玻璃熔融X射线荧光光谱法测定萤石中各组分

采用X射线荧光光谱法,使用PANalytical MagiXPm顺序型X射线荧光光谱仪测定萤石中的F、Ca、Si、P、S、Fe、K、Na等8个元素．以元素的Kα线为分析线,分析结果的精密度、准确度高,分析速度快。     

X射线荧光光谱法测定氢氧化镁中杂质含量

为测定氢氧化镁中杂质元素含量,采用X射线荧光光谱(XRF)法进行重复性和准确性试验.结果表明,XRF法具有快速、无损、多元素同时测定、检测元素范围广等特点,重复性较好.XRF法测量结果与化学方法和电感耦合等离子体发射光谱(ICP)法的测量结果接近,准确性较好.     

X射线荧光光谱法测定水中痕量金属

对X射线荧光光谱法进行了改进,以使其能够同时测定分析水中的多种金属(Fe,Mn,Cu,Zn和Pb).用二乙基二硫代甲酸钠(DDTC)和1-(2-吡啶偶氮)-2-茶酚(PAN)作为沉淀剂,待测元素以薄膜沉淀的形式均匀地分布在一个面积较大的由低原子序数组成的基体上,可以定量地从水中回收痕量金属.分析的准确度和精确度可大大提高,且在一张滤纸圆片上可同时测定多种痕量金属元素.     

X射线荧光光谱法测定精炼渣成份

采用X射线荧光光谱仪测定精炼渣中TCa、SiO2、MgO、MnO、TiO2、P2O5、Al2O3的含量；研究精炼渣的制样条件及分析条件，测定其精密度及准确度，完全满足生产要求；并为冶炼特殊配制精炼渣的碱度，钢的脱氧、脱硫、脱钛、脱磷效果提供技术支持。     

X射线荧光光谱法测定转炉渣主要成份

利用X射线荧光光谱仪测定转炉渣中的TFe、SiO2、CaO、MgO、MnO、P2O5、Al2O3等主要化学成份的含量。采用自制标样绘制工作曲线,利用光谱干扰校正系数和基本效应校正系数消除光谱干扰和基体效应。实验表明：该方法简便快速、有良好的精密度和准确度,所得结果与湿法化学分析结果一致。     

X射线荧光光谱法测定稀土氧化物及其伴生稀土元素

以氧化钕为主成分其它稀土元素为杂质的样品为例，采用氧化制片的方法对稀土类样品直接测定，方法简便、快速、准确可靠。测定范围０．０１％￣１００％。     

X射线荧光光谱法测定电渣重熔渣成分

试样经熔融制成玻璃样片,用X射线荧光光谱法测定电渣重熔渣主要成分,实验确定最佳熔叠条件和测定条件,标样测量结果与标样值、未知试样测定结果与化学分析值对照表明,本法快速、简便、准确、可靠.     

X射线荧光光谱法测定底质中的几种重金属

采用粉末压制的样片进行Ｘ射线荧光光谱分析，测定底质中的重金属Ａｓ，Ｃｒ，Ｃｕ，Ｐｂ，Ｚｎ，其相对标准误差分别为０．００９％，０．００８％，０．０１２％，０．０４％和０．００１４％，方法的准确度与精密度均能满足底质样品分析的要求。     

X射线荧光光谱法测定氧化铕富集物中10种稀土元素

介绍了粉末压片法制样、X射线荧光光谱法测定氧化铕富集物中10种稀土元素含量的分析方法。以D Jongh数学模式对谱线干扰和基体效应进行校正,得到满意的工作曲线。方法的回收率为94.87%~106.12%,相对标准偏差为(n=10)0.066%~4.542%,该方法简便快速、结果准确,能满足日常分析工作的要求。     

X射线荧光光谱法测定化探样品中的主次痕量元素

采用低压聚乙烯镶边垫底的粉末样品压片制样,用ZSX primus Ⅱ X射线荧光光谱仪测定化探样品中C、N、Na、Mg、A1、Si、P、S、C1、K、Ca、Sc、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、As、Br 、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Mo、Sn、Ba、La、Ce、Hf、U、Th、Pb和Nd,共39个组分,C、N的分析采用RX45、RX61专用分析晶体.使用经验系数法和康普顿散射线作内标校正基体效应,经标准物质检验的分析结果与标样值吻合.用GBW07308国家一级标准物质作精密度试验的统计结果,除U的RSD(n=12)为23.8%,Cl、Sc、Mo、Sn的RSD＜13.0%以外,其余各组分均小于6.0%.     

