量产生算法对提高测试效率具有重要意义。提出了一种基于模拟测试的蚂蚁路径瞬态电流测试产生算法。通过蚂蚁算法的自适应与正反馈的特点,寻找出一条测试集成电路故障的最佳路径,该算法思想简单,易于实现。通过SPICE模拟验证表明测试产生的结果是有效的。     

一种压缩向量对测试集的新方法

通过施加一个测试向量对,瞬态电流测试可以检测出CMOS数字电路中的某些故障,这些故障通常（例如开路故障）不能被传统的电压测试和稳态电流测试有效地检测出来。研究如何有效地压缩向量对测试集与通常的测试向量压缩一样,意义十分重要,但目前人们对此研究得较少。首先使用三种现有的游程编码方法对向量对测试集进行压缩,并比较它们的压缩结果。在此基础上．提出了一种更好的压缩方法。采用新方法对几个ISCAS标准电路的开路故障向量对测试集进行压缩,实验证明压缩效果比三种游程编码方法都要好。而且,新方法的解码代价非常小,适合压缩大型电路的开路故障测试集。     

CMOS 存储器中地址译码器的开路故障及测试

对 CMOS存储器中地址译码器的开路故障进行了分析和分类 ,得出了其中有一类开路故障不能用常用的测试算法可靠的测试出 ,给出了测试该类开路故障的测试方法以及针对该类开路故障的容错性设计方案     

无线传感网络在瞬态温度测试中的应用

针对爆轰过程中火球温度高、变化快,测试条件恶劣的情况,运用无线传感网络技术和存储测试技术,设计了一种基于ZigBee的瞬态温度存储测试系统。在1.5 kg温压炸药测试试验中该系统可靠地捕获了全部有效数据,采用Q准则评价了爆轰过程中炸药的热辐射毁伤效应。     

变量分离法在传输线瞬态分析中的应用

提出一种用于分析高速集成电路系统中互连线的瞬态响应的变量分离法 该方法利用Chebyshev展开式逼近传输线电压和电流变量 ,使时、空变量分离 ,化偏微分方程为常微分方程 ,由此建立了分析传输线的时域模型 介绍方法的基本原理 ,分析实际应用中的精度和误差 ,并给出相应的等步长技术的应用 ,最后给出几个实例 结果表明 ,本方法模型简便实用、计算效率和精度良好 ,方法适用面广 ,不仅适用于多导体传输线系统 ,而且也能容易地应用于非均匀传输线系统     

基于蚁群算法的细胞自动机优化及其在电路测试中的应用

细胞自动机在电路设计、计算机安全等领域有广泛的应用.首先通过使用蚁群算法实现对细胞自动机结构的优化配置,从而产生具有较强随机性的伪随机数序列;其次,把细胞自动机应用于数字电路的测试,利用经优化后的二维细胞自动机来生成测试矢量.实验结果表明,经过蚁群算法优化之后得到的细胞自动机能够产生随机性较强的伪随机数序列,在数字电路测试的应用中能够提高故障覆盖率.     

模拟退火算法在低功耗BIST中的应用

提出了应用模拟退火算法在一定长度的测度矢量集中寻找有效测试矢量的近似最优分组，在尽量减少面积开销的同时减少有效测试矢量的个数，并且通过置入种子的方法使LFSR产生近似最优分组的矢量，因此在保障故障盖主的前提下达到了降低测试功耗的目的。实验表明，采用此方法可降低测试功耗70％以上，而故障覆盖维持不变，此外，由于减少了测试矢量，测试时间也大为缩短，在实时系统中，减少测试时间尤为重要。     

FPGA在集成电路瞬态特性测试中的应用

通过一个典型的二阶系统为例介绍了FPGA在电路瞬态特性测试中的应用.系统以Xilinx公司的EXCD-1开发板为控制核心,由FPGA模块、键盘输入模块、液晶显示模块、数模转换模块、模数转换模块等功能模块组成.在设计方法上采用SOPC技术,大大提高了系统设计的灵活性和稳定性.本测量系统结构简单,并进行了抗干扰设计,使其具有较好的抗干扰能力,保证系统可靠工作.     

用于IDDT测试的BIST测试向量生成器

检测CMOS电路中的开路故障通常需要使用测试向量对。内建自测试（BIST）作为一种有效的测试技术可以大大地降低测试开销。设计一种用于IDDT测试的BIST测试向量生成器,它随机产生跳变数为1-2的测试向量对。实验证明。它能以较少的测试向量对检测出比较多的故障。     

基于改进的自适应遗传算法HCGA的测试数据自动生成

针对软件测试数据的自动生成,提出了一种自适应遗传算法和爬山算法相结合的改进算法HCGA. 通过设计自适应交叉和变异算子,加强了遗传算法的前期全局搜索能力;在进化后期嵌入了爬山算法,提高了局部搜索能力. 实验结果表明,该算法在测试数据的自动生成上优于遗传算法,提高了效率.     

一种基于遗传算法的自动组卷算法

对传统遗传算法进行改进,提出了一种基于遗传算法的分段十进制编码,采用分段的单点交叉操作,对于个体而言,实现的是多点交叉操作,最后提出了相应的组卷算法.     

基于遗传算法的测试数据自动生成研究

分析了遗传算法在测试数据自动生成中的应用,提出了一种新的数据输出的方法,并通过实验,证明了该方法的优越性。     

基于形式规约的软件测试用例自动生成技术研究

在Hierons提出的一种基于Z语言软件自动测试方法的基础上进行了拓展．该方法基于软件的Z语言规约;以HierOns提出的推理规则为基础,提出了分裂树的算法,将操作模式的约束条件转换为形如ViPi∧Qi的析取范式;然后根据析取范式将Z语言描述的操作模式划分为子操作模式;依据子操作模式的前置条件和后置条件,将子操作模式作为状态转换图的转换关系,构建了被测试软件的状态转换图;依据状态转换图,提出了相应的状态覆盖准则、转换关系覆盖准则和转换关系谓词覆盖准则等测试数据选择准则．     

基于最优神经网络的电路测试方法研究

在数字电路最优神经网络模型的基础上,研究基于该模型的电路测试生成方法.首先获得了多输入基本门电路的最优神经网络能量函数的一般表达式,然后对这种测试方法的原理、实现步骤、以及加速测试的措施等进行了详细研究.结果表明以最优神经网络模型为基础的电路测试方法在测试生成的速度方面快于其它类似方法,如基于Hopfield神经网络的电路测试生成,具有较好的应用潜力.     

基于分解等价的时序电路测试生成算法

针对集成电路的规模和复杂程度不断增加而相应的测试却越来越困难且费时的问题,提出了一种基于分解等价的时序电路测试生成算法。此算法通过引入分解等价以避免进入已搜索的测试码解空间,缩小了测试码搜索空间,大大提高了测试生成效率。在ISCAS’89国际标准电路上的实验结果表明了本算法的可行性。     

基于遗传算法的组合测试用例生成研究

对遗传算法的种群规模、选择策略、迭代策略等环节进行了研究,设计实现了一种实用的基于遗传算法的组合测试用例生成算法,具有用例生成速度快、用例集最小化的特点.     

电路测试的可区分故障算法研究

研究一种基于人工神经网络的能区分故障的数字电路测试生成方法,该方法利用电路基本逻辑门的特性和神经网络模型的特点,首先建立测试生成的神经网络模型,然后通过求解网络能量函数的最小值点获得给定类型故障的测试矢量,其研究结果在可区分故障的测试生成方面提供了一种可能的新途径