X射线荧光光谱技术在地学研究中的应用

该文简单介绍X射线荧光光谱（XRF）技术应用最新进展,阐明了X射线荧光光谱检测技术的基本原理和分析方法。着重对该技术在中国地学研究和多目标地质调查中的应用作一回顾,包括地质样品分析需求,勘查地球化学样品的多元素分析,稀土元素分析。指出了我国目前X射线荧光光谱检测技术存在的问题,并对X射线荧光光谱检测技术的发展方向进行了展望。     

白云石X荧光光谱分析

选用样品处理相对复杂的熔片法进行白云石中CaO、MgO、SiO2 X 荧光光谱分析.     

波长色散X射线荧光光谱法测定富钛料中主次元素含量

采用荧光专用混合熔剂（67%Li2B4O7：33%LiBO2）做熔剂,溴化锂作脱模剂制备玻璃熔片,X射线荧光光谱法测定富钛料中SiO2、Al2O3、CaO、MgO、MnO、TiO2、TFe中7个主次含量组分。方法中使用了攀钢研究院新研制的3个高钛渣标准样品并在这些标准样品中加入光谱纯TiO2制备人工标样系列,作为校准样品建立了X荧光光谱法测量富钛料中主次元素的方法,经验证,本方法分析的准确度能够满足化学分析的要求。     

X射线荧光光谱法与国标法测定石灰石成分的研究

随着科学技术的不断进步,各种分析仪器越来越先进,X-荧光光谱仪的问世,不仅提高了分析的准确性,也加快了我们的分析速度,做到了实时监控,为操作人员及时调整工艺提供依据。石灰石中的成分组成按照国家标准GB/T 15057进行分析,大部分都是容量分析,分析过程烦琐,分析时间较长,如果进行连续检测,检测结果会滞后,不适合应用此方法连续检测。在煤成分分析时,我们利用X-荧光光谱仪进行分析,不仅缩短了分析时间,而且还减少了工作量,我们在想煤灰成分既然可以用X-荧光光谱仪进行分析,那么石灰石成分分析是不是也可以用X-荧光光谱仪进行分析呢?X-荧光光谱法是根据被测样品在X射线照射下发出的X射线,它包含了被测样品化学组成的信息,通过对X射线荧光的分析确定被测样品中各组分的含量。不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同,因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的,从而进行元素的定性分析。同时样品受激发后发射某一元素的特征X射线强度跟这一元素在样品中的含量有关,因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。     

EDXRF中几何探测光路分析及其优化设计

能量色散X射线荧光分析因其分析速度快、准确度高、分析过程简单等优势已经广泛的应用到医疗、考古等诸多领域。探测光路的最优化设计可以减小仪器散射本底,降低检出限,提高仪器的分辨率及探测效率,增强特征X射线的全能峰的峰背比,改善仪器的工作性能。应用自制的一款低检出限、高分辨率的能量色散X射线荧光分析仪,通过对纯元素Cu特征X射线探测完成了光谱仪几何光路最优化设计。实验结果表明,X射线管与样品的夹角、样品与探测器的夹角均为45°,X射线管到样品、样品到探测器的距离均为10mm时,特征X射线的峰背比最佳。同时将Al-Pb准直加装在光路中进行本底测量,散射本底以及仪器的检出限大大降低,提高了仪器的分辨率及探测效率,为痕量和微量元素的分析提供了优化的光路解决方案。     

蓝色荧光硫化锌材料的制备及其发光特性

采用热扩散掺氯的方法,制备了在室温紫外光激发下发射蓝色荧光的硫化锌粉末荧光材料.用X射线衍射(XRD)和透射电镜(TEM)研究了不同扩散温度下得到的样品的晶格结构和形貌;用荧光光谱(PL)仪测量了不同扩散温度下制备的样品的荧光光谱,得出700~1 000℃是扩散掺杂氯制备蓝色荧光硫化锌材料的温度条件,并对发光样品的发光机理进行了研究.     

