X射线荧光光谱法测定 钐铕钆富集物中十种稀土元素

介绍了以菲利蒲PW－1404型X射线荧光光谱仪、粉末稀释法测定钐铕钆富集物中10种稀土元素的方法,该法快速、准确、能满足生产与科研的要求。     

X射线荧光光谱法测定精炼渣成份

采用X射线荧光光谱仪测定精炼渣中TCa、SiO2、MgO、MnO、TiO2、P2O5、Al2O3的含量；研究精炼渣的制样条件及分析条件，测定其精密度及准确度，完全满足生产要求；并为冶炼特殊配制精炼渣的碱度，钢的脱氧、脱硫、脱钛、脱磷效果提供技术支持。     

X射线荧光光谱法测定海底钴结壳的方法研究

采用粉末压片制样,X-射线荧光光谱法直接测定钴结壳中Fe、Mn、Co、Ni、Si、Al、Ca、K、Na、Ti、P、Mg、Cu、Pb、Mo、Sr、V、Zn、Zr、Y、Ba等元素。重点讨论用熔融法定值部分样品,然后用加以定值的钴结壳标准及样品、国家岩石、土壤、水系沉积物系列标准用粉末压片制样,做工作曲线,一次测量钴结壳中二十余种元素,并用定值样品做精密度与准确度试验,各元素统计结果为RSD％（n=12）除V的RSD〈4％外,其余元素的RSD均小于2％,测定结果与标准值和ICP-MS测量值相符。     

X射线荧光光谱压片法快速分析钼矿石中的钼含量

采用粉末压片——波长色散X射线荧光光谱法测量钼矿石中的钼含量。直接粉末压片制样,利用系列标样制作出标准曲线,采用经验系数法对基体效应进行校正。方法准确度、精密度能满足钼矿石(钼含量1%以下)中钼含量的测定。与化学法相比,本方法分析过程简单快速,精密度高,有更低的检出限。     

X射线荧光光谱法测定氢氧化镁中杂质含量

为测定氢氧化镁中杂质元素含量,采用X射线荧光光谱(XRF)法进行重复性和准确性试验.结果表明,XRF法具有快速、无损、多元素同时测定、检测元素范围广等特点,重复性较好.XRF法测量结果与化学方法和电感耦合等离子体发射光谱(ICP)法的测量结果接近,准确性较好.     

X射线荧光光谱法测定稀土氧化物及其伴生稀土元素

以氧化钕为主成分其它稀土元素为杂质的样品为例，采用氧化制片的方法对稀土类样品直接测定，方法简便、快速、准确可靠。测定范围０．０１％￣１００％。     

X射线荧光光谱仪在水泥检测中的应用

使用粉末压片法制样，以X射线荧光光谱分析法测定水泥中Ca、Si、Al、Fe、Mg、S等主次量元素，分析方法具有较高的精密度和准确度。     

X射线荧光光谱法测定锰铁中的锰、磷、硅

研究了采用X射线荧光光谱仪测定锰铁中的分析元素,研究了系统制样方法:采用粉末样品压片制样,并利用内控标准元素(铁)作为主量元素(锰)的强度参比.本方法可用于锰钦中Mn、P、Si的同时测定.     

X射线荧光法测定海南多目标地调样品中多种元素

采用粉末样品压片制样,用PW2440X射线荧光光谱仪测定海南地球化学样品中的SiO2、Al2O3、Fe2O3、MgO、CaO、Na2O、K2O、Ba、Br、Ce、Cl、Ga、La、V、Mn、Zn、Y、Zr、Nb、Th、Rb、Sr、Ph、P、Cr和Ti等27个组分进行测定。针对海南样品的特点,加入高铝、高钙、高铁和高钛标样进行回归。使用经验系数法和散射线内标法校正基体效应,方法简便、快速,其精密度和准确度完全满足质量临控要求。     

X射线荧光光谱法测定转炉渣主要成份

利用X射线荧光光谱仪测定转炉渣中的TFe、SiO2、CaO、MgO、MnO、P2O5、Al2O3等主要化学成份的含量。采用自制标样绘制工作曲线,利用光谱干扰校正系数和基本效应校正系数消除光谱干扰和基体效应。实验表明：该方法简便快速、有良好的精密度和准确度,所得结果与湿法化学分析结果一致。     

