光子,质子X荧光谱的微机数据分析系统

本文介绍建立在ＩＢＭ微机上的Ｘ荧光谱数据分析系统，该系统既适用于光子激发、也适用于质子激发产生的Ｘ荧光谱的解谱分析．     

一台小型全反射X荧光分析装置的研制

介绍了全反射Ｘ荧光分析技术的基本原理、特点。用自行设计研制的一台小型全反射Ｘ荧光装置对原样人发、考古样品等进行了测试、分析，分析灵敏度达几十ｐｇ￣ｐｇ级。     

海底X射线荧光探测系统的研制

研制的海底 X射线荧光探测系统是以新型电致冷 Si- PIN半导体探测器为 X射线探测器 ,以放射性同位素源为 X射线荧光激发源 ,在无液氮冷却条件下 ,能够实现对水底沉积物的原位测量 ,且一次测量可同时完成 5种以上 ,甚至多达十余种元素的定性、定量测定。其检出限可达 (10～ 2 0 0 )× 10 - 6 ,分析精度可达 2 %～ 10 %。     

OLAM神经网络分析X荧光谱的预处理研究

在采用最优线性联想记忆(Optimal Linear Associative Memory)神经网络分析X荧光谱时,可用多种方式对谱作预处理,如去掉多余数据、取对数、横向压缩、标准化等.针对实验测得的水泥生料X荧光谱,分别用上述方法进行预处理,然后再用神经网络分析,与化学分析的偏差作对比.结果表明,去掉多余数据、横向压缩可以减少信息处理量,减少存储空间,提高运算速度,且对精度影响较小;标准化处理对含量较少的成分有优势,对含量大的成分误差太大;对数方法则不适用.     

OLAM神经网络分析X荧光谱的预处理研究

在采用最优线性联想记忆(Optimal Linear Associative Memory)神经网络分析X荧光谱时,可用多种方式对谱作预处理,如去掉多余数据、取对数、横向压缩、标准化等.针对实验测得的水泥生料X荧光谱,分别用上述方法进行预处理,然后再用神经网络分析,与化学分析的偏差作对比.结果表明,去掉多余数据、横向压缩可以减少信息处理量,减少存储空间,提高运算速度,且对精度影响较小;标准化处理对含量较少的成分有优势,对含量大的成分误差太大;对数方法则不适用.     

同位素光子源激发X荧光能谱元素微量分析灵敏度的计算

本文首先计算了100keV以下任意能量光子对任意元素原子的k系光电效应截面,并计算了Si(Li)探测器对任意元素特征X谱线的探测效率,在此基础上对同位素光子源激发X荧光徽量分析的灵敏度进行了理论计算。这些计算可做为进行实验研究建立这种分析方法技术规范的理论依据。     

基于嵌入式ARM-Linux系统的MiniGUI应用设计

MiniGUI是国内著名的为数不多的几个自由软件之一,也是目前比较成熟的嵌入式GUI产品．它是根据嵌入式系统的应用特点量身定做的图形支持系统,具有小巧、可配置和可移植等特点．本文分析了MiniGUI在嵌入式ARM—Linux系统中的移植与配置过程,详细介绍了在交叉编译环境下开发MiniGUI程序的方法和步骤．     

新型X射线荧光测井仪的研制与初步应用

文章介绍了一种新型Ｘ射线荧光测井仪的硬件与软件。该测井仪井下探管外径４２ｍｍ，以充稀有气体的正比计数器为探测器，以８０９８微机芯片管理的２５６道脉冲幅度分析系统，可以一次下井同时测定两种或多种元素含量，实现了在地面计算机控制下的数字传输、数字收录和数据处理。开发的软件具有原始数据采集、能谱分析、含量与储量计算等功能。野外锶矿测井试验表明：Ｘ射线荧光测井仪可在井场实时提供锶、钡两种元素的品位，其耗费的时间周期还不到传统方法的１／３０     

基于X射线荧光的铝硅共渗涂层厚度测量研究

铝硅共渗涂层常喷涂于发动机高温叶片表面，涂层的防护对于延长发动机叶片的使用寿命至关重要。X射线荧光无损检测技术能快速便捷地监控涂层厚度情况，但是目前这种方法对于多元素双层膜铝硅共渗涂层厚度的检测不准确。为了进一步研究多元素双层膜铝硅共渗涂层厚度与X射线荧光检测值的关系，基于X射线荧光无损检测技术提出了一种方法来减小X射线荧光测量数据的误差，再通过验证钼元素荧光对数值与第1层膜厚度之间的线性关系来确定这种方法的可行性，最后基于X射线荧光吸收与发散的原理，拟合出中间层膜的厚度与钼元素荧光之间的计算模型。得出以下结论：当膜中钼元素质量分数大于基底中该元素质量分数时，随着膜厚度值的增加，仪器接收到的荧光效应先减弱再增强，临界值大约为14.3 μm，小于该临界值的铝硅共渗涂层，涂层元素相互渗透对厚度测量的影响不可忽视。     

小型化管激发X射线荧光仪的研制

新一代的小型化管激发X射线荧光测量仪,是为适应地质大调查的需要而研制的.该仪器采用了低功率小型X射线管及35kV高压电源构成的可控X射线源,小型低功耗电致冷Si-PIN半导体探测器,袖珍型计算机为工作平台构成X射线荧光能谱分析系统,根据工作环境的要求,在驻地可直接使用笔记本微机,使其功能强大,直接成图成像及解释.在野外使用掌上电脑,实现仪器的便携化及原位测量.分析元素范围可从S(Z=16)至U(Z=92),检出限为1/106～1/105,可用于地质矿产调查、大比例尺化探测量、环境调查、工业、考古等领域.     

