反正切垂直磁化单极型磁头读出波形分析

本文对垂直磁记录方式的读出过程进行了理论分析.考虑到垂直磁记录方式的记录位长远小于单极型磁头厚度,在不计及漏磁的情况下,用镜像法推导了单层膜孤立反正切垂直磁化单极头读出波形电压表达式.分析表明,头盘结构参数对读出电压、读出分辨率等因素具有直接影响.     

一类具有垂直传播的疟疾模型的渐近性态

研究了一类具有垂直传播的疟疾SIR-SI模型,探讨了垂直传播在疟疾传播过程中的影响.利用下一代矩阵的方法给出了系统的基本再生数,并且借助基本再生数和单调迭代动力系统理论分析了系统的动力学性态.结果表明,垂直传播率越高,疾病的传播风险越大.     

涡虫再生过程中乳酸脱氢酶同工酶变化分析

采用聚丙烯酰胺不连续凝胶垂直板活性电泳技术,分析了涡虫切割后再生过程中乳酸脱氢酶同工酶的变化.结果表明:在涡虫去头后再生(第1 d至第7 d)过程中乳酸脱氢酶的表达存在差异,同一种酶在再生不同时期表达量不同,不同种酶在同一时期的表达量也不相同.     

一种用于除湿溶液的新型太阳能耦合再生系统

为了提高太阳能溶液再生系统的运行可靠性,提出了一种用于溶液除湿空调系统的新型太阳能溶液耦合再生系统.分析了该系统的工作原理,建立了该系统的耗能模型,并与传统太阳能溶液热再生系统进行了对比研究.研究结果表明,在2种运行模式下,太阳能耦合再生系统与太阳能热再生系统相比具有较大的节能优势.在太阳能耦合再生系统运行模式下,太阳能集热/再生器出口处溶液浓度对太阳能耦合再生系统耗能的影响最大.在系统设计过程中,应将太阳能集热/再生器出口处溶液浓度设计得尽可能小.此外,太阳能集热/再生器的再生效率对太阳能耦合再生系统的耗能也有较大的影响.     

基于系统辨识的垂直/短距飞机垂直起降过程升力损失建模

采用系统辨识的方法对垂直/短距飞机垂直起降过程中的升力损失问题进行建模和计算.与传统的机理建模结合经验公式估计升力损失的建模方法相比,该方法解决了复杂结构垂直/短距飞机机理模型参数选取困难和落压比随喷射气流变化的问题,提高了模型可信度与适用性.完整的辨识系统由六分量天平、应变力传感器阵列、飞控系统和地面站组成,根据系统的输入输出辨识垂直起降过程升力损失模型.     

再生喷射燃烧过程中高频压力振荡的分析

该文利用逆向式再生环形喷射燃烧装置，研究了伴随再生喷射燃烧过程所出现的高频压力振荡以及各种条件对压力振荡的影响，并且分析了压力振荡产生的原因．     

高面密度垂直记录交叉方位角记录方式研究

研究了垂直记录单极型磁头的偏道特性及串音特性。在此基础上，提出了一种利用交叉方位角记录方式，减小实际记录道宽，消除保护带，从而充分利用磁盘记录媒体表面的新方法，在实现高道密度磁记录的同时，提高记录面密度。为实现这一目的而设计制作的双道方位角磁头，用于软盘系统，比相同宽度的普通头提高道密度一倍以上。     

再生顶板下巷道布置及支护离散元模拟

为确定再生顶板下巷道掘进合理位置及支护形式,考虑再生顶板的形成过程及特点,以UDEC数值模拟为主要研究手段,采用voronoi块体划分方法,建立了再生顶板下巷道布置及支护模型,分别对再生顶板下不同位置、不同留顶厚度及不同支护形式下的巷道开挖进行了模拟.结果表明:再生顶板下巷道顶板中的垂直应力一般小于原岩垂直应力,平均为原岩垂直应力的0.6倍;再生顶板下巷道布置宜选用内错布置,内错距离为3~6 m;巷道合理留顶厚度为0.8 m以上;巷道支护形式宜采用锚杆与架棚及喷浆联合支护,必要时可进行超前注浆加固.     

