螺距累积误差对数控机床精度的影响与对策

分析了机床定位精度对数控机床精度的影响 ,探讨了丝杠螺距累积误差对数控机床定位精度的影响 ,最后提出用软件补偿的办法来减少螺距累积误差对CNC机床的影响。     

螺距累积误差对数控机床精度的影响与对策

分析了机床定位精度对数控机床精度的影响,探讨了丝杠螺距累积误差对数控机床定位精度的影响,最后提出用软件补偿的办法来减少螺距累积误差对CNC机床的影响.     

数控机床进给系统装配误差建模及特征分析

摘要：
通过建立几何模型,分析了数控机床进给系统运动过程中由装配引起的误差特征,提出了表示其误差特征的综合表达式,将装配误差分为周期性分量和累积性分量.通过仿真分析,研究了装配误差在数控机床内置传感器中的信号特征,以及对进给系统运动精度的影响规律.结果表明：装配误差的周期性分量不影响进给系统的定位精度,但会导致进给系统在运动过程中产生周期性波动,且在频率调制的条件下其周期性波动幅值将增加;装配误差的累积性分量影响进给系统的定位精度,当与运动方向发生交叉时将产生累积方向的变化.同时,对某数控机床内置传感器的信号特征进行分析,并基于分析结果进行装配调整,从而降低了由装配引起的运动误差,提高了被测数控机床进给系统的精度.
     

FANUC OTDⅡ系统螺距误差补偿在数控车床上的应用

FANUC OTDⅡ数控系统已广泛应用在数控机床上，其螺距误差补偿功能有一定的典型性。通过对螺距误差补偿的熟练掌握，可以处理许多数控机床的加工难题。     

数显光栅尺机床定位精度检测设计

数控机床作为一种机电设备,定期检测其误差并及时校正螺距、反向间隙等可切实改善生产使用中的机床精度,改善零件加工质量,提高机床利用率。本文提供了一种相对简易的一种精度检验方法,即利用数显光栅尺进行机床定位精度检测。     

Mikron UCP 800数控机床的定位精度检测与误差补偿

利用数控机床的软件误差补偿技术可以显著提高机床的加工精度.文章利用英国雷尼绍(RENISHAW) 公司生产的ML10激光干涉仪,对配有HEIDENHAIN iTNC530数控系统的Mikron UCP 800数控机床的定位精度和重复定位精度进行精度检测和误差补偿,并对误差补偿前后的检测数据进行了分析,结果表明,误差补偿是提高数控机床精度行之有效的重要方法.     

数控机床位置精度补偿方法的比较和研究

本文介绍了数控机床坐标位置精度误差的两种不同补偿方法,并通过试验数据的比较来证明了双向螺距误差补偿的优势,该方法能够更好地提高数控机床加工精度。     

嵌入式数控机床位置精度评定及误差补偿系统

提出一种低成本基于步距规的误差补偿系统，该系统可以实现普通精度级数控机床位置精度评定，并通过软件自动修改误差补偿表，使机床精度得以强化．运用该系统可使机床各轴定位精度从0．150～0．400mm升级到0．030-0．050mm，螺距反向间隙从0．020-0．040mm升级到0．005-0．009mm．     

递增式传感器节点定位方法的累积误差分析及其改进

该文对递增式定位的累积误差影响进行了仿真分析,根据方法中前次定位节点的精度优于后次定位节点的特点,提出把未知节点与其参考节点中定位精度较高的节点间的距离作为约束条件来减少误差传播的影响。仿真结果表明：该方法能够显著减小传感器节点定位过程中的累积误差,提高节点定位精度,改善了方法的适用性。     

基于温度积分方法的大型数控机床光栅定位热误差建模及实时补偿

为了提高大型数控机床的光栅定位精度,提出了基于热特性分析的光栅定位热误差建模理论及补偿方法.阐述了光栅受热膨胀产生热伸长从而导致定位偏差的机理,并对光栅定位误差产生的影响及表现形式进行了说明.建立了光栅热伸长量和温升量的线性关系表达式.在光栅尺上均匀布置多个温度传感器,实时采集光栅尺多点温度,通过插值运算,拟合出光栅尺各点的温度值.由于在机床运动过程中,光栅尺各点的温升量不尽相同,采用对光栅尺各点温升量积分的方法,求出光栅各点热伸长量,建立了光栅定位热误差模型.利用自主研发的数控机床误差补偿系统,应用光栅定位热误差模型,对落地镗床TK6920进行光栅尺定位热误差补偿.结果显示:光栅定位热误差模型对运动过程中的光栅定位误差进行准确的预测,补偿后残差控制在15μm以内,定位精度提升90%以上,显著提高了光栅的定位精度.