“双源散射法”校正X射线荧光分析中的基体效应

引言在X射线荧光分析中,待测元素的含量不仅仅是其特征X射线强度的函数,而且也是样品对初级辐射和特征X射线的质量吸收系数的函数。在理想条件下,待测元素的含量与特征X射线的强度呈线性关系。对于地质样品,这种理想条件严格说并不存在,需要对测量到的     

同步辐射 X—射线荧光分析法简介

1972年 P.Horowitz 和 A.Howell 等人,首先使用同步加速器作辐射源做 X-射线荧光分析,为分析化学提供了一个新的手段。众所周知,X-射线荧光分析,是以 X-射线束作为探针入射到试样中,根据不同元素产生的特征 X-射线荧光去标识元素的。它是一种直接和较简便的方法。但是,常规手段产生的 X-射线强度较弱,而入射 X-射线束的强度又决定了它的分辨率,且在大气中很难准直,本底也比较高。同步辐射加速器作为 X-射线源,则能量可变,强度高且稳定,分辨率较高,准直性好,对分析工作较为有利,可以较大辐度提高方法的灵敏度和准确度。     

X-射线荧光光谱法测定石灰石粉中的SiO2含量

本法采用压片的方式将样品压制成片,通过X-射线荧光光谱仪来测定石灰石粉中的SiO2含量,本方法操作简便,分析周期短,结果符合允许误差要求,可用于生产检验。     

微束X射线荧光分析谱仪及其对松针中元素的分布分析

介绍了一种小型的微束X射线荧光分析谱仪,它是由导管X光透镜和能量色散X射线荧光分析谱仪组成.谱仪具有较高的空间分辨率和能量分辨率.使用本谱仪对松树针叶进行了微区分析,得出各种元素沿松针长度方向和横切面径向的分布规律.结果表明使用X光透镜的微束X射线荧光分析方法可以实现植物样品的微区分析,有助于进一步了解植物的生长与元素迁移的关系.     

X射线荧光光谱法测定锰铁中的锰、磷、硅

研究了采用X射线荧光光谱仪测定锰铁中的分析元素,研究了系统制样方法:采用粉末样品压片制样,并利用内控标准元素(铁)作为主量元素(锰)的强度参比.本方法可用于锰钦中Mn、P、Si的同时测定.     

X射线荧光光谱技术在地学研究中的应用

该文简单介绍X射线荧光光谱（XRF）技术应用最新进展,阐明了X射线荧光光谱检测技术的基本原理和分析方法。着重对该技术在中国地学研究和多目标地质调查中的应用作一回顾,包括地质样品分析需求,勘查地球化学样品的多元素分析,稀土元素分析。指出了我国目前X射线荧光光谱检测技术存在的问题,并对X射线荧光光谱检测技术的发展方向进行了展望。     

X-射线荧光峰值法测定茶叶中无机元素质量分数

采用X-射线荧光光谱法(X-ray fluorescence spectrometry,XRFS)快速无损测定茶叶中Al,P,S,K,Ca,Mn,Fe,Ni,Cu,Zn和Pb等11种元素的质量分数.传统的能量色散型X-射线荧光光谱仪大多是采用峰面积法建模,但由于不同的元素在出峰位置上往往会出现重叠的现象,因此容易对试验结果造成误差.文中尝试用峰值法进行建模分析,所测11种元素种元素采用PLS+ANN方法建立校正模型,除Ni的预测相关性较差(R=0.6)外,其余10种元素均取得了较佳的预测效果.其中Ca,Zn 2种元素的预测相关系数在0.7以上;P,S,K,Cu,Pb等5种元素的预测相关系数在0.8以上;Al,Mn,Fe等3种元素的预测相关系数均在0.9以上.结果表明采用多元线性峰值法在X-射线荧光光谱快速检测无机元素质量分数中可以达到较好的预测效果.     

便携式荧光仪快速测量多金属矿床中的镍铜品位

本项研究工作解决了放射性同位素源X射线荧光分析技术中,使用闪烁测探器的便携式X射线荧光仪不需要装卸更换滤片快速测量几个待测元素的强度,并且进行基体效应校正的问题。这种方法简便易行,能够节省测量时间,提高工作效率。     

基于枫叶的碳量子点制备及其发光性能

采用水热法,以枫叶为碳源一步合成了碳量子点(carbon quantum dots,CQDs)。通过高分辨透射电子显微镜、X射线光电子能谱仪、傅里叶红外光谱仪、热重分析仪、紫外可见光吸收光谱仪等手段对其形貌结构和光学性能进行了研究。结果表明:CQDs主要由C、H、O、N元素组成,表面富含C=C、C=O、C—H、C—N及N—H等官能团,呈现出无定形结构;其在紫外光激发下发射蓝色荧光,具有激发依赖特性,在激发波长为360nm时的荧光强度达到最大,对应荧光发射波长为438nm;CQDs在高离子强度环境下表现出高的荧光稳定性,说明其可用于生物标记和分析检测领域。     

用X射线荧光法测定黄芪中的多种矿质元素

报道了理学3070型X射线荧光光谱仪在测定宁夏黄芪样品矿质元素中的应用．采用焦化法制备黄芪样品，精密度统计结果表明，宁夏黄芪样品矿质元素的RSD(n=10)为0．2％～12％．以GBW07602，GBW07603．GBW07605国家植物标准为参考物质进行样品校准，实验结果表明，用X射线荧光法测定的结果与标准值基本相符，并用此法将宁夏黄芪与其他地区黄芪进行了比较．     

