用X射线线形精炼法分析纳米晶体的微观结构

利用广角X射线衍射仪,采用单线傅氏线形精炼分析法,研究不同制备方法及不同处理条件的纳米晶体的晶粒大小和微观畸变。     

聚乙烯电缆皮形变结构的X射线衍射分析

对聚乙烯电缆皮室温单轴拉伸测试。当拉伸速度达到一定数值时,其应力－应变曲线出“类屈服”现象。     

Mo／Si多层膜的制备及X射线衍射表征

采用磁控溅射方法制备Ｍｏ／Ｓｉ多层膜。通过小角Ｘ射线散射图证明该多层膜是原子水平的,界面清晰,与设计周期基本相同。通过Ｘ射线衍射方法检测了该多层膜的组成和结构,同时对Ｍｏ／Ｓｉ多层膜的位错密度等参数进行定量研究。结果表明,该超晶格的位错密度随周期厚度的减小而增大,晶粒尺寸随周期厚度的减小而减小。     

射线衍射法测Zn电镀层中的残余应力

介绍了用X射线衍射法测定残余应力的基本原理与实验步骤,并用X-射线法测量了电镀在低碳钢上Zn镀层中的残余应力,实验结果表明镀层中的残余应力为拉应力.同时对残余应力的来源进行了讨论与分析,对X射线法测量Zn镀层中的残余应力所出现的问题进行了说明.     

多层结构的X射线双晶衍射研究

用Ｘ射线双晶衍射术研究了玻璃薄层－铂膜－α－Ａｌ＿２Ｏ＿３多层结构。发现不同材料的玻璃层，使多层结构因热失配对铂膜产生不同的应力。对铂薄膜电阻器件的测量结果表明：应力引起器件的电阻值变化；不同的应力状态，产生不同方向的附加电阻。选择适当材料的玻璃层，使热失配在铂膜内产生相反的应力，从而造成相反的附加电阻。以这种应力补偿方法提高了薄膜铂电阻的可靠性。     

InxGa1-xAs/GaAs超晶格的X射线衍射研究

超晶格材料是用现代薄膜生长技术制成的一种新型材料。自从1970年美国首次在GaAs半导体上制成了超晶格结构后^[1],又研制出GaAs和各种Ⅲ-Ⅴ族化合物超晶格材料,而后Ⅳ-Ⅳ族、Ⅱ-Ⅵ族,以及非晶态半导体超晶格等也相继出现,有一些已经获得实用,制成了重要的微电子和光电子器件。     

关于细丝Fresnel衍射光强分布函数的讨论

在 Kirchhoff衍射理论基础上建立了细丝衍射光强分布函数,解释了细丝Fresnel衍射图样中干涉条纹的分裂现象。     

金川公司尾矿库坝体浸润线有限元模拟分析

应用有限元分析某尾矿坝的浸润线,认为（1）尾矿坝浸润线与放矿滩长有关系,随着放矿滩长加大,浸润线远离砂砾石坝体．从有限元模拟情况可知放矿滩长大于70m时各工况下浸润线不在坝趾出露,这时坝体是稳定的．（2）对于建在透水性强的坝址上的尾矿坝,坝体的填筑高度对浸润线在坝趾出露影响不明显．     

用解析法求解圆柱与圆锥正交相贯线的特殊点

运用解析法研究相贯线的特殊点,解决了画法几何学中解决不了的问题．     

500kV双回输电线路中相、下相V串塔型应用分析

随着我国经济的不断发展,对电力的依赖也越来越大。目前,我国500k V双回交流线路的铁塔及其附属设施投资约占本体投资的40%,因此,有必要对程铁塔型式及塔型系列进行深入研究。本文以综合指标最优、安全、可靠为目标,结合设计条件、工程地形地貌特征、超高压500k V双回路线路的电气、机械特点,采用宏观规划和微观规划相结合的方法进行分析研究,并结合国内500k V双回路输电线路工程,针对中相V串、下相V串的排列方式,确定合理的工程规划,降低工程投资,实现输电线路建设方式的转变。