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王永现 《河南师范大学学报(自然科学版)》1992,(3)
本文报导用TRS—80型微型计算机在X射线立方晶系数据处理中的一个应用程序。该程序能对衍射条纹指数化,确定晶体的结构类型,并能用外推法精确测定晶体的点阵常数。 相似文献
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王洪信 《河北师范大学学报(自然科学版)》1994,18(3):35-36
X射线衍射测定晶体点阵常数是基本的实验方法.用普通X射线衍射仪粉末法测定硅点阵常数,比较了不同测试方法和计算方法,以定点扫描三点抛物线法定峰、cos2θ外推法计算结果最佳. 相似文献
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兰绍鹏 《鞍山科技大学学报》1991,(3)
讨论了测角仪0°位置及焦点180°位置的调整方法以及检查调整质量的简便办法;论证了增加制样时的压力,调整样品的密度分布,既可减少因x射线的穿透性而引起的误差,又可改善平板试样的聚焦条件;绘制了Y-2A型衍射仪工作时内部温度升高而引起的0°位置及衍射峰角位置漂移规律的实验曲线,为精密测量结果的修正提供了依据。 相似文献
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周国荣 《五邑大学学报(自然科学版)》1999,13(3):25-28
根据晶体的折射原理提出了在测定点阵常数时进行折射修正的一种简易方法:基于点阵常数与衍射角之间的简单关系,通过对实测数据作最佳线性拟合,利用外推法求得“精确的”点阵常数。利用这一方法测定了几种不同粉末样本的点阵常数,线性外推的结果表明,尽管精度还受到其它因素的影响,但是比数值平均法的精度提高了若干倍。此外,这一方法不需要作复杂的修正计算,原理简单,容易实行。 相似文献
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用X射线衍射仪法对光谱纯铜进行了点阵常数的精确测定,给出了测定值。从实验技术方面进行了分析阐述,为金属材料研究和大学近代物理实验选题提供了参考。 相似文献
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余和五 《南京师大学报(自然科学版)》1989,(4)
用X光衍射仪测量晶格常数已有一套较完整的理论误差修正公式。[1]但在一些特殊情况下,如利用高低温装置进行测量时,由于热胀冷缩等原因,样品表面将显著偏离X光平面,此时原有的误差修正公式已不能满足测量的需要。笔者在Y-2A型X光衍射仪上进行了一系列模拟试验。找到了一个新的误差修正项,用此误差修正项修正时,在Y—2A型X光衍射仪上,可使误差范围σ<5×10~(-4)A°, 相似文献
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利用最小二乘法消除误差,导出正交晶系的法式方程,由此推导出非立方晶系的基本形式,并以六方晶系为例,给出方程组的求解过程. 相似文献
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网格因素对格子Boltzmann方法误差的影响 总被引:1,自引:0,他引:1
基于外推法的思想,提出了格子Boltzmann方法中的误差计算方法.该方法在粗细两种网格下,采用Filippova提出的分布函数耦合方法推导出误差的计算公式,其主要误差项与格子大小和分布函数中的非平衡态部分成正比.最后用垂直平板障碍绕流作为一个数值计算实例,验证了理论推导与数值试验结果是一致的. 相似文献
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稀土CeO2纳米固溶体粉末晶格常数与成分的关系 总被引:1,自引:0,他引:1
氧化物的晶格常数是材料研究和运用的一个重要参数. 从理论上预测氧化物固溶体的晶格常数是物理学家和材料学家从理论上研究物性参数的方法之一. 经研究, 推导出了计算立方CeO2 纳米固溶体晶格常数与固溶体成分关系的方程. 将理论计算纳米氧化物固溶体的晶格常数的方程用于CeO2 - ZrO2, CeO2 - Bi2O3 , CeO2 - La2O3, CeO2 - ZrO2 - ThO2 纳米固溶体晶格常数的计算, 发现晶格常数随固溶体成分变化与立方CeO2纳米固溶体晶格常数实验结果基本一致, 误差不大于0. 3% , 1. 7%, 3. 4%, 0. 4%. 相似文献
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通过对迈克耳孙干涉仪的全程测量,发现了波长测量误差的变化规律,找到了测量误差的主要来源——"传动比为20∶1的机构",并指出了提高现有仪器波长测量精度的措施. 相似文献
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张敏先 《重庆邮电学院学报(自然科学版)》1993,5(1):22-26
本文在离散数学的范围内,从格、子格、模格、分配格的定义,格的运算性质出发,充分利用两个特殊的五元格,对有关格是模格、格是分配格的充分与必要条件的五个定理作出严格的推证。 相似文献
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张春勇 《盐城工学院学报(自然科学版)》1999,12(4):57-59
对测量不确定度与误差之间的联系和区别进行了分析讨论。认为误差与测量不确定度是两个截然不同的概念,但误差是不确定度的基础,不确定度是误差的综合和发展。 相似文献