测量微球覆层厚度的X射线衍射法

对采用X射线衍射测量微球覆层厚度的方法进行了研究,首先在建立微球X射线衍射数学模型的基础上,利用一组已知厚度和X射线衍射线积分强度的标样,通过计算机模拟求解的方法,得到微球衍射线积分强度和覆层厚度的关系.然后,在相同条件下进行待测试样的X射线衍射实验,将其衍射线积分强度代入求解模型得到的结果中就能得到待测试样的覆层厚度.实验结果表明,X射线衍射法是可行的,具有快速、方便、非破坏、不接触等特点.     

测量微球覆层厚度的X射线衍射法

对采用X射线衍射测量微球覆层厚度的方法进行研究,首先在建立微球X射线衍射数学模型的基础上,利用1组已知厚度和X射线衍射线积分强度的标样,用计算机模拟求解的方法,得到微球衍射线积分强度和覆层厚度的关系.然后,在相同条件下进行待测试样的X射线衍射实验,将其衍射线积分强度代入求解模型得到的结果中就能得到待测试样的覆层厚度.实验结果表明,X射线衍射法是可行的,具有快速、方便、非破坏、不接触等特点.     

用X射线荧光方法测定薄层样品、镀层和涂层的厚度

该文提出用特征X射线的发射(表层特征谱线照射量率法)或吸收(底层特征谱线吸收法)来测定薄层或涂层的厚度。并根据大量的实验数据和理论分析,确立了正确选择工作条件及确定方法适用范围的依据。实践证明了方法的可靠性和实用性。     

基于X射线荧光的铝硅共渗涂层厚度测量研究

铝硅共渗涂层常喷涂于发动机高温叶片表面，涂层的防护对于延长发动机叶片的使用寿命至关重要。X射线荧光无损检测技术能快速便捷地监控涂层厚度情况，但是目前这种方法对于多元素双层膜铝硅共渗涂层厚度的检测不准确。为了进一步研究多元素双层膜铝硅共渗涂层厚度与X射线荧光检测值的关系，基于X射线荧光无损检测技术提出了一种方法来减小X射线荧光测量数据的误差，再通过验证钼元素荧光对数值与第1层膜厚度之间的线性关系来确定这种方法的可行性，最后基于X射线荧光吸收与发散的原理，拟合出中间层膜的厚度与钼元素荧光之间的计算模型。得出以下结论：当膜中钼元素质量分数大于基底中该元素质量分数时，随着膜厚度值的增加，仪器接收到的荧光效应先减弱再增强，临界值大约为14.3 μm，小于该临界值的铝硅共渗涂层，涂层元素相互渗透对厚度测量的影响不可忽视。     

Research on intelligent ultrasonic thickness measurement system applied to large area of hull

For a ship in service,seawater corrosion is unavoidable.In order to ensure navigation safety and master the steel plate thickness in service ship,thickness of the ship steel plate must be tested periodically by a scientific method.After consideration of an actual situation of thickness measurement,the bearing mechanism of ultrasonic thickness meter probe has been designed on the basis of wall-climbing robot,and preliminary experiments have been carried out.The device is mainly used for thickness measurement of a large area of ship hull plate when the docking ship has been sandblasted.Efficiency and safety can be improved to finish thickness measurement by using the device.     

多波检测技术在超声厚度检测中的应用

目的确定超声反射测厚中反射波初至时间,提高反射法测量精度。方法运用多波分析技术,通过分析超声厚度检测中横波、直达纵波、反射纵波的不同传输特性,提出了斜率法判别反射波的起跳时间。结果根据斜率不同,在波场图中可以容易地得到反射曲线。结论解决了反射法测厚中反射初至时间确定难的问题,提高了测试精度。     

吸收过程中界面湍动对传质的影响

传质过程中的界面湍动现象广泛存在,宏观上表现为传质阻力下降,传质速率增加.本文以甲醇、乙醇等有机溶剂吸收二氧化碳的物理吸收过程为研究对象,建立了一套带有激光纹影仪与计算机实时图象采集系统的传质实验装置,研究了相界面湍动对传质速率的影响,以及液膜厚度变化对相界面湍动情况下传质速率的影响.定义了放大因子,利用放大因子定量说明界面湍动对传质速率的影响.实验发现界面湍动存在时,液相传质系数与理论值偏离,而且随传质推动力的增大,偏离增大;同样条件下,改变液膜厚度,传质速率可以成倍的增加.这说明吸收过程中界面湍动对传质的促进作用受多种因素的影响.     

