阶跃指数衰减势垒和平方势垒中的量子反射

采用转移矩阵方法(ATMM)得到精确的透射和反射系数,并且把它应用到高于势垒高度的量子反射问题中.通过计算阶跃指数衰减势垒和平方势垒,发现用ATMM得到的结果要比用WKB近似法得到的结果精确.当粒子入射能量高于势垒高度时,ATMM仍然能够精确得到结论;而WKB对此无能为力.计算结果显示反射率是一个渐变过程,说明其中发生了量子反射,而ATMM恰恰可以用来解决这类问题.     

FBG横向受力反射谱的仿真研究

采用传输矩阵法对FBG横向受力的反射谱进行仿真。当FBG横向受力时，x、y偏振方向的折射率变化不同，引起双折射，其反射谱发生分裂，分裂点随力的变化发生周期性的移动，分裂点的反射率与受力的位置有关，当受力位置越接近光栅中部位置时，反射率越低。     

视觉显微光度仪的推广与使用

众所周知,反射率是不透明矿物一个很重要的光学常数,在各家的鉴定表中都被置于首要地位。由于它在不透明矿物鉴定工作中如此重要,因而岩矿鉴定人员对显微光度仪的需求特别迫切。虽然国外生产的显     

光折变位相共轭镜表面反射不同于菲涅尔反射的现象及其分析

本文导出了光折变位相共扼镜表面反射与共轭反射率以及双波耦合增益长度积的关系式．给出了ＢａＴｉＯ３晶体位相共扼镜的相对光强反射比随共轭反射率和入射角变化的实验结果，并分析了不同类型光折变晶体的位相共轭镜表面反射变化的不同情况．     

宽带反射膜的优化设计和性能分析（英文）

宽带反射膜存在着材料折射率有限、反射带宽和反射率不能满足需要、制备过程中薄膜的厚度和折射率难以精确控制等重要的问题。为了满足光学元件对宽光谱反射的要求,采用多个膜堆结构展宽反射带的方法,使用TFCalc优化设计膜系,对膜系结构参数进行不断地改进和调整,设计了带宽为400~900nm、入射角分别为0°和60°的两种全介质多层反射膜并且对其性能进行了分析。结果表明,入射角为0°的宽带反射膜平均反射率达到99.6%,入射角为60°的宽带反射膜平均反射率达到98.6%,这两种反射膜均可以在超宽光谱范围内提高光学仪器的反射率;膜系的中心波长、电场强度分布、平均反射率和反射带宽受入射角度影响,在平均反射率和反射带宽方面,60°入射的膜系比0°入射的膜系受入射角度的影响更大。     

矿物突起原因的解析

引言在矿物鉴定过程中,矿物的折射率是区别矿物的最可靠的光学常数之一.然而,在薄片中却不能定量地测定矿物的折射率值,但可根据矿物突起的程度,初步确定折射率值的区间,再结合其它光学性质,就可以大大缩小探测未知矿物的范围.尤其是对于浅色矿物,当两种矿物彼此邻接时,借助于贝克线移动规律及色散效应,鉴定类质同象系列的种属上是相     

钢围囹圆环应力分析

本文介绍两种鋼围令环内力的计算方法即近似法和精确方法。近似法计算结果证明是偏于不安全方面,但究竟利用那种方法进行计算更为合理尚须进行研究。文中用近似法与精确法对(支撑承受力)(弯矩)(轴向力)进行了比较。并提出计算中存在的问题,希望能进一步得到解决。     

调制反射光谱中电极表面膜介电常数的计算

电化学调制紫外可见反射光谱法是一种“现场”的光谱电化学方法,它具有检测灵敏度高、简便易行等特点。国际上对调制反射光谱理论已开展了很多研究,目前能较好地解释实验结果的宏观理论是McIntyre和Aspnes提出的线性近似理论。 定义电极表面归一化的反射率变化值为     

染色腐蚀法制备多晶硅的绒面

为了降低光的反射,应用染色腐蚀法制备多晶硅的绒面.对多晶硅的绒面进行了反射率和SEM形貌测量.在适当的腐蚀液中制备的3×3 cm2的多晶硅,其表面反射率在300～1 000nm波长范围为5.7%.这一结果可以和具有双层减反射膜的碱制备的多晶硅表面的反射率相比拟.     

