考虑扇出重汇聚效应的组合电路软错误率评估

为了准确评估集成电路的软错误率(soft error rate,SER),文章提出一种新颖的电路SER评估方法。通过门级仿真获得逻辑门输出信号,将产生瞬态故障的逻辑门进行故障注入,然后使用考虑扇出重汇聚的敏化路径逼近搜索算法查找不同输入向量下的敏化路径;通过单指数电流源模拟瞬态故障脉冲的产生,并将脉冲在敏化路径上传播,使用脉冲屏蔽模型评估电气屏蔽和时窗屏蔽效应;最后采用该方法计算可得电路总体SER。实验结果表明,由于考虑扇出重汇聚的影响,该方法平均提高8.2%的SER评估准确度。     

一种克服工艺参数影响的IDDT方法

在瞬态电流测试中,即使是同一设计的芯片,由于制作工艺参数的不稳定性,在输入相同的测试向量对时,会产生不同的瞬态电流,这就可能减小故障电路和无故障电路瞬态电流的差别,导致不能对电路是否有故障做出正确的判断。参考稳态电流测试中克服工艺参数影响的方法,针对开路故障,提出了一种在瞬态电流测试中克服工艺参数影响的方法,并利用Pspice软件对这种方法进行了模拟实验。模拟结果证明,该方法是可行的。     

一种压缩向量对测试集的新方法

通过施加一个测试向量对,瞬态电流测试可以检测出CMOS数字电路中的某些故障,这些故障通常（例如开路故障）不能被传统的电压测试和稳态电流测试有效地检测出来。研究如何有效地压缩向量对测试集与通常的测试向量压缩一样,意义十分重要,但目前人们对此研究得较少。首先使用三种现有的游程编码方法对向量对测试集进行压缩,并比较它们的压缩结果。在此基础上．提出了一种更好的压缩方法。采用新方法对几个ISCAS标准电路的开路故障向量对测试集进行压缩,实验证明压缩效果比三种游程编码方法都要好。而且,新方法的解码代价非常小,适合压缩大型电路的开路故障测试集。     

FAN算法在瞬态电流测试产生中的应用

在不考虑冒险的情况下，对于CMOS电路中的开路故障，探讨了利用FAN算法进行瞬态电流测试产生的可能性，定义了三种不同的D前沿，并将测试产生分为激活故障，使无故障电路和故障电路的瞬态电流差别最大化，减少旁路的影响三个部分，实验结果说明，在不考虑冒险的情况下，将FAN算法应用于瞬态电流测试产生是可行的。     

基于电流的芯片级集成电路故障诊断方法研究

随着芯片级集成电路规模的逐渐增大,电路结构越来越复杂,当前故障诊断方法利用电路状态对电路故障进行检测,检测精度低。为此,提出一种新的基于电流的芯片级集成电路故障诊断方法。选择动态电流对芯片级集成电路故障进行诊断,通过Haar小波函数对芯片级集成电路进行预处理。介绍了多重分形理论基础,给出动态电流多重分形谱的计算方法。针对正常芯片级集成电路的动态电流信号求出其多重分形谱,选择一组测试向量对待测芯片级集成电路进行动态电流检测,对得到的数据进行小波变换处理,求出不同尺度下动态电流小波系数的模极大值。依据小波系数模极大值求出多重分形谱,通过其和正常电路多重分形谱之间的差异判断该电路是否存在故障。实验结果表明,所提方法诊断精度高。     