X射线荧光光谱基本参数法测定高温超导体的组分

用X射线荧光光谱基本参数法测定了Y1－xPrxBa2Cu3Oγ系列样品中的钇镨钡铜百分含量,然后折算成它们的原子比,实验结果表明测量值与样品的名义组分的确有差别,这可能就是各超导小组报道的Tc-x曲线形状不一样的原因之一,实验还显示Tc与x的关系不是一条简单的二次曲线,讨论了氧对分析元素测量值的影响,氧对各分析线的质量吸收占基体总的质量吸收数量大不超过3．41％。     

粉末压片X射线荧光光谱法测定长石中的主量元素

针对X荧光熔融制样需要采用铂黄金坩埚等贵金属器具,而在高温下多金属矿中的硫元素会对铂黄金坩埚有很大伤害,严重时将直接导致坩埚无法脱模,不仅影响融样速度,而且造成直接经济损失巨大.熔融成型玻璃片在室温下还容易出现破裂等现象,这是多金属矿样熔融制样的一大难题.粉末压片法制样不仅解决了样片破裂的问题,提高了制样速度,而且还大大降低了制样成本.通过粉末压片法制样,建立一套用波长色散X射线荧光光谱法测定长石中的硅铝钾钠等主量元素的分析方法.通过对样品粒度、压片机制样条件进行讨论,确立了称样2.5000 g与羟甲基纤维素1.0000 g混合研磨2 min,压片机压力为30 t、保压20 s的条件.实验结果表明,此条件下该方法精密度高、准确性好,并具有快速、高效、样品制备简单、成本低等优点,可用于批量测定长石实际样品.     

提高波长色散X射线荧光光谱法测定钼精矿中钼含量的准确率

本文针对X荧光分析仪测定钼精矿中钼含量的主要影响因素进行分析,并确定出钼含量在49%-58%范围的钼精矿样品适宜的测定条件,提高了样品检测的准确率。     

X射线荧光光谱测定纯铜样品中的痕量杂质元素

以英国进口的纯铜标准样品制作工作曲线,采用专用的空白标样和多点多项式方法计算峰底背景。用干扰曲线法进行基体效应和谱线重叠干扰的校正,部分重金属痕量元素选择高反射率的人工晶体PX-9来测定。开发了用X射线荧光光谱测定纯铜样品中18个痕量杂质元素的方法。其分析结果与直读光谱测定值基本相符,回收率在95％-105％范围,各元素的相对标准偏差RSD均小于5.0％。     

X射线荧光光谱法测定水中痕量金属

对X射线荧光光谱法进行了改进,以使其能够同时测定分析水中的多种金属(Fe,Mn,Cu,Zn和Pb).用二乙基二硫代甲酸钠(DDTC)和1-(2-吡啶偶氮)-2-茶酚(PAN)作为沉淀剂,待测元素以薄膜沉淀的形式均匀地分布在一个面积较大的由低原子序数组成的基体上,可以定量地从水中回收痕量金属.分析的准确度和精确度可大大提高,且在一张滤纸圆片上可同时测定多种痕量金属元素.     

X射线荧光光谱法测定底质中的几种重金属

采用粉末压制的样片进行Ｘ射线荧光光谱分析，测定底质中的重金属Ａｓ，Ｃｒ，Ｃｕ，Ｐｂ，Ｚｎ，其相对标准误差分别为０．００９％，０．００８％，０．０１２％，０．０４％和０．００１４％，方法的准确度与精密度均能满足底质样品分析的要求。     

X射线荧光分析技术在铝工业中应用

本文对X射线荧光分析技术在铝工业分析中的应用作了分析，供大家参考。     

玻璃熔融X射线荧光光谱法测定萤石中各组分

采用X射线荧光光谱法,使用PANalytical MagiXPm顺序型X射线荧光光谱仪测定萤石中的F、Ca、Si、P、S、Fe、K、Na等8个元素．以元素的Kα线为分析线,分析结果的精密度、准确度高,分析速度快。     

X射线荧光光谱法测定硅酸盐岩石中的主次元素量

利用X射线荧光光谱先定性再熔融定量分析硅酸盐岩石中的主次量元素,通过对岩石的岩性、组分及异常元素的了解,为熔融定量分析选择合适的条件。实验表明,该法简便快速,精密度和准确度好。