小角X射线散射确定非晶合金中结晶粒子的粒度分布

近年来一些学者应用小角X射线散射技术(SAXS)研究了非晶合金的晶化和结构弛豫过程,但至今未见确定结晶粒子粒度分布的报道,确定非晶合金晶化过程中结晶粒子的粒度分布将有利于了解结晶粒子的长大过程,本文在文献[5]的基础上,将Cu_(73)Sn_6Ni_6P_(15)非晶合金经过473K不同时间的时效处理后,对结晶粒子粒度分布的改变,进行了小角X射线散射的研究。     

小角X射线散射方法测定二氧化硅干凝胶的比表面

应用同步辐射小角Ｘ射线散射方法测试了不同制备条件下二氧化硅干凝胶的孔隙结构,发现了散射曲线对Ｐｏｒｏｄ定理和Ｄｅｂｙｅ散射理论的遵守与偏离（正偏离和负偏离）的各种情况．在遵守Ｐｏｒｏｄ定理和Ｄｅｂｙｅ散射理论的情况下,Ｐｏｒｏｄ方法和Ｄｅｂｙｅ方法所得的比表面比较接近．在偏离Ｐｏｒｏｄ定理和Ｄｅｂｙｅ散射理论的情况下,提出了相应的比表面计算方法,所得结果同样取得了较好的一致性．     

小角X射线散射测定L_(C4)铝合金时效析出的相形状和尺寸

小角X射线散射(SAXS)技术被广泛地用于确定粒子尺寸参数,但用于形状测定的工作不多,其困难是计算工作繁琐,并且只能针对具有形状和尺寸一致的稀疏粒子系统(以下简称稀疏均匀系)。近年来Reuther等人应用SAXS技术确定了一种高聚物凝胶粒子的形状和尺寸。     

非晶质岩石结构的RDF研究

利用广角度的X射线散射 (WAXS)得到的全径向分布函数 (RDF)研究非晶质岩石结构已有报道 .但是 ,对于像非晶质岩石这样组成复杂的物质 ,从全径向分布函数只能得到非常粗略的结构信息 .目前还没有好的方法能将全分布函数分离成能够表征结构细节的偏分布函数 .为更深入地研究非晶质岩石的结构特征 ,用多峰重叠分峰法将全分布函数上非对称峰分解为近似对称的分立峰 ,通过分析分立峰的峰参数及其与组成的关系 ,获得了进一步的结构信息     

小角X射线散射确定Lc4铝合金时效析出粒子的体积

对于单分散系统,可以用小角X射线散射(SAXS)确定粒子的体积,这类工作迄今不多见。确定粒子体积需要大量计算工作,并且需要采用一些处理实验数据的特殊方法才能获得正确可靠的结果。     

高压加热过程中Zr41.2Ti13.8Cu12.5Ni10Be22.5块状非晶合金中的非晶—晶化—非晶相转变

众所周知,非晶合金的晶化是指由非晶态到结晶的转变,在加热过程中这种转变是不可逆的。在研究高压下Nr41.2Ti13.8Cu12.5Ni10Be22.5块状非晶合金晶化过程时,发现该非晶合金在加热的某一阶段出现了晶态到非晶态的逆转变。这种反常现象可能是由于在高压退火过程中形成了吉氏自由能高于非晶态的过饱和固溶体相。     

同步辐射X射线荧光微探针用于骨质疏松股骨头切片元素分布的研究

使用同步辐射X射线微探针技术对正常和骨质疏松股骨头切片元素浓度分布进行扫描测量。详细介绍了切片样品的制备和扫描实验装置,获得了Ca,P,K,Fe,Zn,Sr和Ｐb等元素在股骨头切片组织中（包括软骨、密度骨和松质骨）的精细分布ＣＴ成像,结合Ca与P,K,Zn和Sr等元素的相关性统计,探讨了骨矿物质流失途径和元素对维持正常骨结构的生理功能。     

同步辐射X射线衍射研究Si中δ掺杂(Sb)结构

半导体中掺杂是控制半导体的光电性能的手段,杂质在半导体中的浓度和分布等结构参数与材料的物理性质直接相关。随着分子束外延等材料生长技术的发展,新型的半导体材料如超晶格已经广泛地吸引了人们的注意。δ掺杂是近年来国际上出现的又一种新的结构,它可减少二维电子(空穴)气系统中的杂质离子散射,在科学和技术应用上都有重要意义。 δ掺杂样品中的杂质离子仅分布在几个纳米的尺度内,一些常用的结构成分分析方法难以进行检测。如Rutherford背散射(RBS)、中能离子散射(MEIS)只对浓度原子百分比大于10~(-2)％杂质敏感,而二次离子质谱(SIMS)的空间分辨一般为3μm左右。X射线是检测物质结构的有效方法,常规光源的强度不足以测量到足够的衍射振荡来分析δ掺杂的结构。同步辐射光源是高亮度的X射线光源,它已成功地用来测量δ掺杂的结构。 北京同步辐射装置漫散射实验站所用光源来自4W1C光束线,X光经一块压弯的三角形硅单晶单色化并水平聚焦后,再由一块全反射柱面镜进行垂直聚焦和滤去高次谐波,在样品处得到光斑大小为0.3mm×0.5mm、垂直发散度为0.1m rad的单色光。本实验中,三角弯晶为Si(111),所得的单色光波长为0.154nm。衍射平面在垂直方向,以利用同步光的水平偏振和垂直发散度小的特点。样品和探测器     