马尔可夫调制的随机时滞微分方程解的算法分析

一般地,对于马尔可夫调制的随机时滞微分系统来说,很难求出其精确解.即使近似解被求出来,因为其复杂的原因也不方便使用.因此,很多数学家引入了很多方法,例如:EM逼近、离散近似逼近、随机泰勒展式等等.由于近似方法不同而有不同的收敛速度.主要研究当漂移系数和扩散系数满足随机泰勒展式时近似解的收敛速度,得出优于EM逼近的方法.     

平板型吸波材料设计中表面反射的影响研究

研究了广义匹配规律下平板吸波材料设计中的表面反射对后向反射率的影响问题,给出了以金属为衬底的表面反射对后向反射率影响的公式,通过Matlab的三维网格法分析了了电磁波垂直入射的情况。讨论结果表明:对于平板吸波材料而言,介电常数在表面反射中起主要作用,即在材料的设计中考虑表面反射时主要以调节为主,这为工程上材料的设计提供了方向性的指导。     

中国书画颜料颜色仿真与存储方法研究

在虚拟绘制中,基于Kubelka-Munk颜色光学理论,提出了一种中国书画颜料颜色仿真新方法,其主要思想是:根据颜料R/G/B三颜色通道的遮盖力(c)和单位厚度颜料在黑背景下的反射率(Rb)计算得到颜料各颜色通道吸收系数(K)和散射系数(S),通过K、S和宣纸反射率计算得到宣纸上有效厚度为d时颜料的反射率(Rd),根据该反射率与下一层颜料的K、S和d计算得到两层颜料合成时的反射率,依此类推得到多层颜料合成时的反射率,将该反射率转换成颜色亮度值(R,G,B),从而得到宣纸上多层颜料合成时的颜色(RGB).在此基础上提出一种颜色存储方法,通过存储宣纸上颜色(RGB)实现对绘制结果的实时存取和显示.所提方法已成功应用于基于力反馈技术的虚拟绘制系统中,较好地仿真了植物色与矿物色在颜色合成中的不同特征.     

为什么湿衣服看上去颜色更深

一种物质的表面能反射多少光线取决于该物质的反射率和这种物质浸泡于何种介质。一件干的衣服可以被看作是“浸泡”在空气中,而空气的反射率很低。当这件衣服被打湿时,光通过一层水照射衣物的表面。     

反对称介质-金属结构中的表面等离激元

利用反对称半无限介质-金属结构实现了表面等离激元的高反射率。计算了反对称半无限金属-介质结构中正入射和斜入射表面等离激元的反射和透射。限制介质的厚度, 将电磁场表示成各离散本征模式的叠加, 根据边界条件得到反射系数和透射系数矩阵。 介质厚度趋于无穷时, 得到反对称半无限介质-金属结构中表面等离激元反射系数和透射系数的近似解析表达式, 计算结果与数值解相吻合。最后分析了斜入射表面等离激元的反射率和透射率与入射角的关系。     

X射线能量分辨率与多层膜测量反射率的关系

X射线能量分辨率大小对多层膜测量反射率有影响. 理论上分析了入射光能量分辨率与多层膜测量反射率的关系. 研究结果表明: 入射光为非单色光时, 多层膜测量峰值反射率低于单色光的反射率; 但是在非设计波长处, 非单色光的反射率大于单色光反射率; 设计波长越短的X射线多层膜, 其测量反射率对入射光单色性越敏感; 对确定的多层膜, 入射光能量分辨率存在一个极限值, 如果能量分辨率小于极限值, 多层膜测量反射曲线是直线, 没有反射峰出现.     

