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相似文献
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1.
TiO2纳米薄膜和TiO2/ZnFe2O4纳米复合薄膜的光学性能研究   总被引:6,自引:0,他引:6  
用磁控溅射方法制备了TiO2 纳米薄膜和TiO2/ZnFe2O4 纳米复合薄膜,研究了不同温度热处理和不同含量纳米铁酸锌对纳米TiO2 薄膜光学性能的影响。研究结果表明:用磁控溅射方法制备的纳米薄膜的厚度和晶粒尺寸均匀,并且随着热处理温度的升高而增大,掺杂纳米ZnFe2 O4后TiO2 纳米薄膜的晶粒尺寸略有减小。XRD 研究发现TiO2/ZnFe2O4 纳米复合薄膜由非晶相向锐态矿相转变的温度高于纳米TiO2 薄膜。TiO2 纳米薄膜和TiO2/ZnFe2 O4 纳米复合薄膜的光吸收边都随着晶粒尺寸的降低而发生蓝移,在相同热处理条件下,掺杂纳米ZnFe2 O4 后,纳米TiO2薄膜的光吸收边发生了较大范围的红移,红移量随着掺杂量的增加而增大。通过热处理和掺杂纳米ZnFe2O4 可以实现对纳米TiO2 薄膜光吸收边大范围的调制。  相似文献   

2.
用文题所述技术,在玻璃基板上制出了Zn及ZnO薄膜。用SEM、XRD、AES及SEELFS方法,分别研究了其表面形貌、组成、薄膜结构及表面精细结构,同时探讨了薄膜生长过程。结果表明:Zn薄膜为(002)面上择优生长的多晶膜,其生长过程为岛状生长:ZnO薄膜为无定形迷津网络结构,薄膜表面主要含有Zn、O两种组分,无其它杂质,Zn─O键长为0.203mm。  相似文献   

3.
用文题所述技术,在玻璃基板上制出了Zn及ZnO薄膜。用SEM、XRD、AES及SEELFS方法,分别研究了其表面形貌、组成、薄膜结构及表面精细结构,同时探讨了薄膜生长过程。结果表明:Zn薄膜为(002)面上择优生长的多晶膜,其生长过程为岛状生长;ZnO薄膜为无定形迷津网络结构,薄膜表面主要含有Zn、O两种组分,无其它杂质,Zn-O键长为0.203nm。  相似文献   

4.
e型枪热蒸法制备的非化学计量ZnO薄膜的结构性能   总被引:1,自引:0,他引:1  
采用e型电子枪热蒸技术,在不同条件下成功地制备了不同O/Zn比的非化学计量ZnO薄膜。利用系列物理手段,如XPS,XRD法对其结构性能进行了分析。结果表明,选择适当的基底温度及热处理温度可获得物理性能很好的非化学计量的ZnO薄膜。  相似文献   

5.
研究了300 K下,自制的法布里-珀罗(Fabry-P6rot,F-P)半导体微腔中,光场与WSe2单分子薄膜激子之间的强弱耦合作用.利用集成角分辨功能的显微荧光/白光反射光谱系统研究了样品的光学性质,并在强耦合区间内看到了激子极化激元的形成,对应的拉比分裂能量为46.7 meV.理论拟合结果跟实验现象吻合,为激子极化...  相似文献   

6.
用真空蒸发SnO2-ZnO,获取超微粒结构的SnO2-ZnO薄膜.实验发现w(SnO2)w(ZnO)=80%20%薄膜有较低的电阻率,对乙醇有较高的敏感性,是较好的酒敏材料.  相似文献   

7.
讨论了用e型电子枪热蒸法制备的非化学计量的ZnO薄膜的光电性能。采用了XPS等方法,实验结果表明,对于不同的基底温度及掺杂浓度,ZnO薄膜O/Zn比不同,光电性能也因此而异,本研究还对最佳成膜工艺进行了探讨。  相似文献   

8.
利用单重态激子的裂变机制,被认为是提高有机光伏器件量子效率的一种可行途径.然而,在非晶态薄膜中有机分子的取向是杂乱的,能否在排列杂乱的分子之间发生有效的激子裂变过程,是制约这一方法的重要问题.本实验中,在室温下测量了红荧烯掺杂有机薄膜光致发光的磁场效应与光致发光的瞬态衰减,由此计算出了薄膜中红荧烯分子间激子裂变速率的磁场效应.基于Merrifield的唯象理论,研究了薄膜中分子排列有序与排列无序两种情况下激子裂变速率磁场效应的差异.将实验数据与理论曲线相对比,显示出掺杂薄膜中的激子裂变过程主要发生在排列无序的红荧烯分子间.这从实验上证明了在非晶态有机固体中可以发生有效的激子裂变过程.而激子裂变过程的速率主要与材料中的载流子迁移率有关.  相似文献   

9.
研究二维情况下受泵浦光激发和周期型势阱囚禁的激子极化激元系统.以冷原子体系为基础,根据含时变分法,由高斯型试探波函数和Euler-Lagrange方程得出高斯型稳定局域态宽度的条件,用虚时和实时演化方法对冷原子凝聚体动力学行为进行数值模拟.考虑到激子极化激元系统中泵浦、耗散和饱和增益项的影响,将研究推广到激子极化激元凝聚体系.研究二维周期型势阱的不同势阱周期对局域凝聚态行为的影响,并与相同条件下冷原子局域凝聚态进行比较;研究周期型势阱在激子极化激元凝聚态演化过程中的作用.在没有周期型势阱下,局域凝聚态仍然能够出现,势阱存在时能对局域凝聚态的密度分布进行修正.  相似文献   

10.
讨论了用e型电子枪热蒸法制备的非化学计量的ZnO薄膜的光电性能。采用了XPS等方法,实验结果表明,对于不同的基底温度及掺杂浓度,ZnO薄膜O/Zn比不同,光电性能也因此而异,本研究还对最佳成膜工艺进行了探讨。  相似文献   

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