微电子器件静电防护探讨

随着我国IT产业的迅速发展和技术水平不断提高,高分子材料、微电子器件广泛应用于各领域及其产品,静电放电损伤给企业造成了重大的危害,因此,静电防护受到企业的普遍重视。研究了微电子器件静电防护的相关内容,提出了静电防护措施,以期为相关工作者提供借鉴。     

静电放电电磁脉冲对微电子器件的双重作用

研究了低电压的静电放电(ESD)对微电子器件造成的潜在性失效,采用人体模型(HBM)对微波低噪声晶体管2SC3356施加不同电压的ESD应力.结果表明:高电压的ESD注入对2SC3356器件造成的损伤主要是不可恢复的损伤,而低电压的ESD注入对2SC3356器件造成的损伤是可恢复的损伤;ESD的注入对器件有双重作用:一方面ESD在器件中可引入潜在性损伤,另一方面ESD对器件有加固作用,并且注入ESD电压越高,这些作用越明显.     

静电放电保护器件性能测试技术研究

为准确测试静电放电(ESD)保护器件的性能、解决ESD产生的辐射场及其高频反射对测试结果的影响,本文研制了基于微带设计和电磁场屏蔽理论的专用测试夹具,评价了该夹具的传输特性,建立了由高频脉冲模拟器、专用测试夹具和示波器等组成的测试系统.利用该系统测试了某型号ESD保护器件的限幅响应时间、箝位电压和峰值电流等性能参数.测试结果表明,该测试系统能够满足ESD保护器件性能测试要求,可广泛应用于ESD保护器件设计和优化研究.     

关于静电危害与静电防护的探讨

本文论述了形成静电危害的基本条件、放电类型、静电测试技术、静电放电理论模型与静电防护理论与技术,并提出了防护静电的措施。     

MOS器件静电放电潜在性失效概述

各类微电子器件在向着微型化与集成化方向发展的同时,随之而来的便是其抗静电放电能力的下降。然而,静电放电不仅能够在微电子器件内部造成明显失效,而且能够在其内部造成潜在性失效。潜在性失效,是目前最具争议的一种失效模式,也最具威胁性。国内外研究人员在此方面积极开展了多项研究并取得了较大的进展,他们的研究结果表明:在MOS器件中确实存在静电放电潜在性失效问题。同时,在他们的研究中对MOS器件静电放电潜在性失效的损伤机理、检测方法等进行了相应研究。     

浅谈静电危害与静电防护

综述了形成静电危害的基本条件、放电类型、静电测试技术、静电放电理论模型,提出了防护静电的具体措施。     

家庭环境中的家用电器的静电防护

阐述了在家庭环境中静电的主要产生源、静电的产生机理、对家用电器的危害及其对人身体健康的影响 ,并从理论上分析了家庭环境中的家用电器的静电防护措施。     

民用飞机静电防护设计

为保证民用飞机飞行的安全性和可靠性,首先对静电产生的机理以及静电放电的类型进行了研究。然后提出了静电防护搭接的措施：安装静电放电器、着落接大地、停机接大地等。通过搭接安装以及搭接电阻阻值测量分析,结果表明：飞机静电防护技术是可行的;静电放电器构造的选择和位置布置决定了静电放电的效果;搭接和接地模型必须按照工艺规范的要求进行操作,才能满足民用飞机静电防护设计的要求。此外,对飞机复合材料的静电防护进行了研究。     

微电子机械系统(MEMS)器件中的普通物理学原理

简要介绍了微电子机械系统,一个新兴的高新技术领域,并以微机械陀螺和加速度计结构为例说明了物理学基本原理在MEMS器件中的应用.     

功率器件芯片封装和静电放电失效分析

针对一般失效机理的分析可提高功率半导体器件的可靠性.利用多种微分析手段,分析和小结了功率器件芯片的封装失效机理.重点分析了静电放电(electrostatic discharge,ESD)导致的功率器件失效,引入了ESD电热理论模型.实验证明,该模型能快速准确地分析金属引线的抗ESD强度.     

关于实验室静电防护的若干基础问题

根据静电来源及放电原理,分析了静电放电对设备和元器件所产生的危害,提出了实验室在接地系统、人员、设备以及环境等方面的防静电措施.     

静电对微电子产品的危害及防护原则

静止的电荷有了接地通路时产生静电放电(ESD),在人类的日常生活中这种现象是不可避免地存在的。集成电路技术的发展使电子产品更加小型化和结构复杂化,更易受ESD的攻击,电子制造商每年都因此造成很大的损失。按照防护ESD的五项原则积极防护是电子制造商降低生产成本,提高产品质量,赢得用户信誉的必由之路。     

静电放电危害及防护技术研究

静电放电会使电子元器件失效或存在隐患,它对电子产品的生产和组装会造成难以预测的危害。在介绍静电产生的原因及静电放电对电子产品造成的危害基础上,重点探讨了静电放电的防护技术。     

航天器厂房测试静电防护探讨

航天器包括大量的微电子部件和火工品,极易发生静电损坏。航天器厂房作为其储存和测试的重要场所,是保护它们免遭静电损害的重要屏障。通过分析航天器厂房测试过程中危险静电源及静电损坏途径,给出相应的静电防护措施,期望对航天器测试发射中静电防护工作带来帮助。     

人体静电在电雷管生产和使用中的危害及防护

电雷管操作人员的自身静电，经常使电雷管在使用过程中发生意外事故。为了有效地防止人体静电对电雷管的危害，对人体静电进行了比较深入的探讨，并提出了一些解决措施。     

3位获诺贝尔奖提名的微电子器件华裔科学家

 微电子技术是现代信息化社会的基石,而微电子器件是微电子技术最重要的组成部分。介绍了3位目前仍然活跃在国际微电子学术及产业界的著名科学家--施敏、萨支唐和邓青云的主要贡献以及对微电子产业的巨大影响力。施敏是目前电脑、手机等电子信息产品的必备组件--非挥发存储器的发明者;萨支唐是现代集成电路主要采用的技术--CMOS技术的发明者;邓青云是第三代平面显示最有发展前景的技术--OLED之父。     

微电子工艺可靠性研究

可靠性是产品质量的重要组成部分,微电子工艺可靠性是保证IC产品可靠性的关键一环,从IC生 产环节考虑,详细讨论了微电子工艺可靠性及其保证措施,重点讨论了原材料控制、设备与工艺控制及洁 净环境控制的重要性,这些因素是生产高可靠性IC产品的有力保证,     

数据挖掘在静电放电防护理论中的应用

研究了应用遗传算法进行关联规则挖掘的方法，提出了对遗传算法中适应度函数的构造、数据的编码等的改进方案，将改进的自适应Pc,Pm算法应用到遗传算法中来，从而提高了算法的效率；将其应用到静电放电防护的实验中去，取得了良好效果。