挤出吹塑中型坯壁厚的在线智能检测技术

采用激光扫描加图像处理的方法以实现在线测量:用一束激光从某一角度入射到型坯壁上,反射回来的光线由2部分组成,一部分是从型坯外表面反射的,另一部分是从型坯内表面反射的,这2部分光线之间是平行的,并存在一定的间隔.重新推导出该间隔与型坯壁厚之间的计算公式.用CCD摄像机接收从型坯反射回来的光线形成2个光斑图像.通过数字图像处理测取2个光斑之间的距离.即应用图像预处理、平滑滤波、图像二值化、边缘提取、图像分割、边缘曲线的跟踪和连接、尺寸标定来获取光斑中心坐标及光斑中心之间的距离.通过该计算式即可求出型坯的壁厚.实验研究表明,此检测方法所需硬件简单,计算量小,实施容易.它的实现可提高吹塑制品的质量,降低原料消耗.     

圆弧齿轮弦齿厚测量尺寸的计算

为方便圆弧齿轮的测量和提高计算效率,从圆弧齿轮的齿面方程入手,推导出圆弧齿轮弦齿厚测量尺寸的计算公式.根据圆弧齿轮的成形特点,进一步导出圆弧齿轮弦齿厚的近似计算公式,并举例计算圆柱双圆弧齿轮弦齿厚测量尺寸.两种计算结果比较表明,近似公式的误差仅为0.001mm,完全满足工程要求的精度.近似公式计算简单方便,大大提高了计算效率.     

First mass measurement of short-lived nuclides at HIRFL-CSR

Recent commissioning of the HIRFL-CSR has demonstrated its ability to perform direct mass measurement for short-lived nuclides. Projectile fragments produced by the 78Kr ions at 481.88 MeV/u were separated with the new radioactive beam line in Lanzhou （RIBLL2）, and injected into and stored in the experimental storage ring （CSRe）. By operating the CSRe as an isochronous mass spectrometry, a typical mass resolution around 2.0×10？5 has been achieved. The masses for 63Ge, 65As and 67Se were measured for the first time. The measured masses are compared with theoretical predictions and the location of the proton drip-line for As isotopes is discussed. The implication of the 65As mass in the astrophysical rapid proton capture process has also been addressed.     

测定薄膜厚度的基片X射线衍射法

基于X射线衍射与吸收理论，建立了一种薄膜厚度测量方法，即基片多级衍射法．利用X射线衍射仪测量高速钢表面的TiN薄膜厚度，由于膜下基片的衍射强度较高及衍射峰形良好，可以确保薄膜厚度的测量精度．本法克服了非晶薄膜材料中薄膜衍射信息较差以及存在织构等不利因素所导致测量结果不可靠等问题．     

野生和人工栽培天麻的X射线能谱分析

比较了贵州野生及人工栽培天麻的X射线能谱 ,发现它们的无机成分有比较明显的差别 ,特别是P、S、K和Ca元素的差别比较大     

飞行器质量特性参数测量

质量特性参数(质量、质心、转动惯量、惯性矩)是飞行器重要飞行技术参数,传统的质量质心和转动惯量分别采用质心台和扭摆台测量,一次只能获取安装方向上的质心和转动惯量。由于飞行器结构上的原因,要求物体在一次装夹下高精度获取所有物理参数。为解决这一问题,将质心台和扭摆台合并为一质量特性参数综合试验台,并在台面上安装了可旋转和水平倾斜的斜台,将试件在斜台一次装夹下,测量试件在不同状态下的转动惯量,利用坐标转换法计算出物体三轴转动惯量和惯性矩等质量特性参数方法。阐述了一次装夹下物体质量质心及转动惯量测量原理,讨论了产生测量误差主要原因,分析了斜台倾角误差对测量精度的影响。