加速寿命试验的参数估计

本文讨论了恒定应力加速寿命试验和序进应力加速寿命试验中有关参数的眯估计，所得点估计优于常用ＢＬＵＥ。     

关于序进应力加速寿命试验中若干问题的探讨

采用若干基本假定,用分段函数连续化方法,给出了在恒定应力条件下寿命服从指数分布或威氏分布的产品,在序进应力加速寿命试验中的寿命分布;并给出了在加速寿命方程满足逆幂律且等速加载情况下的具体分布形式.文中还利用序进应力试验中所获得的数据,应用极大似然估计法估计加速寿命方程与寿命分布中的参数,并对参数估计值的性质进行了讨论.     

恒加寿命试验中无失效数据的处理

本文给出了恒定应力加速寿命试验中无失效数据的一种Bayes方法。     

定时恒加试验含无失效数据下Weibull分布参数的极大似然估计

本文给出了几种定时截尾恒定应力加速寿命试验中含无失效数据下Weibull分布参数的极大似然估计法,最后,将所提供的方法与现场数据估计结果进行了比较.     

定量恒加试验含无失效数据下Weibull分布参数的极大似然估计

本文给出了几种定量截尾恒定应力加速寿命试验中含无失效数据下Weibull分布参数的极大似然估计法，最后，将所提供的方法与现场数据估计结果进行了比较。     

恒定应力加速寿命试验数据缺失时的统计分析

试验数据缺失是加速寿命中经常遇到的情况，处理起来也较复杂，当产品寿命服从指数分布时，该文研究了恒定应力加速寿命试验中数据缺失时的统计分析方法，讨论了加速模型参数的极大似然估计（MLE）与线性估计（BLUE与ABLUE），证明了极大似然估计的存在性与唯一性，并对各种估计的优良性进行了模拟比较。     

竞争失效场合恒定应力加速退化试验统计分析

为了解决恒定应力加速退化试验中突发与退化同时存在的竞争失效可靠性评估问题,针对产品的退化过程,采用退化量分布函数进行刻画,弥补伪失效寿命建模方法的缺陷.同时考虑到突发失效与性能退化和应力水平的相关性,提出基于比例危险的突发失效模型,并用线性回归和极大似然估计(MLE)模型中的参数,实现对竞争失效场合恒定应力加速退化问题的建模分析.最后应用算例验证该方法的有效性.     

混合加速寿命试验模型下威布尔分布参数的统计分析

在混合加速寿命试验模型（序进应力加速寿命试验和恒定应力加速寿命试验相结合）下，讨论了寿命分布为威布尔分布时的参数估计问题，给出了形状参数的逆矩估计以及加速系数的置信区间．并且随机模拟一组样本，验证了这个方法的有效性．     

Weibull分布场合恒加寿命试验统计分析

对Ｗｅｉｂｕｌｌ分布排除形状参数在不同应力水平下相等与应力变化无关的假设。在恒定应力加速寿命试验下,提出一种统计分析方法,给出正常应力水平下寿命分布的参数估计,燕给出一个算例。     

加速寿命试验下随机截尾指数寿命数据的Beyes统计分析

本文针对恒定应力加速寿命试验下，进行随机截尾指数寿命数据的Ｂａｙｅｓ分析，在未知加速寿命方程情况下，给出了常应力下分布参数的后验分布及其Ｂａｙｅｓ估计．最后给出了两个计算实例．     

对数正态分布场合下恒定应力加速寿命中含有缺失的定数截尾样本的AMLE

导出了对数正态分布场合下恒定应力加速寿命中含有缺失定数截尾样本的近似极大似然估计(AMLE)，得到了分布参数和加速方程中未知参数的AMLE的显式解，便于实际计算和工程应用，数值模拟的结果表明本方法可行．     

一种快速分析电子元器件寿命特性的实用方法—图估法

本文较详细介绍了一种用于电子元器件恒定应力正常寿命试验和加速寿命试验的数据处理方法－图估法；作为举例，用该方法分析判断的估计了拟氖激光管的寿命分布规律和分布参数等寿命特性。     

基于PI模型的加速可靠性增长试验统计分析

针对加速可靠性增长试验中需要通过加速应力试验条件获得的故障信息,定量评价正常应力下产品可靠性增长所达到的可靠性水平问题.首先阐述恒定应力加速可靠性增长试验实施过程.其次,基于用于随机点过程的统计回归模型——PI(比例强度)模型,结合工程实际中广泛应用的可靠性增长模型—AMSAA,提出了模型和数据分析假设,建立了恒定应力加速可靠性增长试验的统计评估模型,给出了未知参数的极大似然估计方法.进一步,根据非齐次泊松过程的性质,得到了恒定应力加速可靠性增长试验故障数据的仿真抽样公式,通过对不同时间截尾下的仿真算例的统计分析,验证了该方法的可用性和合理性.     

