集成电路参数成品率的研究

集成电路参数成品率的研究是集成电路可制造性工程和设计研究的重要内容之一。作者首先给出了参数成品率的计算模型;其次讨论了模拟参数成品率的原理和算法;最后给出了参数成品率的优化模型和求解方法。     

CMOS集成电路的一种成品率优化方法

利用各样本点ＰＳＰＩＣＥ模拟结果,结合秉参数抽样技术,提出了一种有效的集成电路成品率优化新方法,通过对ＣＭＯＳ集成运放的成品率优化证明了该方法的有效性和实用性。     

超大规模集成电路8031的功能模拟

本文基于对8031单片机指令系统、结构和功能特性的分析,提出了一个适合8031单片机的功能模拟方法,采用这种方法,可以大大节省模拟所需的时间和存贮量,满足一般用户的要求。     

电路成品率估计的回归模型法

本文提出一种电路影象模型新的构造方法——回归模型法，对解决控制变量Ｍｏｎｔｅ－Ｃａｒｌｏ方法估计电路成品率时，影象模型不易构造的难题进行了有益的尝试。     

VHDL应用于专用集成电路功能仿真的研究

分析了超高超集成电路硬件描述语言（VHDL）在专用集成电路高层次设计方法上的重要作用，指出语言进行了电子设计的主要优势是：可以使设计人员在设计的每个层次（行为级、寄存器传输级、门级）进行仿真和综合，应用该对专用集成电路（以8051微控制器为例）进行了功能伪真，提出了下一时间仿真方法，在ACTIVE－CHDL软件环境下编制了8051微控制器的功能仿真程序，通过测试，该程序的功能仿真是正确的，为专用集成电路的高层次设计提供了有益的经验。     

VHDL应用于专用集成电路功能仿真的研究

分析了超高速集成电路硬件描述语言 ( VHDL)在专用集成电路高层次设计方法上的重要作用 ,指出该语言进行电子设计的主要优势是 :可以使设计人员在设计的每个层次 (行为级、寄存器传输级、门级 )进行仿真和综合 .应用该语言对专用集成电路 (以 80 5 1微控制器为例 )进行了功能仿真 ,提出了下一时间仿真方法 .在 ACTIVE- VHDL软件环境下编制了 80 5 1微控制器的功能仿真程序 ,通过测试 ,该程序的功能仿真是正确的 .为专用集成电路的高层次设计提供了有益的经验     

基于DBSCAN与HL相结合的晶圆成品率预测研究

对半导体成品率进行预测分析可有效控制产品成本,提高产品质量,而缺陷问题是导致半导体成品率损失的关键因素。因此,考虑晶圆缺陷聚集特性和数据嵌套性,研究了一种密度聚类与多水平逻辑回归相结合的受缺陷限制的成品率预测方法。首先采用密度聚类算法获取晶片缺陷模式类型;将在线缺陷数据在晶片水平进行整合,作为多水平逻辑回归模型的输入参...     

电子产品成品率与电路输出特性指标的关系

提出一种将成品率指标转换成电路输出特性指标的方法，用于电子产品计算机辅助设计，并用此方法对彩色电视机两片电路的外围电路进行设计。Ｍｏｎｔｅ Ｃａｒｌｏ统计验证表明设计结果合理，方法可行。     

集成电路宏模型的研究

本文论述了宏模型技术在集成电路和系统的计算机分析中的作用和要求.综述了宏模型的建立方法.以稳压电源和模拟开关两种常用的集成电路宏模型为例,说明了设计方法,并列出了手册上参量的标称值和模拟值.结果表明,宏模型对比于元件级模型,模拟效果很好,元件数量和计算时间大为减少.     

用最小余量法提高曲轴的成品率

曲轴是柴油机的核心零件之一,其加工质量直接影响柴油机的性能。该零件属大批量生产,其加工路线长,工艺复杂,加工成本高。如何提高曲轴加工成品率,是每个加工单位非常关注的问题。本人曾从事曲轴加工多年,现就用最小余量法在工艺方面如何提高曲轴加工成品率浅谈自己实际做法,供同行参考。     

集成电路噪声模型算法及其矩阵表达

给出了集成电路噪声模型算法及其矩阵表达．噪声模型算法是利用功率谱密度叠加原理推证得出的，根据噪声叠加原理，多级集成电路的功率谱密度为单级集成电路功率谱密度的叠加之和，而单级集成电路的功率谱密度同样也基于叠加原理求得；并借助电路噪声等效理论，以反相输入运算放大器为例，探讨了运放噪声模型的矩阵算式，其方法和步骤同样适用于同相输入运算放大器；给出的程序设计方法为噪声模型算法的应用提供了思路，使系统参数的计算变得更精确．     