表面竖向谐和力作用下弹性半空间的内部位移

提出了弹性半是表面上作用均匀布谐和力时半空间内部任意一点的位移解;该解在半空间表面与精确解较吻合,在半空间内部远场与Ｍｉｌｌｅｒ近似解也较一致。     

关于拉姆问题的精确解

本文给出了匀质、各向同性、弹性半无限体表面在竖向集中突加力作用下表面竖向位移的精确解,此种解适用于泊松比为0～0.5的所有情况。本文还给出了在竖向集中谐和力作用下半无限体表面竖向位移的精确解,此问题的积分形式解是Lamb在1904年得到的。所得解答与著名的静力问题的Boussinesq解相对应。利用此解答可以评定已有近似解的适用范围。此外,本文还指出了有关结论中存在的问题。     

格尔木地区沙尘气溶胶铁氧化物漫反射光谱分析

格尔木地区沙尘气溶胶漫反射光谱分析显示该地区沙尘气溶胶反射光谱的一阶导数曲线分别在波长430,560 nm处存在两个明显的特征峰值,可用于指示粉尘样品中的赤铁矿和针铁矿的相对含量.红色、橙色和黄色反射率随赤铁矿和针铁矿可见光谱一阶导数特征值增加而增大,而蓝色、紫色和绿色反射率则相应减小,表明赤铁矿和针铁矿是格尔木沙尘的重要致色矿物,对沙尘气溶胶光学特性产生重要影响.格尔木地区沙尘气溶胶中赤铁矿和针铁矿相对含量变化受沙尘过程影响,沙尘天气时赤铁矿和针铁矿可见光谱一阶导数特征值明显增高,指示铁氧化物的相对含量增高.赤铁矿和针铁矿可见光谱一阶导数特征值及两者比值在不同地区粉尘样品中有很大差异,表明赤铁矿和针铁矿可见光谱一阶导数特征值及两者比值具有较强的源区指示意义.     

基于反向蒙特卡罗法的飞行器在轨外热流计算

为了计算考虑不同纬度和季节下地球反射率和发射率时的在轨外热流,建立了适用于任意地球轨道和飞行姿态条件下的反向蒙特卡罗(RMC)法计算模型.该模型考虑了卫星表面遮挡与多次反射效应,通过连续坐标变换法确定飞行器在给定轨道参数下任意时刻的姿态,并将假设地球辐射特性为常数时的结果与商业软件的计算结果进行比较,以验证模型和计算程序的正确性.在此基础上,考察了地球辐射特性随纬度变化时,飞行器在轨外热流的变化情况.结果表明,所建立的RMC法模型在飞行器姿态控制以及代码计算中具有一定的可靠性;地球反射率和发射率随纬度的变化对地球红外辐射和地球反射辐射的影响均较大,在所选取的轨道参数和抽查时刻,与反射率和发射率不变的结果的最大相对误差分别为-21.31%和80.05%,且均出现于星下点南纬57°;卫星表面遮挡和多次反射效应明显,天线导致其所在平面的地球反射辐射热流密度从19.2 W/m2变化到39.5 W/m2.     

负磁导率材料的微波反射行为

采用波导法研究了开口谐振环(split resonator rings,SRRs)负磁导率材料X波段(8-12 GHz)的微波反射行为.通过电路板刻蚀技术制备了六边形SRRs为单元的二维及三维样品.实验表明:二维负磁导率材料样品反射率曲线形成反射峰,其峰值点对应频率与材料谐振频率一致,反射率变化达到10 dB,在谐振频率两侧较窄的区域反射微弱;三维样品反射率曲线形成反射峰,其峰值点位置与材料谐振频率一致,调节晶格常数时材料反射行为变化较大;负磁导率材料反射相位随频率增大,二维样品在谐振频率处反射相位存在一个拐点.