高温超导薄膜微波表面电阻测试方法讨论

本文介绍了国内采用蓝宝石介质谐振器法测试高温超导薄膜微波表面电阻RS的几种不同的结构,这种测试方法采用低损耗高介电常数的蓝宝石构成工作在TE011 δ谐振模式的介质谐振器,在77K时,利用它对高温超导薄膜的微波表面电阻RS进行测试。并且对目前拟作为国际RS测试标准的双谐振器法进行了分析。     

YBCO超导材料微波表面电阻测量

利用3cm波段矩形波导谐振腔TE_(103)模对YBaCuO超导材料的微波表面电阻进行了测量,观察到了在转变温度吋腔的Q值的突然变化.在液氮温度时的表面电阻约为正常电阻的20％.实验并观察了所测表面电阻值随样品厚度的变化情况.     

高Tc超导薄膜红外（光）探测器的研究

系统地报道了近年来关于高Ｔｃ超导薄膜红外（光）探测器的研究成果，先后进行了单元分立器件、２×２、２×４集成式阵列器件以及约瑟夫逊结型红外（光）探测器的研究。器件经过１０多次的液氮温度至室温的冷热循环，并在室温下保存两年以上，所得测量结果基本不变。采用具有约瑟夫逊效应的高Ｔｃ超导双晶晶界结的光探测器具有量子效应，其响应速度快于６．３５×１０－７ｓ。     

多频法测量高温超导薄膜表面电阻

本对介质谐振器法测量高温超导薄膜微波表面电阻的方法进行了详细的研究，并对测试系统的损耗提出了新的计算方法．由四个不同直径、相同高度的蓝宝石构成四个谐振器，对同一组铜膜进行测量，根据金属表面电阻与频率的关系，分析测试装置的损耗，从而更精确地测出薄膜的表面电阻．经实验证明，此方法能得到比传统测量更为精确的测量结果．     

高温超导桥结特性自动测试研究

本文报告了自行研制的高温超导桥结特性自动测试系统，该系统包括软件控制及相关电路两部分。由系统软件控制实现自动测量、自动存储、显示及打印等多种功能。文章最后给出部分测试结果，优于常规系统的测试精度．     

PbTiO3薄膜的热释电性和铁电性研究

采用Sol—Gel工艺制备了较大面积不裂的PbTiO_3薄膜,对样品做了不同烧结温度下的X射线衍射实验,经550℃保温30min的样品已形成了单一晶相的PbTiO_3多晶膜。对样品的热释电系数随温度、薄膜厚度和胶液浓度的变化关系研究,发现热释电系数随胶液浓度和薄膜厚度的增加而增大,最后达到饱和。样品的室温热释电系数为3.6×10~(-8)C/cm~2·K,介电常数为15～26,介电损耗为0.001—0.05,居里温度为515℃,自发极化强度和剩余极化强度分别为6.54μc/cm~2和3.37μc/cm~2,矫顽场强为54.8kV/cm。     

辉光功率对硅薄膜太阳能电池串联电阻的影响

采用RF—PECVD在不锈钢衬底上制备了一系列NIP结构的硅薄膜太阳能电池,得到本征层的辉光功率分别是4W,7．2W,9W,20W,40W。用磁控溅射在P层表面蒸镀ITO透明电极,用太阳能模拟器做光源,测试了电池的串联电阻等性能参数。结果表明本征层辉光功率对电池串联电阻的影响显著。在相同条件下制备了本征单层膜系列样品并进行表征。通过对薄膜性质的分析,运用三相混合模型和渗流理论解释了串联电阻随本征层辉光功率变化的原因。     

提高高温超导材料临界电流密度Jc的方法分析

综述了目前国内外提高高温陶瓷超导材料临界电流密度Jc的主要方法,分析了塑性加工工艺的特点,探讨了通过塑性变形改善弱连接,提高高温陶瓷超导材料Jc的可能性。     

溅射参数对非晶态CoFeNiNbSiB软磁薄膜性质的影响

系统研究了溅射工艺对非晶磁性薄膜的影响,发现在不同的氩气压下,薄膜的磁学性质随负偏压有不同的变化关系。采用电子探针、扫描电子显微镜等测试手段,发现在不同的溅射条件下,非晶膜的微观结构不同。在较高氩气压下,膜中会出现许多圆柱形结构,从而引起膜的软磁性能下降。分析了造成这种结构差别的原因。采用最佳溅射条件,制出了性能优良的非晶态软磁薄膜。     

激光扫描淀积原位生长高TC超导薄膜

用激光束扫描淀积的方法，成功地在ＺｒＯ２（Ｙ），ＬａＡｌＯ３基片原位生长高质量的ＹＢａ２Ｃｕ３Ｏ７－ｘ高温超导薄膜，其临界温度达到９０Ｋ以上，ＳＥＭ及ＸＲＤ分析表明，薄膜沿Ｃ轴择优外延生长，其结晶性很好，表现光滑均匀。     

铟,碲对铋基高温超导体的结构和物理性能的影响

本文采用预制Ｉｎ或Ｔｅ的复合氧化物方法，按设定的化学配比将Ｉｎ或Ｔｅ加入Ｂｉ基高Ｔｃ超导体中，通过结构与热分析表明，Ｉｎ加入Ｂｉ－１１１１产品亚稳相，改变主相晶体结构，能承受大的电流；Ｔｅ加入Ｂｉ－２２２３有良好的磁稳定性。本文用葬超导体上临界场与杂质颗粒平均距离关系分析了加Ｉｎ的结果。