X射线荧光光谱法测定钐铕钆富集物中十种稀土元素

介绍了以菲利蒲ＰＷ－１４０４型Ｘ射线荧光光谱仪、粉末稀释法测定钐铕钆富集物中１０种稀土元素的方法。该法快速、准确,能满足生产与科研的要求。     

X射线荧光光谱法测定稀土氧化物及其伴生稀土元素

以氧化钕为主成分其它稀土元素为杂质的样品为例，采用氧化制片的方法对稀土类样品直接测定，方法简便、快速、准确可靠。测定范围０．０１％￣１００％。     

X射线荧光光谱法快速分析地质样品中各组分含量

采用塑料环粉末压片法制样,利用X射线荧光光谱分析地质化探样品中的主次量元素及痕量元素,通过对岩石的岩性、组分及异常元素的了解,为定量分析选择合适的条件。实验结果说明该法简便快速,精密度和准确度好,可应用于实际生产中。     

X射线荧光光谱法测定氢氧化镁中杂质含量

为测定氢氧化镁中杂质元素含量,采用X射线荧光光谱(XRF)法进行重复性和准确性试验.结果表明,XRF法具有快速、无损、多元素同时测定、检测元素范围广等特点,重复性较好.XRF法测量结果与化学方法和电感耦合等离子体发射光谱(ICP)法的测量结果接近,准确性较好.     

X射线荧光光谱法测定底质中的几种重金属

采用粉末压制的样片进行Ｘ射线荧光光谱分析，测定底质中的重金属Ａｓ，Ｃｒ，Ｃｕ，Ｐｂ，Ｚｎ，其相对标准误差分别为０．００９％，０．００８％，０．０１２％，０．０４％和０．００１４％，方法的准确度与精密度均能满足底质样品分析的要求。     

X射线荧光光谱法测定海底钴结壳的方法研究

采用粉末压片制样,X-射线荧光光谱法直接测定钴结壳中Fe、Mn、Co、Ni、Si、Al、Ca、K、Na、Ti、P、Mg、Cu、Pb、Mo、Sr、V、Zn、Zr、Y、Ba等元素。重点讨论用熔融法定值部分样品,然后用加以定值的钴结壳标准及样品、国家岩石、土壤、水系沉积物系列标准用粉末压片制样,做工作曲线,一次测量钴结壳中二十余种元素,并用定值样品做精密度与准确度试验,各元素统计结果为RSD％（n=12）除V的RSD〈4％外,其余元素的RSD均小于2％,测定结果与标准值和ICP-MS测量值相符。     

粉末压片X射线荧光光谱法测定长石中的主量元素

针对X荧光熔融制样需要采用铂黄金坩埚等贵金属器具,而在高温下多金属矿中的硫元素会对铂黄金坩埚有很大伤害,严重时将直接导致坩埚无法脱模,不仅影响融样速度,而且造成直接经济损失巨大.熔融成型玻璃片在室温下还容易出现破裂等现象,这是多金属矿样熔融制样的一大难题.粉末压片法制样不仅解决了样片破裂的问题,提高了制样速度,而且还大大降低了制样成本.通过粉末压片法制样,建立一套用波长色散X射线荧光光谱法测定长石中的硅铝钾钠等主量元素的分析方法.通过对样品粒度、压片机制样条件进行讨论,确立了称样2.5000 g与羟甲基纤维素1.0000 g混合研磨2 min,压片机压力为30 t、保压20 s的条件.实验结果表明,此条件下该方法精密度高、准确性好,并具有快速、高效、样品制备简单、成本低等优点,可用于批量测定长石实际样品.     

X射线荧光光谱仪在水泥检测中的应用

使用粉末压片法制样，以X射线荧光光谱分析法测定水泥中Ca、Si、Al、Fe、Mg、S等主次量元素，分析方法具有较高的精密度和准确度。     

X射线荧光光谱法测定精炼渣成份

采用X射线荧光光谱仪测定精炼渣中TCa、SiO2、MgO、MnO、TiO2、P2O5、Al2O3的含量；研究精炼渣的制样条件及分析条件，测定其精密度及准确度，完全满足生产要求；并为冶炼特殊配制精炼渣的碱度，钢的脱氧、脱硫、脱钛、脱磷效果提供技术支持。     

提高波长色散X射线荧光光谱法测定钼精矿中钼含量的准确率

本文针对X荧光分析仪测定钼精矿中钼含量的主要影响因素进行分析,并确定出钼含量在49%-58%范围的钼精矿样品适宜的测定条件,提高了样品检测的准确率。     

X射线荧光光谱法测定电渣重熔渣成分

试样经熔融制成玻璃样片,用X射线荧光光谱法测定电渣重熔渣主要成分,实验确定最佳熔叠条件和测定条件,标样测量结果与标样值、未知试样测定结果与化学分析值对照表明,本法快速、简便、准确、可靠.     

