透明晶体均匀性全息检测法

本文叙述了一种用全息二次曝光产生的透射干涉纹和晶体前后表面产生的反射干涉纹、联合求解透明晶体折射率均匀性△n分布的新方法.对晶体进行测量时采用线偏振光,可由实验分别测出晶体对寻常光的折射率均匀性△n。和对非常光的折射率均匀性△n_(c)。在此基础上逐点计算出晶体的双折射率均匀性(△(n_c-n_0))/(△Z).     

全息法检测光学玻璃的均匀性

叙述了用小功率氦—氖激光器和小实验台对光学玻璃的均匀性进行全息检测的一种方法.与以往采用的方法相比,本实验在光路设计上做了一定的改进,从而获得更清楚的全息合干涉图。     

用双液面干涉法层析光学玻璃的光学均匀性

通过用双液面干涉法检测及用计算机处理结果,实现了对光学玻璃均匀性的层析,其结果可给出任意层的光学均匀性分布及最大不均匀性的值,以及该值按层分布情况,其精确度可达１０＾－６。     

利用干涉测量技术的染液均匀性方法

针对染色过程中染料和助剂不均容易导致色花问题,搭建干涉测量实验平台,采集染液处于不同均匀程度下的干涉条纹图,根据干涉条纹图形状特点及其频域特征,实现染液均匀性定性判断.实验结果表明:当染液存在化料不均的情况时,干涉条纹形态及频域特征相对均匀状态染液差异明显,利用干涉测量技术实现对染液均匀性检测的方法是可行的.     

基于坐标检测的蜗杆齿形精密测量分析

分析了几种常见蜗杆类型与测量有关的参数计算方法,阐述了测量蜗杆齿形时干涉误差产生的原因和计算方法.分析计算结果表明:对渐开线蜗杆,其测量干涉误差值为0;对法向直廓蜗杆和阿基米德蜗杆,其测量干涉误差值随蜗杆螺旋线升角的增大而急剧增加,愈接近蜗杆齿根,干涉误差值愈大.因而提出用坐标测量系统测量精密蜗杆齿形时,应根据实际蜗杆螺旋面参数及探头参数计算不同测量点的干涉误差值,并消除其对测量结果的影响.     

用铁电晶体四波混频的实时光学检测

对利用铁电晶体掺铁铌酸锂(LiNbO_3:Fe)作记录介质的简并四波混频干涉计量术进行了讨论,提出一种实时测量透明物体的折射率及面形分布不均匀性的实验原理及方法,分析了掺铁铌酸锂晶体在测量中的记录特性,并给出了测量平板玻璃样品的试验结果。     

用分光计测量阿贝数

提出光学玻璃材料在工程性能方面的参数测量任务,设计了一种用分光计测量光学玻璃阿贝数的方法,给出实验结果,论证了这个设计性实验题目的实用性和物理实验教学效果。     

检测微表面形貌的Mirau相移干涉轮廓仪

基于Mirau双光束干涉,研制了检测微表面形貌的Mirau相移干涉轮廓仪.柯拉照明提供被测面均匀的照明,干涉成像系统是长工作距无限筒长干涉显微镜结构,由Mirau干涉物镜和镜筒透镜组成.物镜由光焦度较大的正光组和光焦度较小的负光组组成.轮廓仪的放大率为-10,数值孔径为0.3,工作距5mm,视场0.64×0.48mm2,中心遮拦0.129.相移器为电容式闭环控制的压电陶瓷传感器.通过6幅光纤连接器端面的干涉图,经6步相移法得到其表面形貌.实验结果表明,Mirau干涉轮廓仪的横向分辨率为0.875μm,垂直方向的测量范围为5.3μm,重复测量精度为1.7nm.     

能量天平动圈位移的激光干涉测量研究

为精确测量普朗克常数h,实现能量天平法建立量子质量基准,提出了三轴双频激光外差干涉和折叠式Fabry-Perot(F-P)干涉绝对距离测量相结合的激光干涉测量方法,用于精密测量和定位能量天平装置中沿竖直方向在均匀磁场中运动的互感线圈位移。用三轴双频激光外差干涉精密测量运动线圈的质心位移和姿态,位移测量不确定度为10nm;进而将F-P腔干涉绝对距离测量与外差干涉测量结果进行比对和校准。仿真表明,采用本文方法,当位移测量范围约为30mm时,测量分辨率优于1nm。将该方法运用于真空中线圈位移测量,相对测量不确定度优于1.0×10-9。     

提高FFT法测量等距干涉条纹频率精度的一种简便方法

ＦＦＴ频谱分析技术用于测度等距直线干涉条纹的频率时,要求数据截断长度等于方周期的整数倍,才能得到准确的测量值,这条件在实际测试中很难满足,本文给出一种方法,可不用考虑该条件,只利用ＦＦＴ的结果就能很方便地得到与连续富里叶变换相一致的干涉条件纹频率值,仿真结果证明该法在测试等距直线干涉条纹的频率时有效的。     

基于酒精选择性填充光子晶体光纤的Sagnac应变传感器

提出了一种基于酒精选择性填充光子晶体光纤的新型Sagnac光纤环应变传感器,实现了对微小应变的高灵敏度测量.利用酒精对光子晶体光纤的选择性填充使之产生双折射效应,并将已经填充好的光子晶体光纤嵌入到Sagnac干涉环中,实现了Sagnac干涉效应.当给光子晶体光纤施加应变时,Sagnac干涉谱的波峰会随着应变变化而变化,实现对应变的测量.实验结果表明,当微应变在0~3 958时,测量微应变的灵敏度能够达到3.66 pm.同时,本结构具有高灵敏度、高稳定性、抗电磁干扰、易于搭建等优点.     

