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相似文献
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1.
讨论了用射频辉光放电装置制备的掺氮非晶硅光敏薄膜材料的光电特性。结果表明,合理地控制氮气(N2)与硅烷(SiH4)气体的流量比例以及其他有关的工艺参数,能够制备出暗电阻率,光、暗电导率比,光电性能稳定的a-Si1-xNx:H光敏薄膜材料。  相似文献   

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用XeCl准分子激光器对a-Si:H薄膜进行了低能量密度下的辐照处理,测量了激光辐照区内薄膜的电导率随能量密度与脉冲数的变化。研究表明,能量密度在75mJ/cm^2附近的激光辐照可导致膜的电导率大幅度升高,这种电导率异常是膜表层形成了nmSi晶粒分散于a-Si:H基底中的混合相的反映。  相似文献   

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通过直流暗电导率温度依赖关糸σ(T)和光吸收谱的测量,研究了退火降温速率对掺杂a—Si∶H薄膜中热缺陷的影响.  相似文献   

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采用X射线双晶衍射法对重掺硼、重掺锑样品中的氧沉淀行为进行了研究,分析了热处理条件、掺杂剂种类对重掺硅中氧沉淀的影响.实验结果表明:由于氧沉淀诱发缺陷间的相互作用、氧沉淀的重溶以及氧的外扩散等原因,在长时间高温热处理时,晶片表面完整性得到改善;重掺硼样品中的氧沉淀较重掺锑样品中的氧沉淀明显.实验中还观察到了氧沉淀重溶现象,进一步验证了理论分析结果.  相似文献   

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本文报道了用等离子放电SiH_4+H_2+H_2O混合气体淀积氢化非晶硅氧合金膜,均匀、致密、耐腐蚀、半绝缘、电中性、富含氢,是较理想的半导体器件钝化膜。兼有SiO_2和a-Si:H的优点,而又克服了它们各自的缺点。用它钝化的平面晶体管放在盐水里几小时后,特性不变。  相似文献   

14.
本文证明:(1)对任何形式的、连续的、a-Si隙态密度分布函数,只要我们利用Riemann-Stieltjes积分中值定理,势垒区的泊松方程都可以解析求解.(2)M/a-Si势垒区泊松方程的抛物函数解,是由假定空间电荷区自由载流子耗尽带来的.  相似文献   

15.
用簧片振支法研究了GDa-Si:H薄膜气氛渗氢后的仙耗,当测量频率为457.5Hz时,在-46℃处观察到氢致内耗峰,其激活能为0.30±0.05eV,弛豫时间因子为3.5210^-9s。  相似文献   

16.
氢化非晶硅(a-Si:H)场效应晶体管(FET)的特性对环境因素较为敏感,光照、湿度和温度等都会对其产生影响。该文介绍光照和退火引起的氢化非晶硅场效应晶体管场效应特性的变化。长时间使用AMI标准光源光照和350℃以上的温度退火都引起了样品场效应特性的较大变化,光照2h使得样品开启电压从6V增大到19V,场效应特性曲线向栅压较大的方向平移,而470℃的高温退火则使该样品的场效应特性曲线形状发生了极大的变化,栅电压的控制作用减弱。最后根据a-Si:H的价键模型对此进行了讨论。  相似文献   

17.
当脉冲辐照a-Si∶H膜的XeCl激光能量密度在240mJ/cm ̄2以上时,可引起被辐照膜发生明显的固相晶化;通过拉曼(Raman)散射谱、扫描电子显微照象(SEM)和紫外(UV)分光光度吸收谱的实验,研究了不同辐照条件、不同膜厚及各种膜结构试样的晶化效果;还研究了使用CO_2激光退火对被辐照膜的影响。结果表明,晶化膜的晶粒大小在0.1~1.0μm时,Raman位移为510cm ̄(-1)~517cm ̄(-1)、半峰高宽度为10cm ̄(-1)~15cm ̄(-1);a-Si∶H膜经XeCl激光辐照或CO_2激光退火后,都会增强晶化膜的吸收效率。  相似文献   

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本文根据a-Si材料的性能参数,计算了pin器件中的结电场分布ε(x)及其极小值ε_(min),求出在一定条件下的满足全收集的最佳(大)i层厚度,并在这个基础上较严格地计算了E_(g1)=1.9eV的a-Si:H和E_(g2)=1.5eV的a-Si:Ge:H两种材料的pin单结太阳电池及由它们组成的二重结器件的光伏特性,在条件相近的条件下,a-Si:Ge:H pin单结太阳电池的效率与Mitchell的实驻结果相当接近。我们的二重结计算结果与DMM在相近条件下估算的结果接近。  相似文献   

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报导了在P/I界面引入CGL:B:C*缓冲层对大面积(2790cm2)单结集成P-I-N型。a-SI:H太阳电池性能影响的研究结果.实验发现:带有CGL:B:C层的a-SI:H太阳电池性能的提高主要是填充因子FF的增加所导致,实验所得电池的FF平均达60.33%,平均有效面积转换效率FF达6.0%,分别比目前的生产水平(FF=53.9%,EF=53%)提高了11.99%和13.2%.最后,依据建立的电池能带模型,从理论上解释了引入CGL:B:C后电池性能得以提高的原因.  相似文献   

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