X射线荧光光谱法测定氧化铕富集物中10种稀土元素

介绍了粉末压片法制样、X射线荧光光谱法测定氧化铕富集物中10种稀土元素含量的分析方法。以D Jongh数学模式对谱线干扰和基体效应进行校正,得到满意的工作曲线。方法的回收率为94.87%~106.12%,相对标准偏差为(n=10)0.066%~4.542%,该方法简便快速、结果准确,能满足日常分析工作的要求。     

X射线荧光法测定海南多目标地调样品中多种元素

采用粉末样品压片制样,用PW2440X射线荧光光谱仪测定海南地球化学样品中的SiO2、Al2O3、Fe2O3、MgO、CaO、Na2O、K2O、Ba、Br、Ce、Cl、Ga、La、V、Mn、Zn、Y、Zr、Nb、Th、Rb、Sr、Ph、P、Cr和Ti等27个组分进行测定。针对海南样品的特点,加入高铝、高钙、高铁和高钛标样进行回归。使用经验系数法和散射线内标法校正基体效应,方法简便、快速,其精密度和准确度完全满足质量临控要求。     

X射线荧光光谱压片法快速分析钼矿石中的钼含量

采用粉末压片——波长色散X射线荧光光谱法测量钼矿石中的钼含量。直接粉末压片制样,利用系列标样制作出标准曲线,采用经验系数法对基体效应进行校正。方法准确度、精密度能满足钼矿石(钼含量1%以下)中钼含量的测定。与化学法相比,本方法分析过程简单快速,精密度高,有更低的检出限。     

波长散射-X射线荧光光谱法测定设施蔬菜集约区土壤中5种重金属

建立了波长色散-X射线荧光法,优选了磨样时间、压片机压力等样品制备条件,考察了基体干扰因素对实验结果的影响,优化了分析测试条件,并快速测定蔬菜集约区内土壤中铬(Cr)、砷(As)、铅(Pb),铜(Cu)、锌(Zn)等5种重金属元素。实验结果表明,方法的检出限为1.5~2.0 mg/kg,定量限为4.5~6.0 mg/kg,各组分测定值的相对标准偏差(n＝5)为2.6%~7.9%。国家标准物质的测定值与标准值之间的误差为-0.3% ~ 1.9%。分析结果与实验室内电感耦合等离子体质谱法的结果吻合,能够满足蔬菜集约区内土壤中5种重金属组分分析的要求。     

波长色散X射线荧光光谱法测定富钛料中主次元素含量

采用荧光专用混合熔剂（67%Li2B4O7：33%LiBO2）做熔剂,溴化锂作脱模剂制备玻璃熔片,X射线荧光光谱法测定富钛料中SiO2、Al2O3、CaO、MgO、MnO、TiO2、TFe中7个主次含量组分。方法中使用了攀钢研究院新研制的3个高钛渣标准样品并在这些标准样品中加入光谱纯TiO2制备人工标样系列,作为校准样品建立了X荧光光谱法测量富钛料中主次元素的方法,经验证,本方法分析的准确度能够满足化学分析的要求。     

玻璃熔融X射线荧光光谱法测定萤石中各组分

采用X射线荧光光谱法,使用PANalytical MagiXPm顺序型X射线荧光光谱仪测定萤石中的F、Ca、Si、P、S、Fe、K、Na等8个元素．以元素的Kα线为分析线,分析结果的精密度、准确度高,分析速度快。     

熔融制样—X射线荧光光谱法测定重晶石中的BaSO_4

快速准确测定重晶石中硫酸钡及其他主次成份的含量,对于地质找矿或选矿试验十分重。本文采用熔融制样—X射线荧光光谱法1～3测定重晶石中Ba、AL2O3、Fe2O3、CaO、MgO、SiO2、Na2O、K2O、Sr等主、次量组分,研究了矿物结构效应,解决了基体效应的影响,试验了制样的条件,确定仪器测量的最佳参数。各元素相对标准偏差（RSD,n=12）≤8%,测定结果与化学法测定值相符。方法快速、准确,便于操作,具有良好的精密度和准确度,已大量应用于重晶石中钡、锶、铁、钙、镁、铝、硅、钾、钠等元素的同时测定。     

理论α系数法在X射线荧光光谱分析Pr6O11富集物样品中的应用

介绍利用ＣｒｉｓＸＲＦ－１１软件计算理论α系数,以校正基体效应的影响。应用该方法测定氧化镨富集物中Ｌａ２Ｏ３,ＣｅＯ２,Ｐｒ６Ｏ１１,Ｎｄ２Ｏ３,Ｓｍ２Ｏ３,Ｅｕ２Ｏ３,Ｇｄ２Ｏ３,Ｔｂ４Ｏ７,Ｙ２Ｏ３的含量,实验结果令人满意。     

用X射线荧光光谱法测定玻璃基材上C TiO2薄膜的组分和厚度

在X射线荧光（XRF）分析中应用基于基本参数法的FP—Multi软件,采用C固定道和Ti、Al、Si扫描道,以99．999％石墨及纯Al、Ti、SiO2四个块样做标样,对玻璃基材上含有C元素的TiO2薄膜厚度及成分进行了测试分析。薄膜厚度的测定结果还与用nkd干涉仪、扫描电镜断面分析等方法的测试结果做对比。证明X射线荧光光谱法测定玻璃基材上C＋TiO2薄膜厚度及成分是可行的。