X射线荧光光谱法测定海底钴结壳的方法研究

采用粉末压片制样,X-射线荧光光谱法直接测定钴结壳中Fe、Mn、Co、Ni、Si、Al、Ca、K、Na、Ti、P、Mg、Cu、Pb、Mo、Sr、V、Zn、Zr、Y、Ba等元素。重点讨论用熔融法定值部分样品,然后用加以定值的钴结壳标准及样品、国家岩石、土壤、水系沉积物系列标准用粉末压片制样,做工作曲线,一次测量钴结壳中二十余种元素,并用定值样品做精密度与准确度试验,各元素统计结果为RSD％（n=12）除V的RSD〈4％外,其余元素的RSD均小于2％,测定结果与标准值和ICP-MS测量值相符。     

X射线荧光光谱法测定硅酸盐岩石中的主次元素量

利用X射线荧光光谱先定性再熔融定量分析硅酸盐岩石中的主次量元素,通过对岩石的岩性、组分及异常元素的了解,为熔融定量分析选择合适的条件。实验表明,该法简便快速,精密度和准确度好。     

用X射线荧光光谱法测定玻璃基材上C TiO2薄膜的组分和厚度

在X射线荧光（XRF）分析中应用基于基本参数法的FP—Multi软件,采用C固定道和Ti、Al、Si扫描道,以99．999％石墨及纯Al、Ti、SiO2四个块样做标样,对玻璃基材上含有C元素的TiO2薄膜厚度及成分进行了测试分析。薄膜厚度的测定结果还与用nkd干涉仪、扫描电镜断面分析等方法的测试结果做对比。证明X射线荧光光谱法测定玻璃基材上C＋TiO2薄膜厚度及成分是可行的。     

铝电解用预焙阳极中杂质元素的X射线荧光光谱法测定

用PW2403 X射线荧光光谱仪和瑞士RDC公司C-300系列标准物质建立铝电解用预焙阳极的X射线荧光光谱分析方法,该方法准确性好、测定精度高、快速简便,适用于预焙阳极中S、V、Ni、Si、Fe、Al、Na、Ca、Ph等元素的准确测定。     

X射线荧光光谱法测定钐铕钆富集物中十种稀土元素

介绍了以菲利蒲ＰＷ－１４０４型Ｘ射线荧光光谱仪、粉末稀释法测定钐铕钆富集物中１０种稀土元素的方法。该法快速、准确,能满足生产与科研的要求。     

X射线荧光光谱法测定 钐铕钆富集物中十种稀土元素

介绍了以菲利蒲PW－1404型X射线荧光光谱仪、粉末稀释法测定钐铕钆富集物中10种稀土元素的方法,该法快速、准确、能满足生产与科研的要求。     

X射线荧光光谱法测定铁矿中二氧化硅含量的不确定度评定

介绍了X射线荧光光谱法测定铁矿中SiO_2的方法,对影响检测结果的各个不确定度分量进行了评价,按测量不确定度影响因素建立了数学模型,结合计算得到了合成不确定度和扩展不确定度,用于表征测量结果的可信程度。     

波长色散X射线荧光光谱法测定富钛料中主次元素含量

采用荧光专用混合熔剂（67%Li2B4O7：33%LiBO2）做熔剂,溴化锂作脱模剂制备玻璃熔片,X射线荧光光谱法测定富钛料中SiO2、Al2O3、CaO、MgO、MnO、TiO2、TFe中7个主次含量组分。方法中使用了攀钢研究院新研制的3个高钛渣标准样品并在这些标准样品中加入光谱纯TiO2制备人工标样系列,作为校准样品建立了X荧光光谱法测量富钛料中主次元素的方法,经验证,本方法分析的准确度能够满足化学分析的要求。     

X射线荧光光谱法测定锰铁中的锰、磷、硅

研究了采用X射线荧光光谱仪测定锰铁中的分析元素,研究了系统制样方法:采用粉末样品压片制样,并利用内控标准元素(铁)作为主量元素(锰)的强度参比.本方法可用于锰钦中Mn、P、Si的同时测定.