铜矿石化学分析方法概述与评价

电感耦合等离子体发射光谱(ICP-AES)和X射线荧光光谱(XRF)已成为当今铜矿多元素分析的基本的有效的技术方法。因其具有分析速度快、精度高、灵敏度高、重现性好、分析元素范围广等优点,广泛的应用于金属矿石样品的成分分析。对电感耦合等离子体发射光谱(ICP-AES)和X射线荧光光谱法(XRF)进行了概述,并对其分析方法的优缺点进行了评价。     

玻璃熔融X射线荧光光谱法测定萤石中各组分

采用X射线荧光光谱法,使用PANalytical MagiXPm顺序型X射线荧光光谱仪测定萤石中的F、Ca、Si、P、S、Fe、K、Na等8个元素．以元素的Kα线为分析线,分析结果的精密度、准确度高,分析速度快。     

EDXRF中几何探测光路分析及其优化设计

能量色散X射线荧光分析因其分析速度快、准确度高、分析过程简单等优势已经广泛的应用到医疗、考古等诸多领域。探测光路的最优化设计可以减小仪器散射本底,降低检出限,提高仪器的分辨率及探测效率,增强特征X射线的全能峰的峰背比,改善仪器的工作性能。应用自制的一款低检出限、高分辨率的能量色散X射线荧光分析仪,通过对纯元素Cu特征X射线探测完成了光谱仪几何光路最优化设计。实验结果表明,X射线管与样品的夹角、样品与探测器的夹角均为45°,X射线管到样品、样品到探测器的距离均为10mm时,特征X射线的峰背比最佳。同时将Al-Pb准直加装在光路中进行本底测量,散射本底以及仪器的检出限大大降低,提高了仪器的分辨率及探测效率,为痕量和微量元素的分析提供了优化的光路解决方案。     

在扫描电镜中用x射线荧光法(SEM-EDXRF)测硅衬底上铝膜厚度

在以前的工作中,我们实现了扫描电镜中的x射线荧光分析(SEM-EDXRF),得到了较理想的原级x射线束。现在,我们又利用SEM-EDXRF方法测量了硅片上的铝膜厚度,其原理是测量由衬底发出的x射线荧光强度。对硅片上有不同厚度铝膜样品测量结果表明,衬底的x射线荧光强度的对数与膜厚成线性关系,并与理论符合很好。本实验预示了在扫描电镜中利用EDXRF方法测微区膜厚的可能性。     

X射线荧光光谱仪用于检测作为中密度纤维板中胶料标记的CuSO4的定量分析方法

中密度纤维板生产中胶料的用量直接关系到产品的生产成本和产品质量及性能。将硫酸铜溶液加入到胶料中进行胶料标记可用来测控施胶量。使用X射线荧光光谱仪来定量分析作为中密度纤维板中胶料标记的CuSO4,建立标准工作曲线,并对样品进行分析精度、灵敏度、稳定性的试验。结果表明,Cu元素含量与分析线强度之间存在良好的线性关系,方法的效果良好。     

铁矿石的X-射线荧光光谱分析

在3070型X-射线荧光光谱仪上,对铁矿石中Fe,Ca,si,Mn,Al,Mg,P等七个元素的仪器测试条件分别进行了选择。选用不同类型铁矿石多个标准样品进行数学校正回归从而确定最终校正项及校正系数,应用于实际试样分析。得到满意的结果。由此而确立的熔融法制样,经验系数法数学校正,测定铁矿石中TFe,CaO,SiO_2,MnO,(Al)_2O_3,MgO,P的X-射线荧光光谱分析方法,可适用于原矿铁精矿、烧结矿、球团矿等各种类型的铁矿,使用统一的工作曲线,分析误差符合日常生产分析要求。     

地质样品中23个常量元素和微量元素的X射线荧光光谱仪测定

X射线荧光光谱仪测定地质样品中的23个常量元素和微量元素,采用粉末压片法,测量范围常量元素从0.0026%到90.36%;微量元素从0.094ug/g到1900ug/g。该方法具有简便、快速、准确等优点。     

30—130keV X射线照射量率绝对测量

我们利用一台GTY—200—20型工业X射线机,建立了6—80keV的K荧光X射线源和40—160keV连续过滤X射线源。为了能实施对所形成的X射线辐射场进行照射量率的绝对测量,我们建立了适用于能区在30—130kV的自由空气电离室和它的电测装置。     

浅谈X射线荧光分析

X射线荧光光谱分析作为常规分析手段,现已成为物质组成分析的必备方法之一。本文主要介绍了光谱分析法和光谱仪的种类及其特点,利用x射线荧光分析水泥成分,并简述了各种仪器设备对国民的影响。     

EuOOH和Eu_2O_3混合物的水热制备及其荧光性质

通过水热的方法制备了EuOOH和Eu2O3混合物。采用X-射线衍射、能量弥散型X-射线谱和扫描电镜技术表征产物的晶体结构、组成和形貌。实验表明,通过控制条件水热温度和反应时间可控制产物的形貌和尺寸。产物的最大激发波长位于204 nm处,于592和617 nm处有较强的荧光发射,且其发射强度和激发强度皆随制备温度的增加而增加。