金刚石晶体缺陷的同步辐射白光形貌术研究

利用同步辐射的荧光分析和白光形貌术对天然金刚石晶体进行了观察与分析。结果发现，金刚石晶体中存在有多种杂质元素和许多微缺陷，如位错、亚结构和孪晶界等。本文重点分析位错的类型及其特征量，并对实验结果进行了讨论。     

人工水晶缺陷的X射线形貌术研究

应用Ｘ射线Ｌａｎｇ形貌术术法对三批不同Ｑ值的Ｙ棒水晶进行了研究,观察到了沉淀物,生长条纹和位错等缺陷,从各种不同的衍射矢量证实了「１１２０」衍射为观察Ｚ区位错线的最佳衍射;测定了Ｙ俸水晶片Ｚ区的位错密度,并对晶片Ｑ值与位错密度ρ之间的关系进行了初步分析。     

HB掺In-GaAs晶体缺陷的X射线形貌研究

利用X射线形貌术,结合电子探针研究HB掺In-GaAs晶体缺陷的问题。实验结果表明,等电子掺杂In非常明显地降低了HB法GaAs晶体的缺陷,但其掺入量及其均匀分布十分关键。     

电容铝箔微观结构的TEM和X射线衍射研究

本文采用不同形变热处理高纯铝箔,经电解抛光和减薄后,用高压透射电镜观测了蚀坑形貌与其它微观结构,同时根据 X 射线晶面衍射强度分析,建立了铝箔易见蚀坑形貌与高 F_(hkl)值的实质联系,为制取高比电容铝箔,提供了理论依据.