在磷硅酸盐玻璃中八面体配位的硅:K边X射线吸收光谱研究

<正>众所周知,在高压条件下,硅酸盐矿物和玻璃中的硅可以形成八面体配位,但在通常的低压硅酸盐玻璃中,硅为四面体配位,因为玻璃中硅的八面体配位会迫使形成周期性结构,破坏玻璃的非晶态。目前几乎没有文献报道在低压硅酸盐玻璃中存在八面体配位的硅。很久以来,人们一直对于含磷的硅酸盐玻璃和熔体有很大兴趣,因为一方面含磷的硅酸盐玻璃是很有前景的光导纤维材料,另一方面,在地球化学上P_2O_5加入到岩浆体系中,会导致液相不混溶,降低岩浆的液相线温度和粘度,影响元素在固相-液相和液相-液相之间的分配,尽管有报道证明在钠的磷硅酸盐玻璃中存在八面体配位的硅,但此结果仍有一定的争议。本文采用同步辐射的硅K边X射线吸收光谱研究了硅在SiO₂-P₂O₅和Na₂O-SiO₂-P₂O₅体系的磷硅酸盐玻璃中的结构与配位,以及硅的配位几何随玻璃中P₂O₅含量的变化。     

X射线衍射法测定Na2SO4水溶液结构

用快速X射线衍射仪研究了298和323 K Na₂SO₄水溶液的时间空间平均结构, 得到溶液差值径向分布函数. 采用多峰拟合中的Gaussian法去卷积曲线上的重叠峰. 初步断定溶液中Na⁺-OH₂距离为0.235 nm, S-OH₂距离为0.385 nm左右; 浓溶液中NaSO₄–接触离子对特征距离为0.345 nm, 且SO₄^2–单齿配位到Na⁺. 讨论了浓度和温度对溶液结构的影响. 浓度减小, 水分子贡献增强, Na⁺的平均配位数几乎不变, 而SO₄^2–水合数有所增大; 温度升高有利于形成NaSO₄^–离子对, 且导致稀溶液中自由水分子结构的不稳定程度增大, 即0.290 nm的氢键峰分裂成0.275和0.305 nm两个峰.     

在磷硅酸盐玻璃中八面体配位的硅:K边X射线吸收光谱研究

众所周知,在高压条件下,硅酸盐矿物和玻璃中的硅可以形成八面体配位,但在通常的低压硅酸盐玻璃中,硅为四面体配位,因为玻璃中硅的八面体配位会迫使形成周期性结构,破坏玻璃的非晶态。目前几乎没有文献报道在低压硅酸盐玻璃中存在八面体配位的硅。很久以来,人们一直对于含磷的硅酸盐玻璃和熔体有很大兴趣,因为一方面含磷的硅酸盐玻璃是很有前景的光导纤维材料,另一方面,在地球化学上P_2O_5加入到岩浆体系中,会导致液相不混溶,降低岩浆的液相线温度和粘度,影响元素在固相-液相和液相-液相之间的分配,尽管有报道证明在钠的磷硅酸盐玻璃中存在八面体配位的硅,但此结果仍有一定的争议。本文采用同步辐射的硅K边X射线吸收光谱研究了硅在SiO_2-P_2O_5和Na_2O-SiO_2-P_2O_5体系的磷硅酸盐玻璃中的结构与配位,以及硅的配位几何随玻璃中P_2O_5含量的变化。     

小角X射线散射研究L_(c4)铝合金多次时效处理过程中析出相变化

高强度铝合金的晶间应力腐蚀断裂是工程上一个重大问题,最近一种能几倍地增加此种合金的抗应力腐蚀断裂能力并且不降低其极大强度的新的热处理技术由cina所发明,并且应用于7075合金,这种新的热处     

Co0.9Fe0.1合金膜中组分元素的原子自旋磁矩和轨道磁矩及其对宏观磁化强度的贡献

CoFe合金由于具有高饱和磁化强度、高居里温度和低矫顽力等特性备受人们关注, 研究合金中高饱和磁化强度的来源在实验上具有重要的意义. 利用X射线磁性圆二色性技术(XMCD)结合常规的磁测试手段对磁控溅射法制备的Co_0.9Fe_0.1合金薄膜进行研究, 利用加和定则得到Co的自旋(spin)磁矩和轨道(orbit)磁矩分别为1.58和0.31 mB, Fe的自旋磁矩和轨道磁矩分别为1.63和0.36 μ_B, , 由此得到合金的平均原子磁矩为1.90 μ_B, 这一结果与用SQUID磁强计测得的合金平均原子磁矩1.82 μ_B基本相符; Fe和Co对样品的磁化强度的贡献比例为10.5︰89.5, 总的自旋磁矩和轨道磁矩对磁化强度的贡献为83.4︰16.6; 把自旋磁矩和轨道磁矩分开则有m_Fe-spin︰m_Fe-orbit︰m_Co-spin︰m_Co-orbit = 8.6︰1.9︰74.8︰14.7.     

高T_c超导体Bi_2Sr_2Ca_2Cu_3O_y中无公度调制结构的X射线旋进照相观察

几年来,一系列研究结果报道了X射线、电子和中子衍射以及透射电镜等观察Bi系高温超导材料中不同调制的无公度结构;但常规处理的Bi_2Sr_2Ca_(n-1)Cu_nO_(2n+4)超导材料往往存在二、三个超导相,其T_c分别为20K,85和110K的2201相(n-1),2212相(n-1)和