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1.
大脑前扣带皮层神经元的NR2B受体在恐惧记忆形成中的作用
《中国基础科学》
2005,7(6):53-53
中科院物理所北京凝聚态物理国家实验室(筹)方忠和姚裕贵,利用第一性原理方法计算了半导体和简单金属的自旋霍耳电导率,发现内秉自旋霍耳电导率具有丰富的符号变化,这一点与外秉自旋霍耳效应有着本质上的不同,这个属性有可能被用于分辨自旋霍耳效应的内秉和外秉机制。他们并预言简单金属钨和金具有较大的自旋霍耳效应且符号相反,同时发现强散射并不会抑制这两种金属中的自旋霍耳效应,也就是说在强散射情形下自旋霍耳电导率仍然具有较大的值,这使得它们有可能是一种潜在的可应用于自旋电子学器件中的材料。
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