多方向耦合振动连轧机再生颤振建模及应用

为了研究连轧机的再生颤振机理,首先综合考虑轧制过程中的轧辊弹性压扁和轧件加工硬化效应的影响以及轧机工作辊的振动所造成的轧制辊缝在垂直和水平方向的变化,建立新的动态轧制过程模型,将该模型与多方向耦合振动的轧机结构模型结合,建立单机架轧机振动模型,而后对机架间的张力耦合和轧件厚波动在机架间的有时滞传递进行表征,建立新的多方向振动耦合的连轧机再生颤振系统模型。以所建立的模型为基础,根据劳斯判据和积分值检验法分别对典型五机架冷连轧机每个单机架系统和多机架耦合的再生颤振系统进行稳定性分析。研究结果表明:所建立的再生颤振模型正确。     

谐振式光纤陀螺中全保偏环形谐振腔的研究

对谐振式光纤陀螺中全保偏环形谐振腔及其定向耦合器进行了理论和实验研究,推导了谐振条件的解析表达式,并分析了谐振腔基本参数对谐振特性的影响。通过压电陶瓷对光纤谐振腔进行调制,记录输出特性曲线,得到了保偏环形谐振腔的谐振特性。最后给出了实验结果及测试曲线。并提出了在谐振系统中应加以解决的问题,为下一步系统的工作奠定了理论及实验基础。     

反正切垂直磁化MR头读出波形的理论分析

目前温式磁盘机的位密度已达20kbPI～50kbPI;道密度可达1000TPI～2000TPI.进一步提高面密度特别是道密度还有很大的发展潜力,但一个主要障碍在于传统的感应式磁头读出的信号的信噪比随着道密度的进一步提高而过分微弱,MR头是能满足高密度记录的新型磁头.磁阻材料用于磁头中检读信号首先是由Hunt提出的.近几年来,国外对MR头的实用化进行了许多研究.而到目前为止,国内尚未研制出实用的MR头.本文对数字磁记录中MR头的读出过程进行了理论分析,为MR头的研制提供了一定的理论依据.     

垂直磁记录薄膜交换耦合作用及开关场分布的测量

采用Lakeshore7407型振动样品磁强计,以Co-Pt垂直磁记录薄膜为例,详细介绍了垂直薄膜等温剩磁(isothermalremanentmagnetization,IRM)曲线、直流退磁剩磁(directcurrentdemagnetizationremanence,DCD)曲线的测量方法和退磁因子的计算方法,并给出根据退磁场修正后的IRM和DCD曲线计算垂直磁记录薄膜曲线和开关场分布(SFD)的方法.最后详细讨论了薄膜的微观组织和易磁化轴取向分布对退磁场、交换耦合作用和SFD的影响.结果表明:退磁场的存在使得直接测量得到的晶粒间交换耦合作用偏小,开关场分布宽化;影响晶粒间交换耦合作用的内在原因是介质的微观组织和易磁化轴的取向分布.     

量子点磁化动力学行为的研究

利用Monte-Carlo方法研究磁性量子点阵列在不同交换耦合常数Jex、偶极相互作用常数D和磁各向异性常数K下的磁化曲线及自旋组态.模拟结果表明,对于不同的Jex和D,系统表现出不同的磁化行为和自旋组态;当Jex=0.0,D取小值时,量子点阵列的磁性基本保持了孤立原子团的磁特性,矫顽力随温度变化关系与单个的磁性原子团的相似,在低温区,矫顽力随温度的增加急剧减少;在中间温区,出现矫顽力极小;在更高温区,矫顽力随温度的增加而减少.     

