牛顿环实验的误差分析

系统地分析了理论误差、测量误差及形变误差产生的原因及影响的大小，从实验中总结发现测量误差是主要因素，而测量误差中直径平方差法又优于通常光学实验中所用的半径平方差法。     

牛顿环实验方法的改进

利用指导大学生创新活动计划项目,自主搭建了数字化等厚干涉观测系统,包括计算机,CCD摄像头和透镜组件等装置和一套自行研发等厚干涉数据采集和处理软件,对大学物理实验中的牛顿环实验方法进行了改进,为精确观测牛顿环实验现象提供了一种有效的观测系统和数据处理方法。     

牛顿环实验的应用及误差探讨

本文综述了牛顿环在测量凸透镜曲率半径、测量入射光波长、检测透镜质量等几个方面的应用。每个实验都不会做得尽善尽美,都存在一定的系统误差和随机误差,本文对牛顿环实验存在误差的几个方面进行了改进,包括实验装置、过程、数据处理方法的改进。     

牛顿环实验数据处理及实验方法

本文对用牛顿环测定透镜曲率半径实验的3种数据处理方法(逐差法、加权平均法、最小二乘法)进行了讨论,并提出改进意见。牛顿环实验数据处理中逐差法是现行教材中较通用的方法。透镜凸面曲率半径计算公式为     

牛顿环实验的改进

用摄像头、计算机和多媒体设备替代传统的牛顿环实验的观测系统,能使实验的效果更好,数据的处理更方便.在物理实验教学方面有一定的实用价值,特别适合演示实验.     

牛顿环实验误差分析及改进

详细分析了“用牛顿环测透镜的曲率半径”实验中的系统误差,发现产生较大系统误差的主要原因.提出了减小该实验系统误差的方法——叉丝交点对准法,结果显示新方法所产生的误差明显减小.     

对牛顿环实验的改进

引言在大学光学实验中,牛顿环实验是一个十分重要的实验,是光波干涉现象中分振幅等厚干涉的一个典型例证。学生实验的目的主要在于观察等厚干涉现象,并学习如何用干涉现象来研究和检查介质的表面状况。一、传统装置牛顿环在传统的学生实验中用的装置如图一(a)和(b)。     

牛顿环实验装置的改进及干涉条纹的分析

通过改进牛顿环装置,获得了更加清晰的干涉条纹,从而使得条纹更易于观察,同时也提高了测量的精确度;并运用干涉理论对不同情况下的干涉条纹的光强和对比度进行了分析。     

牛顿环干涉实验的改进及调节技巧

在光学实验平台上做牛顿环的干涉实验时,得到理想的干涉图样的关键是要求各光学元件共轴等高,当光轴严格垂直于牛顿环仪、与光轴成45°的平玻璃片的反射率和透射率均达到50%时(用迈克耳孙干涉仪中的背面镀有银膜的分光板代替平玻璃片,可以达到反射率和透射率各为50%这一要求),干涉图样的实验效果最好.在干涉图样的调节过程中,可以先调读数显微镜和牛顿环仪共轴等高,再调光轴垂直于牛顿环仪,然后再插入分光板(或者先粗调读数显微镜、分光板和牛顿环仪共轴等高,再调光轴垂直于牛顿环仪),最后调节光轴和分光板成45°,这样就可快速得到理想的干涉图样.     

牛顿环实验的研究

理论和实验研究表明,牛顿环实验中平凸透镜和平板玻璃的弹性形变和磨损,影响平凸透镜曲率半径的准确测量,采用干涉级数差法可以消除平凸透镜的磨损和弹性形变、平板玻璃的磨损对平凸透镜曲率半径测量的影响。另外,平板玻璃的弹性形变会引起平凸透镜曲率半径的测量值偏大,可通过测量较高级数的干涉条纹减小这种测量误差。因此,在牛顿环实验中应尽量避免平板玻璃发生弹性形变,也就是干涉圆环的中心暗斑的尺寸应该尽量小,同时测量级数较高的干涉条纹且采用干涉级数差法计算平凸透镜的曲率半径。     

牛顿环干涉实验研究

分析了牛顿干涉实验中存在的几个问题，提出了实验过程和数据处理中减少误差的一些方法。     

牛顿环实验数据计算机分析

通过对非等精度测量的特点分析,给出了利用积分中值判定测量是否为等精度的定量分析,从而得到出了对非等精度测量的误差的修正。利用牛顿环实验数据作了误差补偿并得出了环心消失得级次估计。     

牛顿环实验中的数据处理分析

对牛顿环实验中常见的几种处理数据的方法进行了深入的分析和探讨，在此基础上提出了改进性意见，使实验数据的处理更科学合理。     

牛顿环实验数据处理的最佳方法

介绍了牛顿环实验中的几种数据处理方法,通过对几种方法的理论分析,论证了加权平均法是该实验数据处理的最佳方法。     

牛顿环实验的分析与扩展研究

通过对牛顿环等厚干涉原理的介绍,分析了牛顿环干涉图样中一些特殊图样的形成,同时,为了扩展牛顿环实验的应用,提出了利用牛顿环装置测量透明介质折射率的扩展实验.     

扩展牛顿环实验的研究

将牛顿环实验扩展为一个综合性实验。该实验包括牛顿环法、测量环法和激光球面干涉仪法测量透镜的曲率半径三个内容。     

牛顿环的拓展实验研究

牛顿环实验是研究等厚干涉现象，在测量和光学加工技术上有重要应用。实验教学中可以考虑扩展到如检验光学元件的球面度和材料表面的平整度光洁度，精确测量微小长度和厚度，测量液体折射率以及演示光的偏振性的研究。同时，在半导体技术中可测量硅片上氧化层的厚度等。实验推广到上述几方面，既帮助学生深刻理解基本理论，又扩大了牛顿环的教学与技术应用范围。     

牛顿环干涉实验开放实验拓展研究

本文利用等厚干涉的原理，利用同一仪器，安排不同内容的实验，激发了学生的学习兴趣加深了他们对实验的理解。     

牛顿环实验数据处理方法的探究

分析了牛顿环实验数据处理中的测量的最佳值和不确定度计算方法,把各级暗环直径为各环左右读数之差的测量值当作非等精度测量处理。在实验操作中应选择测较大的环,且使取值也大(m-n=25)时,可以得到一种简单易操作的结果处理方法。     

牛顿环实验中数据处理方法的讨论

对牛顿环实验的数据 ,分别用逐差法、最小二乘法、加权平均法 3种方法进行数据处理 ,同时比较了 3种方法的优劣 ,对结果进行了讨论。