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1.
用活度仅为2.7μCi的~(60)Co弱γ源代替强源,测量了~(60)Co源γ光子在Al、Zn、Sn、Pb四种物质中电子对产生近阈截面。验证了在近阈条件下,对产生截面满足σ=(Z~2 αZ~4)σ_0关系式,求得对~(60)Co γ光子α=(1.62±0.30)×10~(-4),并用与~(22)Na源对比测量方法求得四种物质对产生的绝对截面值。测量结果与国外用~(60)Co强源的测量值在测量误差范围内是一致的,并达到同等水平的测量精度。 相似文献
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蔡树榛 《复旦学报(自然科学版)》1977,(2)
在带状线和微带线电路中,介质的介电常数是设计电路所依据的最基本的参数。在实际工作中,由于不能精确知道介质的介电常数而使电路设计很难最佳化,或者需要作多次试验才能得到较为满意的结果。本文提出一种用二探针的方法来测量介电常数或有效介电常数,测量简便,精度估计可达5×10~(-3)。 相似文献
3.
研制的海底 X射线荧光探测系统是以新型电致冷 Si- PIN半导体探测器为 X射线探测器 ,以放射性同位素源为 X射线荧光激发源 ,在无液氮冷却条件下 ,能够实现对水底沉积物的原位测量 ,且一次测量可同时完成 5种以上 ,甚至多达十余种元素的定性、定量测定。其检出限可达 (10~ 2 0 0 )× 10 - 6 ,分析精度可达 2 %~ 10 %。 相似文献
4.
提出了一种新型光纤准白光干涉测距系统,系统由定位干涉仪和扫描干涉仪两部分组成,将目标的定位过程和测量过程分开,可实现绝对距离测量。同时,在定位干涉仪中加入光开关和多组已精确标定、具有不同光程差的光纤组,完成两级多次量程倍增,使得系统可只利用短扫描导轨(如200mm)进行大量程(10m以上)、高精度(相对精度可达10~(-5)量级)的绝对测距。 相似文献
5.
气溶胶线性吸收系数及其吸收可见辐射的研究 总被引:3,自引:0,他引:3
基于测量气溶胶吸收系数的粒子采样法,导出了表征气溶胶总体吸收性能的线性吸收系数E_l,从而简化了测量设备和手续,为研究气溶胶辐射吸收性能提供廉价而简便的测量工具。分析和实验表明,E_l实质上是Beer—Lambart定律中吸收系数Ka的合理近似。在纽约州奥尔巴尼和南京近郊外场观测表明,E_l值分别是10~(-6)-10~(-5)M~(-1)和10~(-5)M~(-1)。工业城市和排放源的下风方的E_l值普遍较大。E_l值与能见度呈反向趋势。 相似文献
6.
高精度开口式直流大电流比较仪 总被引:3,自引:1,他引:2
任士焱 《华中科技大学学报(自然科学版)》1984,(1)
本文论述了一种高精度开口硅钢片铁芯磁调制型直流大电流比较仪的工作原理、灵敏度计算及系统静差分析.经鉴定,该比较仪电流比率精度为5×10~(-5),由标准电阻取信号准确度为3×10~(-4)(现场校验)和5×10(-4)(现场测量),开口重复性误差不大于1×10~(-5).文中对误差分析和仪器的特点也作了介绍. 相似文献
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8.
本文评价了14.6MeV 中子的~(56)Fe(n,p)~(56)Mn 反应截面,评价值为(109.6±0.6)×10~(-27)cm~2。又报告了利用我校400kV 高压倍加器 D-T 中子源的测量工作。中子通量密度是用~(27)Al(n,p)~(27)Mg 和~(63)Cu(n,2n)~(62)Cu 反应截面进行刻度的.~(56)Mn 的γ放射性是利用 NaI谱仪和高纯锗多道谱仪进行测量的。经修正后的测量结果为(110.7±1.9)×10~(-27)cm~2,在误差围内与评价值相符。 相似文献
9.
研究几种细胞分裂素对钌联吡啶电化学发光行为的影响.研究结果表明,在酸性条件下细胞分裂素增强了钌联吡啶的电化学发光,测得的钌联吡啶电化学发光增强值与所加入细胞分裂素的浓度呈良好的线性关系.最优条件下,测定玉米素、玉米素核苷、6-呋喃氨基嘌呤、异戊烯基腺嘌呤等几种细胞分裂素的线性范围分别为1.0×10~(-6)~1.0×10~(-4)、5.0×10~(-7)~1.0×10~(-4)、2.0×10~(-6)~1.0×10~(-4)、8.0×10~(-7)~5.0×10~(-5)mol·L~(-1),测定检测限均可达10~(-7)mol·L~(-1)数量级.该法操作简单,可用于细胞分裂素的灵敏度检测. 相似文献
10.
杜宽仪 《青海师范大学学报(自然科学版)》1981,(2)
本文探讨阿贝比长仪的概率密度分布函数是否遵循正态分布函数,即 P_(x)=1/(σ(2π)~(1/2)) exp[-((χ-μ)~2)/(2σ~2)]. 一.对一条光谱线进行一系列的等精度测量. 第一“单次”的测量列,N=120次,其测量值见附表(一). 第二“单次”的测量列,N=148次,其测量值省略附表. 二.误差的正态分布在理论上是概率论的中心极限定理的必然结果.但中心极限定理是有条件的,即随机变量的数目要很多;每一个随机变量对总分布的影响很小;且测量是独立的. 相似文献
11.