基于SSA-SVM的航空电弧故障检测

针对航空线路系统电弧故障隐蔽性高和难以检测的问题,提出一种基于麻雀搜索算法优化支持向量机（Sparrow Search Algorithm Optimization Support Vector Machine,SSA-SVM）的航空电弧故障检测方法。首先采用小波分解对电弧故障电流数据进行分解,小波分解能有效克服经验模态分解时存在的模态混叠问题。再从信号无序度的角度对电流分量提取能量熵、模糊熵与近似熵,并构造特征向量。然后,使用麻雀搜索算法对支持向量机的权值进行优化,得到最优的权值,最后用训练好的支持向量机对测试样本进行分类。为了验证所提方法的有效性,搭建电弧实验平台,模拟航空线路系统电弧故障的产生,分别采集交流串联正常和电弧故障电流数据,应用本文提出的SSA-SVM算法进行电弧故障检测,结果表明,该方法能较好地识别出电弧故障,检测准确率达到99.5%,相比于粒子群算法或遗传算法优化的支持向量机对电弧故障的检测准确率分别高出2.5%和2%。     

基于电流的芯片级集成电路故障诊断方法

随着芯片级集成电路规模的逐渐增大,电路结构越来越复杂。当前故障诊断方法利用电路状态对电路故障进行检测,检测精度低。为此,提出一种新的基于电流的芯片级集成电路故障诊断方法。选择动态电流对芯片级集成电路故障进行诊断,通过Haar小波函数对芯片级集成电路进行预处理。介绍了多重分形理论基础,给出动态电流多重分形谱的计算方法。针对正常芯片级集成电路的动态电流信号求出其多重分形谱,选择一组测试向量对待测芯片级集成电路进行动态电流检测,对得到的数据进行小波变换处理,求出不同尺度下动态电流小波系数的模极大值。依据小波系数模极大值求出多重分形谱,通过其和正常电路多重分形谱之间的差异判断该电路是否存在故障。实验结果表明,所提方法诊断精度高。     

基于蚁群算法的移动机器人全局路径规划

移动机器人路径规划是机器人学的一个重要研究领域,蚁群算法是一种模拟蚂蚁群体觅食行为的仿生优化算法。结合机器人路径规划的特点,将确定性选择和蚁群算法的随机性选择相结合进行节点转移,每次循环后只对较优蚂蚁路径进行信息素更新,提高了算法收敛的速度;在寻找路径过程中蚂蚁无后继转移节点时,采用蚂蚁回退策略,增强了算法在复杂障碍物环境中寻找路径的健壮性。仿真试验表明,该算法能在障碍物较复杂的情况下迅速规划出较优的全局路径。     

结合奇偶测试的大规模集成电路征兆测试

征兆测试是一种高效简捷的电路测试方法。该文提出一种适用于大规模集成电路的测试方法——组合征兆测试法。利用这种方法,测试者可以通过穷举输入组合,使奇偶测试和征兆测试相结合,共同解决对大规模集成电路故障测试的难题。主要思想是:首先通过被测电路的奇偶性判断该电路的征兆测试法的可测性,对征兆测试法不可测的电路,引入高阶征兆测试的思想,使其成为高阶征兆测试法可测电路。结果表明:该方法在提高可测性的同时,还提高了电路征兆测试的测试效率和故障覆盖率。通过对一些基准电路和常用电路的测试验证了该方法的实用性。     

用于IDDT测试的BIST测试向量生成器

检测CMOS电路中的开路故障通常需要使用测试向量对。内建自测试（BIST）作为一种有效的测试技术可以大大地降低测试开销。设计一种用于IDDT测试的BIST测试向量生成器,它随机产生跳变数为1-2的测试向量对。实验证明。它能以较少的测试向量对检测出比较多的故障。     

Testing Cross-Talk Induced Delay Faults in Digital Circuit Based on Transient Current Analysis

The delay fault induced by cross-talk effect is one of the difficult problems in the fault diagnosis of digital circuit. An intelligent fault diagnosis based on IDDT testing and support vector machines （SVM） classifier was proposed in this paper. Firstly, the fault model induced by cross-talk effect and the IDDT testing method were analyzed, and then a delay fault localization method based on SVM was presented. The fault features of the sampled signals were extracted by wavelet packet decomposition and served as input parameters of SVM classifier to classify the different fault types. The simulation results illustrate that the method presented is accurate and effective, reaches a high diagnosis rate above 95%.     