检测磁盘机磁头空气支承动态特性的新方法

本文叙述测定磁盘机中空气支承动态特性的一种新方法。由于组成空气支承的磁头/磁盘之间的间隙很小(0.1μm至1μm),过去所采用的测试方法或者需要贵重的设备,或者得改变磁头或磁盘的本来结构。作者所采用的方法则将磁头本身所具有的读/写线圈也用作为头/盘间隙变化的传感器,这是根据磁学的 Wallance 公式发展起来的。即磁头读出信号的幅值将被间隙的变化调制,对这种 AM 信号的解调所得的信号就代表了这种间隙的变化。本文除简要地叙述这种测量方法原理外,还介绍了实验装置及实验结果,证明了这种测试方法具有简单易行、频响特性高、精度高等明显优点。     

以废旧电池为原料水热法制备Cu2+掺杂锰锌铁氧体研究

以废旧锌锰电池为原料,采用水热法制备铜掺杂纳米晶锰锌铁氧体,采XRD,TEM和VSM就铜掺杂量对纳米晶锰锌铁氧体的相结构和磁性能进行了研究.结果表明:铜掺杂的摩尔分数为0％～2％时,均可制得具有尖晶石结构的纳米晶锰锌铁氧体.最佳掺杂量为1％,此时铜掺杂锰锌铁氧体的饱和磁化强度Ms为74.03 emu·g-1,矫顽力为4...     

废旧锂离子电池溶胶-凝胶法制备钴铁氧体研究

利用废旧锂离子电池溶解液为原料,以硝酸为溶解酸,柠檬酸铵为凝胶剂,采用溶胶-凝胶法制备出钴铁氧体,并对制备条件进行了优化.借助于XRD,SEM,EDS和VSM等手段分别对产品的晶态、形貌、组成和磁性能进行了表征.结果表明:以硝酸作溶解酸溶解锂离子电池,采用柠檬酸铵为凝胶剂,凝胶化过程中pH=6.50时,所得产品具有较好的磁性能,此条件下制得产品的饱和磁化强度Ms为76.43A.m2.kg-1,剩余磁化强度Mr为38.57A.m2.kg-1,矫顽力Hc为105.23kA.m-1.     

退火温度对MnZn铁氧体薄膜性能的影响

采用射频磁控溅射法在Si(111)基片上沉积了MnZn铁氧体薄膜,用X射线衍射仪(XRD)分析薄膜的物相结构,用振动样品磁强计(VSM)测量薄膜面内饱和磁化强度Ms和矫顽力Hc。结果表明:随着退火温度的升高,MnZn铁氧体薄膜的X射线衍射峰强度逐渐增强,且主峰逐渐由(311)峰变为(222)峰,沿(111)面取向生长明显。薄膜的饱和磁化强度和矫顽力均随着退火温度的升高而升高。     

PrCo1-xMgxO3 纳米晶的制备及磁学性质研究

采用Sol-Gel法制备了PrCo1-xMgxO3稀土复合氧化物纳米晶，用SEM观察了其微粒的大小及形貌．用XRD进行了物相及烧成温度分析，确定其为钙钛矿立方型结构．用7404型振动磁强计（VSM）测定了其矫顽力、磁滞回线、饱和化强度（Ms）和剩余磁化强度（Mr），确认PrCo1-xMgxO3的磁学性质随x的变化规律．     

用VSM测量结果计算Bi系超导体的（2223）相含量

用ＶＳＭ－５５型振动样品磁强计，对Ｂｉ系超导样品在液氮温区８０Ｋ时进行磁测量，发现磁滞回线在Ｈｃ１＜≈Ｈ＜＜Ｈｃ２范围内是可逆的，据此计算了样品中的（２２２３）相含量，通过与Ｘ－ｒａｙ衍射分析结果比较得知，此方法非常适合于Ｂｉ系（２２２３）相含量高于８０％的样品。