用光学方法测量半导体禁带宽度的温度系数 总被引:1,自引:0,他引:1
马全喜 《河北大学学报(自然科学版)》1993,(3)
本文提出了一种测量半导体禁带宽度温度系数的方法,推导出一个求dEg/dT的公式。利用这一公式,在室温附近测量计算了砷化镓单晶的禁带宽度温度系数,得到结果为-3.97×10~(-4)ev/k,这与人们公认的-3.95×10~(-4)ev/k极其接近,说明作为一种基本测量方法,是切实可行的。 相似文献
12.
暂不论金属中电阻的实质究竟是什么,目前它仍是揭露结构变化中常用而又较灵敏的一种方法;至于电阻与力学性质间的关系问题,Pry同Hennig及Berghout也曾先后作过初步讨论。我们这次借此两种方法(电阻的同力学的)平行的测量了99.98%多晶纯铜室温以上的热软化激活能,所用实验方法及结果如下: 将直径为0.47毫米上述铜丝截成长为80毫米的试样,经适当热处理后得到晶粒大小为0.06毫米的均匀细晶组织。为了以后形变同阻测量方便起见在试样两端都焊以小银珠,直径约2毫米。电阻测量即用一般电位计法,其精确度可达10~(-6)欧姆;所用小型拉伸机形变速度为10~(-1)毫米/秒,应力测量最大偏差约±0.14千克/毫米~2。所有预形 相似文献
13.
“PW—Ⅱ型光波导测试仪”是我国首次研制成功的测量厚膜参数的新型精密仪器。文章介绍了该仪器的测量原理和结构特点。对仪器的测量精度进行了理论分析和数学推导,并采取了相应的技术措施,给出了精确的实测计算结果:薄膜折射率测量精度的绝对值≤1×10~(-4);薄膜厚度测量精度的绝对值≤1×10~(-2)μm。该仪器还可以用来精确测量薄膜的损耗,并能用于各向异性薄膜特性参数的测试与研究。 相似文献
14.
15.
本文介绍一种脉冲幅度采集电路与单板计算机构成一个γ能谱数据获取和处理系统。这一多道分析器的精度为256道,分析速度为7×10~3次/秒。文章给出了用该分析器测量~(60)Co、~(137)Cs、~(152)Eu三种放射源的γ能谱。结果表明,本系统是一个具有数据处理功能、简单,经济的多道分析器。 相似文献
16.
用LIBS方法测量铝合金中的合金元素 总被引:2,自引:0,他引:2
将高能激光脉冲聚焦在合金样品表面形成样品的高温等离子体,用光栅光谱仪与增强型电感耦合装置(ICCD)分析等离子体的发射谱线来测定合金中的元素种类与浓度.实验以系列标准铝合金的光谱来标定Fe,Si,Cu的定量分析标准曲线,分析了铝合金中主要元素的测量精度与探测限.研究表明,该方法在合金元素质量分数大于0.01%时,测量相对误差在5%之内;在合金元素质量分数低于0.01%时,测量绝对误差在0.001%之内,对3种合金元素的检出限可达6×10-5~10×10-5左右,且采用基体元素作为内标可进一步提高分析精度. 相似文献
17.
《华中科技大学学报(自然科学版)》2017,(7):105-109
提出了一种在中高频交流叠加直流磁场的作用下利用磁流体布朗弛豫时间进行温度测量的方法.通过测量交流磁化率得到磁流体的布朗弛豫时间,根据在交直流磁场(交流频率为5~10kHz,磁场为6×10~(-4)T,直流激励磁场为7.5×10~(-4)~30.0×10~(-5) T下布朗弛豫时间与温度的关系模型获得温度信息.构建了交流磁化率的测量系统来获取弛豫时间并用实验实现了温度测量方法,测量的温度误差小于0.15K.该方法可以实现磁纳米粒子在中高频交流激励磁场下的非侵入式的温度测量. 相似文献
18.
克服扭摆吊丝非线性影响的方法 总被引:1,自引:1,他引:0
采取本底曲线扣除措施,扣除扭摆吊丝弹性恢复力矩非线性变化和环境温度变化产生的系统误差,可将扭摆的测量精度提高到9.6×10~(-3),周期的最大相对起伏减小到9.4×10~(-3)。 相似文献
19.
本文采用软磁坡莫合金环和场效应管设计了一种结构简单的非接触式直流电流传感器.这种传感器采用了磁多谐振荡器的电路结构,适合于微弱磁场和电流的测量.文中分析了测量直流电流时的工作原理,讨论了设计思想.研究表明,这种直流电流传感器灵敏度可达1mV/10μA,线性度可达2.4×10~(-4),精确度可达0.5%. 相似文献
20.
黄波 《南京邮电大学学报(自然科学版)》2015,(2):34-39
提出了一种静止、可视两目标之间基于载波相位高精度测距技术:第一步,借助GPS、伪随机码相位自主测距或超宽带等辅助测距手段得到一个距离粗测值和测量精度;第二步,基于已有距离粗测值和测量精度选择载波频率对,消除基于载波相位测距时引入的整周模糊度问题,然后基于载波相位双-单边测距技术,并借助伪码相位消除两目标上面载波相位观测时间差,得到一个精度更高的距离测量值;基于新得到的距离测量值和测量精度,重复第二步过程,渐进提高测距精度直到满足需要的精度为止。理论分析和现有工程技术实现表明,最终测距精度可达微米级。 相似文献