论光源的线度及单色性对干涉条纹可见度的影响

在实验和理论相结合的基础上,推出了光源线度及单色性干涉条纹可见度影响的定量关系公式.     

光源大小对薄膜干涉条纹可见度的影响

研究了光源大小对薄膜干涉条纹可见度的影响，导出关系式并说明它们的普遍意义     

光源宽度与干涉条纹可见度的关系

在双缝干涉实验中,所用光源若是有一定宽度的,则屏上干涉条纹的可见度将受到一定的影响．当宽到一定程度时,屏上千涉条纹的可见度将下降到不可观测的程度．推导出了屏上不可观测的情况出现时所用光源的最大允许宽度．     

用计算机模拟分析等倾干涉的时间相干性

等倾干涉的时间相干性有别于等厚干涉的时间相干性，其干涉条纹可见度与面光源的入射角有直接的关系，通过计算机绘制的可见度与入射角对应的关系图形，分析了光源的非单色性对等倾干涉条纹可见度的影响并将研究范围扩充到多个周期，对光的时间相干性理论作了进一步的补充．     

对影响光波干涉条纹可见度因素的探究

对影响光波干涉条纹可见度的因素做了探究，并根据教学和实验中的问题，从确保光波的干涉所形成的干涉条件有足够的可见度入手，系统阐述了所需充分考虑的4个因素。     

光波强度对干涉条纹可见度的影响分析

可见度是对干涉条纹清晰程度的度量 .对于理想的相干光 ,影响干涉条纹可见度的主要因素是光波的光强 .本文根据光波干涉的基本原理 ,从理论和实验两个方面定量讨论分析光波强度对干涉条纹可见度的影响 .     

对影响光波干涉条纹可见度因素的探究

对影响光波干涉条纹可见度的因素做了探究,并根据教学和实验中的问题,从确保光波的干涉所形成的干涉条件有足够的可见度入手,系统阐述了所需充分考虑的4个因素.     

二相干点光源干涉条纹分布和可见度研究

导出光强空间分布曲面方程式以及不同平面与直线上干涉条纹的分布,应用瑞利判据研究了光源宽度对干涉条纹可见度的影响。     

光的非单色性对薄膜干涉条纹的影响

利用光的干涉结果,分析了普通光源在薄膜干涉中对干涉条纹的影响和对薄膜厚度的限制.     

等厚干涉条纹的定域

讨论了等厚干涉中的定域问题,并由空间相干性的观点给出了定域中心和定域深度在直角坐标系中的具体表达式.     

基于平面等倾干涉原理的平面度视觉测量系统

介绍一种基于平面等倾干涉原理的机器视觉高精度平面度测量系统。它利用等倾干涉原理 ,通过CCD提取随平面度变化的明暗相交干涉圆环条纹信息 ,根据条纹中心不变性和中心对称性 ,以开始测量点适当级次条纹中心为参考条纹 ,间隔 90°建立 4个扇形窗口 ,对窗口内条纹信息处理 ,得到细化后条纹与参考条纹径向间距 ,参照前一测量点干涉条纹径向位置 ,得到干涉条纹在各测点的变化量N。该N值既能反映出半波长整数倍 ,又能反映半波长小数倍的测点高度差信息 ,利用最小二乘原理 ,处理N值 ,得到极高精度的平面度测量误差。     

等厚干涉法测量薄膜厚度的两种方法

等厚干涉法测量薄膜厚度设备简易,操作方便,分析直观,在生产中有着广泛的应用.本文探讨了两种等厚干涉法测量薄膜厚度的原理与方法,利用预先形成的薄膜台阶产生空气或透明材料劈尖,单色光在劈尖上下两界面的反射光发生相干叠加产生干涉条纹,通过条纹相关参数的测量,获得薄膜的厚度.通过比较,空气劈尖法较之薄膜劈尖法操作更简易、准确,因而更实用.     

等倾干涉实验的设计与制作

物理光学薄膜干涉中的一个经典实验的新做法是使用激光、硫酸纸屏(或毛玻璃屏)和云母片代替汞灯,薄云母片产生干涉圆环纹。实践表明,取得了较好的实验效果,简单易作,不需要暗室,云母片也不需要很薄。     

迈克尔逊干涉仪的非定域干涉条纹演变的研究

用解析几何的方法分析了迈克尔逊干涉仪产生二次曲线的非定域条纹的原因，并讨论了二次曲线形状的演变规律及二次曲线形状与仪器调整状态的关系。     

等厚干涉在锥角测量中的应用

当用两块平板玻璃制作出的空气劈尖顶角发生变化时 ,应用CCD可观察到劈尖表面移动的干涉条纹 在此基础上 ,设计了用锥角偏差来改变空气劈尖顶角的圆锥锥角的光学测量方法 ,并由导出的锥角偏差与移过某一点的干涉条纹数之间的关系式 ,对圆锥锥角进行计算 通过与千分表法的对比测量 ,结果表明 ,等厚干涉测法不仅可行 ,而且具有更高的测量精度     

Fabry－Perot干涉条纹中心小数序的计算和干涉图的计算机模拟

提出了Ｆａｂｒｙ－Ｐｅｒｏｔ干涉条纹在变形情况下中心小数序的计算方法，分析了变形对计算结果的影响．在干涉图的数字化处理中对实验数据进行修正，提高了计算结果的精度，并给出了实验证明。根据计算出的系数，用计算机模拟的干涉图与实际拍摄的干涉图吻合。