晶体会聚偏光干涉图的探讨

依据光线在晶体中的传播规律和光波的干涉原理，通过定性和定量的分析，解释了会聚线偏光经过单轴晶体时所形成干涉图的原因。     

一维有限周期方形光子晶体波导的偏振特性

利用光波在一维有限周期方形光子晶体波导中横向受限的条件,推导出TE波和TM波两种偏振光在一维有限周期方形光子晶体波导中各个传输模式满足的关系式;计算出TE波和TM波传输各模式的禁带随周期数、模式量子数、边长的变化规律。     

点状籽晶法生长KDP晶体的(100)面位错分布

通过光学显微镜对点状籽晶法生长的KDP晶体（100）面位错蚀坑的观察和分析,发现柱区的位错线走向不同于片状籽晶法生长的晶体。晶体的位错主要来自籽晶的位错。通过籽晶成锥-微溶-生长的过程可以减少籽晶锥区位错向晶体中的延伸,在晶体内部,当两条夹角很小的位错线相交时会合并成一条位错线。     

铌酸锂晶体光学质量的评估及评估方法探讨

主要讨论了检验铌酸锂晶体光学性能的几种实验方法，其中包括：设计实验的理论根据，实验的建立，以及实验后的数据整理和分析。     

带锥台托盘KH2PO4晶体生长与位错分布

利用光学显微镜对采用锥台托盘及传统平托盘生长的晶体进行位错腐蚀观察,发现锥台托盘生长的晶体上半部分位错分布与平托盘生长的晶体相似,部分区域位错密度低于平托盘生长的晶体。对于锥台托盘生长的晶体下半部分,其柱面位错缺陷很少,位错集中在与锥台直接接触的下锥面。下锥面的存在阻止了柱面底部新位错的形成,为柱面生长提供了更好的生长条件。硬度分析表明使用锥台托盘一定程度上提高了晶体结晶完整性。     

激光晶体原料纯度的研究

前言生长高光学质量的激光晶体对原料的物理性状及化学纯度都有一定独特的要求。一般认为,激光晶体对原料的要求要比非激活晶体严格得多,所以人们给激光晶体的原料规定了许多条件。但是,却很少有人愿意仔细地研究这项工作,因为这项工作的工作量大,监很难得到人们的重视,也不可能得到相当准确的结论。这样,给激光晶体原料制备者带来了许多困难,对提高晶体质量也有一定的影响。     

双位错滑移运动的晶体相场模拟

【目的】研究晶体位错运动对材料加工力学性能的影响。【方法】应用改进晶体相场(Phase-field-crystal,PFC)模型,研究剪切应变作用下晶体的双位错的滑移运动特征。【结果】在应变作用下,体系的双位错只作滑移运动,运动方向平行且相反,保持匀速运动,不出现攀移运动;应变率较小时,位错作滑移运动,越过势垒需要一定孕育时间,此时滑移出现颠簸式运动特征;应变率较大时,位错滑移运动呈匀速直线运动。【结论】PFC模型能较好地用于研究位错在应变作用下的运动。     

光的偏振态与晶体的抗光损伤阈值关系的研究

通过对冰洲石晶体的损伤阈值与入射光的偏振态间关系的理论分析和试验验证 ,得出了它们间的关系 ,对器件的设计与制造有一定的指导意义 .     

晶体双折射现象的直观实验演示器(平台)

为了能够直观地观察到晶体中的双折射现象,利用非光学级的天然晶体冰洲石中杂质对光的散射作用,设计、制做了晶体双折射现象的直观实验演示器（平台）．通过这种演示器,可以使学生直观地观察到晶体中o、e两光线的真实轨迹．与偏振实验平台结合,可测出两光线的马吕斯定律曲线,验证了从冰洲石晶体中出射的两光线为光矢量相互垂直的线偏振光．     

用荧光分光光度计对红宝石进行鉴定

介绍了970CRT荧光分光光度计的使用方法,它为国内高级荧光分光度计,产品采用当前先进的PC机电脑软件和硬件,使仪器具有优良的定性定量测试功能。使用970CRT荧光分光光度计,对红宝石用不同波长的激发光测量出红宝石的荧光光谱,与其固有的荧光光谱比较,从而鉴定出红宝石的真伪。该实验可作为高年级本科生的专业选修实验,以及课程设计的研究型实验,可培养和锻炼学生的创新能力,提高学生的对自然界探索的兴趣。     

LCD中液晶光学特性变化织构分析

通过对接受不同光辐照时间的液晶偏光织构的分析,研究了光辐照对液晶性能变化和液晶分子取向变化的影响,阐明了长期光辐照下液晶显示器件失效的原因.发现随着液晶显示器件接受光辐照时间的积累,其液晶织构逐渐发生变化.失去旋光性的黑色条纹和黑洞的存在是液晶显示器件性能下降的主要原因.     

关于椭圆偏振光的两个问题的研究

论证了一束椭圆偏振光可看成任意相互垂直方向上的两个线偏振光的合成．选取的相互垂直的方向不同,参与合成的两线偏振光的振幅不同,相位差也不同,但合成光矢量的旋转方向始终不受影响．     

向列相液晶薄膜会聚偏振图像模拟研究

针对向列相液晶薄膜对会聚偏振光的干涉现象,利用坐标矢量分解和折射率椭球方程计算出寻常光与非寻常光的相位分布,再利用扩展Jones矩阵分析出射光振幅分布,模拟分析了任意指向矢下液晶薄膜偏振干涉图像特征及其演化过程,为液晶相关实验测量提供了有效的辅助手段.     

利用平行分束偏光镜干涉装置测定晶体折射率

利用平行分束偏光镜、1／2波片、起偏器、检偏器的恰当组合,给出了一套偏振光干涉实验装置。经过分析,该装置不仅能完成偏振光的干涉实验,而且可以测定晶体的折射率或折射率分布情况,通过测量干涉光强,当在单光路中置入折射率均匀晶体时,可以计算出相应的折射率;如果在两个光路中置入同一非均匀折射率晶体,则可以测定该晶体的折射率分布情况,分析了可能的误差来源,并提出了装置的优化设计方案,指出了实验系统的优缺点。     

检测微弱超声的线偏振光外差干涉系统

检测微弱的激光超声,要求系统具有较高的灵敏度。为此,采用相干性高的线偏振光作为光源,设计了线偏振光外差干涉检测系统。该系统利用光阑消除光学噪声,有效地控制了回授光对光路的影响;以1级光作为参照,使光路调节更为容易。实验结果显示,该系统能获得较好的外差信号。     

具有高品质因子的光子晶体环形腔柔性调控研究

环形腔由于有独特的回音壁模式把光场限制在环形区域内而受到国内外研究小组的关注. 为了进一步提高其对光的约束能力,本文以内环优化的H2环形腔基础上优化柔性调节了第二环,得到品质因子60%的提高. 在调整优化第三环和第四环空气柱到圆环位置时,发现空气柱环形分布结构的囚光作用与光子晶体结构的囚光作用存在竞争关系,环形腔品质因子并没有随着空气环的层数增加而正相关增长.