Weibull分布下基于BRM的白光OLED寿命预测

为了在短时间内预测白光OI．ED的寿命,通过加大工作电流开展了3组恒定应力加速寿命实验,利用三参数威布尔（weibull）函数和双线性回归法（BRM）得到了OLED寿命信息．数值结果表明：加速寿命预测的实验方案是正确可行的;OLED的寿命服从Weibull分布;加速模型符合阿伦尼斯方程;精确计算的加速参数使得快速估算OLED寿命成为可能．     

非平方损失函数下加速寿命试验的Bayes估计

本文在先验分布为指数Beta分布场合下,给出了恒定应力加速寿命试验参数在非平方损失函数下的Bayes估计,通过一个数值例子并叙述了使用这种方法的全过程。     

对数正态分布场合恒定应力加速寿命试验的MLE和AMLE

在寿命分布为对数正态分布场合，由恒定应力加速寿合试验所获的数据，给出未知参数的近似极大似然估计．     

基于双线性回归法的真空荧光显示器寿命预测

为了在较短的时间内获得真空荧光显示器（vacuum fluorescent display, VFD）的寿命信息,节省试验时间,降低预测成本,通过对VFD失效机理进行分析,开展了4组恒定应力加速寿命试验,采用三参数威布尔函数描述其寿命分布,利用双线性回归法（bilinear regression method, BRM）实现了VFD的寿命预测.数值结果表明,VFD的寿命服从三参数威布尔分布,其加速模型符合线性阿伦尼斯方程,每个加速应力水平下VFD的失效机理保持不变,提出的试验方法和理论模型使得短时间内精确预测VFD寿命成为可能.     

基于加速退化数据的某导电膜电阻贮存寿命预测方法

提出了一种基于加速退化数据的某导电膜电阻贮存寿命预测方法。首先对该导电膜电阻采用温度应力进行加速性能退化试验，试验中将该导电膜电阻的总阻值作为反映其性能的指标判据，在不同加速应力水平下得到在线测试和离线测试获取的加速性能退化数据；然后通过引入温度因数去除在线测试数据的温漂效应，再融合在线数据和离线数据进行退化轨迹模型参数辨识，获得该导电膜电阻在各加速应力水平下的伪寿命；然后结合经过修正的三参数温度加速模型评估得到该导电膜电阻在正常应力下的贮存寿命。最终以某导电膜电阻为例验证了所提方法的适用性和有效性。     

Weibull分布下绕线联轴器双应力加速寿命试验研究

针对绕线联轴器具有较长的工作寿命,其可靠性很难快速评定的问题,采用恒加试验方法,进行了绕线联轴器双应力加速寿命试验及其失效寿命数据的统计分析;在加速寿命试验中,通过对绕线联轴器的失效机理进行分析,确定了加速应力及加速模型,采用Escobar-Meeker（E-M）法确定了加速寿命试验的条件矩阵;失效寿命数据的统计分析中,假设绕线联轴器的寿命服从威布尔分布,利用威布尔概率纸检验和巴特利特检验相结合的方式对绕线联轴器的寿命分布进行检验;利用极大似然估计法（MLE）和最佳线性无偏估计法（BLUE）确定分布模型的形状参数和特征寿命,并对参数估计方法进行了分析比较;对绕线联轴器双应力恒加试验数据的统计分析表明：绕线联轴器的寿命可用双应力逆幂律-Weibull精确描述,获得了加速应力-寿命模型,某型绕线联轴器在正常转速水平1000r／min,正常扭矩水平0.6Nm下可靠性指标的最佳线性无偏估计。     

恒加试验随机截尾指数分布数据加速系数的LSE

针对恒定应力加速寿命试验下随机截尾指数寿命数据进行统计分析。在加速寿命方程未知的情况下 ,给出了加速系数的近似最小二乘估计方法。随后的随机模拟实例表明 :所给的统计方法计算精度较高