基于多种群蚁群算法的变压器故障检测次序寻优方法研究

针对传统变压器故障检测次序的不足,在研究变压器故障树分析方法的基础上,提出了一种基于多种群蚁群算法的变压器故障检测次序寻优方法.首先给出了多种群蚁群算法的原理和模型;然后利用蚁群算法的全局优化和启发式寻优的特点,对变压器故障检测次序进行优化;最后,以分接开关故障树为例验证了多种群蚁群算法在变压器故障检测次序寻优中的可行性和有效性.     

Study on MCM Interconnect Test Generation Based on Ant Algorithm with Mutation Operator

Introduction With rapid development of very large scale in-tegration(VLSI),multi-chip module(MCM)andmulti-layer printed circuit boards(MPCB),inter-connect test technology has become a bottleneckinthe application of these circuits.The high reliabili-ty of MCMis due to that bare integrated circuitchips are welded and interconnected under highdensity and small di mension conditions[1].Testgenerationis one key technologies of MCMinter-connect test,so study on novel method of test gen-eratio…     

Verilog RTL模型

VLSI集成电路芯片测试技术正在向高层次测试推进，针对Verilog硬件描述语言，提出了一种在寄存器传输级（register transfer level,RTL)上的电路模型VRM，该模型着重于实际应用，可输出文本格式文件，便于开发实用的RTL级故障模拟和RTL级测试生成等软件。基于该模型。还实现了一个简单的RTL逻辑模拟程序以验证VRM模型的可行性。     

Test Generation with Unspecified Variable Assignments

ATPG for very large scale integrated circuit designs is an important problem in industry. With the advent of SOC designs, testing and verification of the core-based designs become a challenging problem. This paper presents an algebraic test generation algorithm with unspecified variable assignments. Given a stuck at fault of the circuit with unspecified signals, the proposed algorithm uses a new encoding scheme for unspecified variable assignments, and solves the Boolean satisfiability formula representing the Boolean difference to obtain a test pattern. Experimental results demonstrate the efficiency and feasibility of the proposed algorithm.     

基于模拟电路I_(DDT)的小波神经网络故障诊断方法

动态电源电流(IDDT)对模拟电路故障诊断非常有效。通过分析被测电路的动态电源IDDT及其输出响应来识别电路的故障元件;用小波对被测信号进行多尺度分解,提取小波系数能量,经归一化后,作为特征向量输入到神经网络而实现故障诊断.实验仿真结果表明:该方法能正确实现故障定位且准确率高.     

用于测试用例生成的遗传算法改进

在软件测试技术中,高效的测试用例生成是简化测试工作、提高测试效率的必要手段。传统遗传算法是一种多点搜索和采用交叉操作的技术,有效应用于测试用例生成。遗传算法虽然具有良好的全局搜索能力,但对于局部空间的搜索问题不是很有效。针对此问题,对传统遗传算法在适应度函数、遗传算子方面进行改进,提高该算法在局部空间的搜索能力,提出一种基于改进遗传算法的测试用例生成方法。实验结果表明,所提出的方法在测试用例生成的效率和效果方面优于基于传统遗传算法的测试用例方法。     

时序电路SACO和PSO混合算法的测试矢量生成

提出了一种新的测试矢量生成算法，其使用SCOAP测度对蚁群算法进行参数调整，并在粒子群算法的框架下进行测试矢量生成，再使用调整后的蚁群算法进行测试矢量优化。该算法不仅克服了粒子群算法的容易陷入局部最优等缺点，而且利用电路本身的特性来确定蚁群算法的参数。以国际标准电路为例，实验验证本文的算法，结果表明本算法应用于时序电路的测试矢量生成时，相对于粒子群算法提高了其收敛性，提高了故障覆盖率；相对于蚁群算法压缩了测试矢量集，减少了测试诊断时间。