JQ-200型激光全息干涉仪技术鉴定会

为了推广检验光学玻璃均匀性的新技术,交流激光全息干涉测量的经验,江苏省科委在我院召开了JQ—200型激光全息干涉仪技术鉴定会。会议由省科委委托军工局主持,参加会议的有:五机部四局、省计量局、北京工业学院、北京光电技术研究所,天津大学、天津硅酸盐研究所,昆明298厂、无锡559厂,上饶5318厂,南京市科委,南京市激光协作组、南京3304厂、南京528厂、南京天文仪器厂、南京江南光学仪器厂、南京工学院、南京航空学院等二十四个单位,代表三十四人。     

全息干涉条纹的数字图像处理

本文应用MATLAB软件对全息干涉条纹进行了数字图象增强处理。实验结果表明,将数字图像处理技术与数字全息术相结合,加强全息干涉条纹的判读准确性,减少对测量结果的干扰,     

高精度长光栅动态检测的新方法

根据双频激光干涉测量原理，针对进口设备HP5528激光干涉仪不能进行动态检测的缺点，提出了一种改进HP5528激光干涉仪并实现高精度长光栅动态检测的新方法，论述了长光栅长度误差的检测和长光栅莫尔纹信号质量的检测，其中包括激光信息处理、信号采集、计算机接口和算法。该方法不仅可以检测光栅尺的精度，还可以通过信号分析了解光栅尺制造过程中的误差源对光栅尺制造精度的影响，也可以实现对磁栅、线纹尺等长度计量元件进行高精度动态测量。     

一种改进的多用户检测算法

针对串行干扰消除算法和并行干扰消除算法的不足,提出一种将串行干扰消除检测算法和部分并行干扰消除检测算法的基本思想结合起来的新的干扰消除多用户检测算法.该算法相对于串行干扰消除算法和并行干扰消除算法性能在某些方面有所改进:克服了串行干扰消除算法时延大、不能实时实现的缺点,并对功率分布均匀时系统的误码率性能有所改善;改善了并行干扰消除算法在系统中没有严格功率控制时的误码率特性;同时具有合理的计算复杂度和简单的实现结构等特点.理论分析和仿真结果都验证该算法具有较好的性能.     

讨论牛顿环与迈克耳孙干涉条纹的异同

文章使用Mathematica描绘牛顿环与迈克耳孙干涉条纹,形象地讨论了两条纹产生机理、环纹中心、环纹级次、非单色光环纹及在测量波长时方法等的差异,使教学过程更具有直观性和生动性,加速教学手段现代化进程.     

数字散斑剪切干涉光学测距

提出数字散斑剪切干涉测量原理。结合干涉条纹细锐化技术,在计算机上对散斑数据帧进行处理得到细锐化条纹图形,从图形中得到条纹周期,根据周期计算出被测目标距离。测量的范围可以随着光源的位移进行调节。实验结果表明,当平面漫反射物体距扩束透镜56．5mm时,该法测得距离为56．9mm,有0．71％的偏差。当光源位移50mm时,该法测得的距离为569．3mm,与尺子测得的距离565mm相差0．80％。当距离达100mm时,难以测定条纹周期。该方法特别适用于对漫反射物体距离的测量,且对环境的干扰具有相对非敏感性。     

基于非球面的纹影系统设计

在大口径纹影系统中,主反射镜通常采用球面反射镜,球面反射镜虽然加工成本低但像质差一些.我们设计的纹影系统主反射镜采用抛物面反射镜,对由两个抛物面反射镜组成的纹影系统和两个球面反射镜组成的纹影系统的像质和像面照度均匀性进行了对比,对环境如气压和温度对窗口的影响进行了有限元分析.设计结果表明：主反射镜采用抛物面反射镜像面上的光斑均匀性优于主反射镜采用球面反射镜的纹影系统.     

利用等色级纹研究光在金属表面反射时的位相跃变

本文用银膜重复C.F.Bruce和P.E.Ciddor利用多光束干涉等色级纹测定位相跃变色散的实验,得到了不同的结果。并利用W.F.Koehler的测量数据作了类似的计算、实验与理论结果的对照表明,多光束干涉的基本公式应当采取Mλ=2t+(β/π)λ形式,其中β为每一反射光束干涉的基本公式应当采Mλ=2t+(β/π)λ的形式,其中β为每一反射面的位相跃变。对于银,β的值约为150°(λ=5890)。     

牛顿环曲率半径测量的多种数据处理方法

用读数显微镜测出干涉圆环直径。在重复性测量时用标准不确定评定测量结果;在复现性测量条件下用逐差法、加权法、一元线性回归法等方法处理实验数据。比较不同测量条件下对透镜曲率半径测量结果优劣的评定。