模拟集成电路遗传算法的优化设计

针对模拟集成电路设计中设计周期长、参数复杂且精度低等问题,提出了一种智能算法——遗传算法。通过对模拟集成电路中二级运算放大电路的设计,运用遗传算法对其电路的各个性能指标进行了优化分析,有效地提高了各性能指标。该优化方法对模拟集成电路进行优化设计,并且基于Hspice仿真结果与实际电路设计非常接近,具有很高的实用价值。     

模数转换(A/D)集成电路设计原理及其应用技术

随着数字信号处理技术的不断发展和人们对电子产品质量要求的不断提高,模数转换(A/D)集成电路芯片已成为电子产品设计中最关键的芯片器件之一,它的性能优劣直接决定着电子产品的质量.介绍了几种主要的A/D集成电路的基本原理,分析了各类A/D芯片的性能特点及其应用范围,指出了提高不同应用领域A/D芯片质量的关键技术及其发展趋势.     

一套大型微波集成电路与互连系统仿真软件──清华微波SPICE

介绍了在通用电路模拟软件ＳＰＩＣＥ３ｅ２源程序的基础上，针对微波电路与互连系统的分析特点所作的改进，经过多年的努力而研制成功的一套大型微波集成电路与互连系统仿真软件：清华微波ＳＰＩＣＥ。其核心技术包括：微波无源元件的建模及其在节点法软件中的内嵌；任意无源网络（包括互连线）的时域分析；进行电磁场分析时电路分析的加速；电原理图编辑器的研制。清华微波ＳＰＩＣＥ在微带不均匀区模型及互连系统的时域分析方面具有很高精度，是一部大型微波集成电路与互连系统仿真软件，具有很好的应用前景。     

Image boundary extraction based on island model genetic algorithms for integrated circuit defect detection

The integrated circuit chip with high performance has a high sensitivity to the defects in manufacturing environments. When there are defects on a wafer, the defects may lead to the degradation of chip performance. It is necessary to design effective detection approaches for the defects in order to ensure the reliability of wafer. In this paper, a new method based on image boundary extraction is presented for the detection of defects on a wafer. The method uses island model genetic algorithms to perform the segmentation of wafer images, and gets the optimal threshold values. The island model genetic algorithm uses two distinct subpopulations, it is a coarse grain parallel model. The individuals migration can occur between the two subpopulations to share genetic materials. A lot of experimental results show that the defect detection method proposed in this paper can obtain the features of defects effectively.     

Image boundary extraction based on island model genetic algorithms for integrated circuit defect detection

The integrated circuit chip with high performance has a high sensitivity to the defects in manufacturing environments.When there are defects on a wafer,the defects may lead to the degradation of chip performance.It is necessary to design effective detection approaches for the defects in order to ensure the reliability of wafer.In this paper,a new method based on image boundary extraction is presented for the detection of defects on a wafer.The method uses island model genetic algorithms to perform the segme...     

掌握规律，创新驱动，扎实推进中国集成电路产业发展

 论述了集成电路产业的战略特征,总结了集成电路投资、技术和市场的发展规律,回顾了中国集成电路产业的发展历程,分析了中国集成电路产业的现状、产业能力和产业短板,给出了今后集成电路基础研究和生产技术的发展方向,指出并强调了创新是发展之源,提出了2035年中国集成电路产业的发展目标和在政策、投资、人才等领域的相应举措。     

单片机实验教学改革的探索与实践

分析了单片机实验教学存在的根本问题及改革的必要性,提出了新的改革方案,有利于培养学生自主学习、分析问题和解决问题的能力,提高学生的创新能力和综合素质。     

采用自举技术的不完全绝热电路

为了大规模集成电路的低能耗应用,提出了一种不完全绝热电路——自举能量回收逻辑电路(bootstrapenergyrecoverylogic,BERL)。该电路采用二相无交叠功率时钟。由于采用自举技术,使负载的冲放电过程不会产生非绝热损失,并且输出开关的导通电阻变小,使绝热损失降低。为了比较BERL电路与静态CMOS电路及PAL-2n绝热电路的能耗,设计了反相器链电路。Hspice软件仿真结果表明,BERL电路的工作频率可以超过400MHz。在10～100MHz下,BERL能耗只有静态CMOS电路的25%～33%。相对于PAL-2n电路,BERL也有较低的能耗。在200MHz下,BERL能耗只有PAL-2n的50%。负载越重,BERL电路的低能耗优势越明显。