X射线荧光光谱法测定化探样品中的主次痕量元素

采用低压聚乙烯镶边垫底的粉末样品压片制样,用ZSX primus Ⅱ X射线荧光光谱仪测定化探样品中C、N、Na、Mg、A1、Si、P、S、C1、K、Ca、Sc、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、As、Br 、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Mo、Sn、Ba、La、Ce、Hf、U、Th、Pb和Nd,共39个组分,C、N的分析采用RX45、RX61专用分析晶体.使用经验系数法和康普顿散射线作内标校正基体效应,经标准物质检验的分析结果与标样值吻合.用GBW07308国家一级标准物质作精密度试验的统计结果,除U的RSD(n=12)为23.8%,Cl、Sc、Mo、Sn的RSD＜13.0%以外,其余各组分均小于6.0%.     

用微小变动量法计算X射线荧光分析中的理论基体修正

微小变动量法是X射线荧光分析中计算理论修正系数的一种成功的方法。用这种方法计算出基础理论修正系数后,可根据需要选择适当的消去项。本文应用作者编写的计算机程序,计算了熔融玻璃片试样的基础理论修正系数δi i后,消去分析元素i及基元素氧两个修正项,得到熔融玻璃片试样中元素间的理论修正系数α_(i-j)以及氧化物间的理论修正系数Aij。最后用所求得的理论修正系数,采用JIS(日本工业标准)模式,用比较标准法分析了6个铁矿石试样,获得较好的结果。     

基于能量色散X荧光分析法测溶液浓度

目的 溶液浓度是一项重要的计量参数,溶液浓度测量广泛应用于工业和科学研究等领域。为了快速、准确测量溶液浓度,本文提出了能量色散X荧光分析方法。方法 将配制好的10种三氯化铁溶液作为标准溶液,利用能量色散X荧光分析方法测量出溶液中Fe的特征 X 射线峰峰面积,得到三氯化铁溶液的标准曲线,利用该标准曲线,对5组三氯化铁溶液进行了测量。结果 实验结果表明,三氯化铁的浓度与溶液中Fe元素的特征 X 射线峰的峰面积成较好的线性关系。且对五组三氯化铁待测溶液浓度进行数据分析,结果表明实验测得最大误差为1.74%,其他误差都在1%以内,小于传统的折射率测量误差（大约 3%）。另外,为了进一步分析其精确度,分别计算了浓度梯度差。由梯度差可知,最大梯度差为 3.71%,绝大多数在1%以内,最小为0。结论 该方法具有较高的精确度,且出数据快,随测随得,为快速、准确测量溶液浓度提供参考。     

地质样品中23个常量元素和微量元素的X射线荧光光谱仪测定

X射线荧光光谱仪测定地质样品中的23个常量元素和微量元素,采用粉末压片法,测量范围常量元素从0.0026%到90.36%;微量元素从0.094ug/g到1900ug/g。该方法具有简便、快速、准确等优点。     

白云石X荧光光谱分析

选用样品处理相对复杂的熔片法进行白云石中CaO、MgO、SiO2 X 荧光光谱分析.     

野外高灵敏度X射线荧光测量系统研究

针对现行轻便型Ｘ射线荧光仪灵敏度低、检出限差、测定元素少、基体效应校正能力弱等问题,从激发源、探测器、测量电路、微机化四个关键环节入手进行了研究。研制了微型低功率Ｘ射线管激发源;研制了低功耗１０２４道分析器,将其与高分辨率半导体探测器配合,实现了高分辨率Ｘ射线荧光探测;研究和实现了以笔记本式微型计算机系统为核心的微机化;在此基础上,构成了野外高灵敏度Ｘ射线荧光测量系统。该系统可测定多种元素,较轻和中等原子序数元素的检出限达到百万分之几至百万分之十几,比现行轻便型Ｘ射线荧光仪改善了一个量级以上。基体效应校正和数据处理功能大为增强,携带和运输符合环保要求。     

X射线荧光分析测定不同品牌大米中的微量元素

大米是人类从外界获得营养的主要方式之一,大米中的微量元素对人体的健康有重要的意义.为人体合理补充微量元素提供参考意见.本文利用X射线荧光分析方法并结合干灰化样品前处理方法研究了岳阳、五常、新民、哈尔滨、万昌等5种不同品牌大米中K、Ca、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、As、Se、Sr等微量元素的含量;同时,用毛细管X光透镜聚焦的微束X射线荧光扫描了单粒大米中多元素的分布.结果表明,5种品牌大米中所含微量元素种类基本相同,五常大米中对人体有益的元素Ca、Fe、Ni、Zn等含量较高;此外,P、Cl、K、Ca等元素主要富集在大米的胚芽处.大米中微量的金属元素Fe、Cu、Zn等元素分布均匀.     

X射线荧光元素录井技术在油气勘探开发中的应用

通过分析X射线荧光元素录井技术在岩性识别与地层划分、沉积环境与沉积相判别、物性参数计算与储层评价、关键“地质层位”卡层等方面的应用情况,评价该技术在油气勘探开发中的应用效果,并针对技术应用中存在的问题提出技术发展建议,以期深化录井行业从业人员与科研工作者对X射线荧光元素录井技术研究热点变化趋势的理解,进一步拓展该技术的应用研究范围。     

用X射线荧光方法测定薄层样品、镀层和涂层的厚度

该文提出用特征X射线的发射(表层特征谱线照射量率法)或吸收(底层特征谱线吸收法)来测定薄层或涂层的厚度。并根据大量的实验数据和理论分析,确立了正确选择工作条件及确定方法适用范围的依据。实践证明了方法的可靠性和实用性。