微束X射线荧光分析谱仪及其对松针中元素的分布分析

介绍了一种小型的微束X射线荧光分析谱仪,它是由导管X光透镜和能量色散X射线荧光分析谱仪组成.谱仪具有较高的空间分辨率和能量分辨率.使用本谱仪对松树针叶进行了微区分析,得出各种元素沿松针长度方向和横切面径向的分布规律.结果表明使用X光透镜的微束X射线荧光分析方法可以实现植物样品的微区分析,有助于进一步了解植物的生长与元素迁移的关系.     

X射线荧光分析用高炉生铁控样的制备和应用

本文介绍了X射线荧光光谱分析用高炉生铁内控样的制备和应用。通过收集合适元素含量范围、含量分布梯度均匀的生产样品,经均匀性试验,国标化学分析方法、ICP-AES法、高频红外法定值,筛选出十个生铁内控样。应用于生铁的X射线荧光光谱分析,结果准确可靠。     

“双源散射法”校正X射线荧光分析中的基体效应

引言在X射线荧光分析中,待测元素的含量不仅仅是其特征X射线强度的函数,而且也是样品对初级辐射和特征X射线的质量吸收系数的函数。在理想条件下,待测元素的含量与特征X射线的强度呈线性关系。对于地质样品,这种理想条件严格说并不存在,需要对测量到的     

X射线管激发源荧光分析仪的应用

文章介绍X射线光管作为激发源的荧光仪在铜矿中的应用研究。通过对标准样品的测量,选定了X射线光管对铜元素测量的最佳激发条件。采用适当的方法对基体效应、不平度效应进行校正,较为准确地测量出矿物岩石样品中的铜元素含量,以满足矿山生产的需求。     

磁控溅射制备ZnO:Ag薄膜及其室温光致发光特性

采用射频磁控溅射法在玻璃衬底上制备出含Ag量不同的Ag掺杂ZnO:Ag薄膜,利用X射线衍射仪、X射线光电子能谱仪及荧光分光光度汁研究了不同Ag掺杂量对ZnO薄膜结构及荧光发射谱的影响.在室温下测量了样品的光致发光谱,所有样品都出现了446nm左右的蓝色发光峰,在掺杂以后的样品中观察到波长位于368 nm左右的较强紫外发射.结合x射线衍射仪、光电子能谱仪等的测量结果,分析认为,样品紫外光发射的显著增强源于Ag掺杂以后在晶粒间界形成的大量激子,而蓝光的发射来源于Zn空位.     

提高波长色散X射线荧光光谱法测定钼精矿中钼含量的准确率

本文针对X荧光分析仪测定钼精矿中钼含量的主要影响因素进行分析,并确定出钼含量在49%-58%范围的钼精矿样品适宜的测定条件,提高了样品检测的准确率。     

高度择优取向单晶氧化锌纳米线的制备与发光特性

采用电场辅助电化学沉积法,在室温下成功的在阳极氧化铝模板（AAO）内制备了高度择优取向的硫掺杂ZnO单晶纳米线。用X射线衍射仪（XRD）、隧道电子显微镜（TEM）及选区电子衍射（SAED）对样品的形貌、结构进行分析表明,所得样品是高择优取向的单晶,纳米线,长约几到几十微米,平均直径约70nm。X射线光电子能谱（XPS）进一步证实掺杂硫原子的存在,并分析其生长机制。用荧光光谱仪（PL）分析了样品的发光特性,发现除了典型的ZnO纳米线荧光光谱外,还有紫光和蓝光发光。     

铜矿石化学分析方法概述与评价

电感耦合等离子体发射光谱(ICP-AES)和X射线荧光光谱(XRF)已成为当今铜矿多元素分析的基本的有效的技术方法。因其具有分析速度快、精度高、灵敏度高、重现性好、分析元素范围广等优点,广泛的应用于金属矿石样品的成分分析。对电感耦合等离子体发射光谱(ICP-AES)和X射线荧光光谱法(XRF)进行了概述,并对其分析方法的优缺点进行了评价。     

用X射线荧光法测定黄芪中的多种矿质元素

报道了理学3070型X射线荧光光谱仪在测定宁夏黄芪样品矿质元素中的应用．采用焦化法制备黄芪样品，精密度统计结果表明，宁夏黄芪样品矿质元素的RSD(n=10)为0．2％～12％．以GBW07602，GBW07603．GBW07605国家植物标准为参考物质进行样品校准，实验结果表明，用X射线荧光法测定的结果与标准值基本相符，并用此法将宁夏黄芪与其他地区黄芪进行了比较．     

Bi~(3+)敏化Sr_(1.8)Eu_(0.8-x)V_(1.2)P_(0.8)O_8的发光性质(英文)

采用固相法制备Sr1.8Eu0.8-xBixV1.2P0.8O8(0≤x≤0.7)系列粉末样品.研究样品中的Bi和Eu的相互作用,并讨论相关机理.用X射线衍射和荧光分光光度计对样品的结构和光学性质进行研究,结果表明:x=0.30时,样品的发光强度最强.     

基于判别分析的X射线荧光烟叶产地识别应用

烟叶品质的优劣不仅与品种、生长条件有关,还与其原产地的土壤及生长环境有着较大的关联.根据不同产地烟叶中金属元素分布的差异,提出了利用X射线荧光光谱技术快速检测出烟叶中各种金属元素的分布,结合判别分析法对烟叶产地进行识别的研究.首先对不同产地样品的金属元素的平均值进行分析,发现不同产地烟叶样品间存在较大差异;利用SPSS软件对其中样品数较多的4个地区的烟叶样品进行逐步判别分析并建立判别分析模型,当选入自变量的元素包括Cd,Rb,Ba,As,S等6种元素时,建立的判别函数判别回代准确率为92.9%,交互验证的准确率为90.5%,说明应用X射线荧光分析法来鉴别不同产地的烟叶具有较强可行性.     

Ba~(2+)掺杂Y_(0.75)Bi_(0.15)Sm_(0.10)VO_4荧光粉的发光性质（英文）

采用固相法制备Ba2+掺杂Y0.75Bi0.15Sm0.10VO4荧光粉粉末样品.用X射线衍射和荧光分光光度计对样品的结构和光学性质进行了研究.结果表明:Ba加入并没有改变样品的晶体结构,但大大提高了荧光粉的发光强度.相关机理在文中给出了解释.     

铽离子掺杂铝硅酸盐氧氟玻璃的制备及其荧光性能

采用传统熔融法制备了Tb3+掺杂的铝硅酸盐氧氟玻璃样品.应用X线衍射仪、差示扫描量热仪、紫外可见分光光度计和荧光光谱仪对样品进行分析和表征.研究结果表明:Tb3+掺杂的铝硅酸盐氧氟玻璃热稳定性较好,不易析晶;紫外吸收截止波长为320～330nm,具有较好的透光性能;在紫外光的激发下,Tb3+主要产生蓝色和较强的绿色荧光;随着Tb3+浓度的增加,Tb3+间发生共振能量转移,增强了绿色荧光发射.     

电离辐射对个体识别的影响分析

研究采用不同剂量和不同类型辐射射线照射后的DNA能否进行个体识别。准备人工合成的FAM标记单链DNA样品和293T双链DNA样品，应用X射线、伽马射线、电子束分别对DNA样品照射不同剂量，然后采用FISCAN GA118-16A遗传分析仪对单链DNA样品和Identifiler Pluse试剂盒扩增后的双链DNA样品进行检测，测定其荧光强度及基因座个数。在照射剂量分别为35 Gy、70 Gy、105 Gy时，单链DNA的荧光强度分别降为1 500 rfu、600 rfu、0 rfu,双链DNA的基因座均可检出16个；当照射剂量逐渐增加到10 kGy、25 kGy、50 kGy,双链DNA的基因座个数有减小趋势，照射剂量50 kGy时部分DNA样品的基因座个数小于10个。对于单链DNA,采用10 kV的X射线照射，照射剂量累计到105 Gy以上时，单链DNA全部断裂，且断裂程度已无法识别；对293T双链DNA,采用10 kV的X射线、⁶⁰Co伽马射线和2.5 MeV的电子束分别照射，照射剂量累计到50 kGy时，对DNA的破坏程度已影响到个体识别。