FAN算法在瞬态电流测试产生中的应用

在不考虑冒险的情况下，对于CMOS电路中的开路故障，探讨了利用FAN算法进行瞬态电流测试产生的可能性，定义了三种不同的D前沿，并将测试产生分为激活故障，使无故障电路和故障电路的瞬态电流差别最大化，减少旁路的影响三个部分，实验结果说明，在不考虑冒险的情况下，将FAN算法应用于瞬态电流测试产生是可行的。     

基于小波-神经网络的电阻性开路故障诊断方法

数字电路中的电阻性开路引起时滞性故障,会使电路的功能失效。针对此故障,本文在分析数字电路的瞬态电流IDDT测试和主成分分析技术的基础上,研究了小波-神经网络诊断电阻性开路故障的方法。结果表明,使用小波-神经网络的数字电路的IDDT方法行之有效。     

一种压缩向量对测试集的新方法

通过施加一个测试向量对,瞬态电流测试可以检测出CMOS数字电路中的某些故障,这些故障通常（例如开路故障）不能被传统的电压测试和稳态电流测试有效地检测出来。研究如何有效地压缩向量对测试集与通常的测试向量压缩一样,意义十分重要,但目前人们对此研究得较少。首先使用三种现有的游程编码方法对向量对测试集进行压缩,并比较它们的压缩结果。在此基础上．提出了一种更好的压缩方法。采用新方法对几个ISCAS标准电路的开路故障向量对测试集进行压缩,实验证明压缩效果比三种游程编码方法都要好。而且,新方法的解码代价非常小,适合压缩大型电路的开路故障测试集。     

基于蚂蚁路径的IDDT测试生成

始于90年代的瞬态电流测试（IDDT Testing）法可以检测出传统的电压测试法和稳态电流测试法所不能检测出的集成电路故障。瞬态电流测试产生需要一次产生两个或两个以上向量。其测试向量产生比较复杂,寻找高效的测试向量产生算法对提高测试效率具有重要意义。提出了一种基于模拟测试的蚂蚁路径瞬态电流测试产生算法。通过蚂蚁算法的自适应与正反馈的特点,寻找出一条测试集成电路故障的最佳路径,该算法思想简单,易于实现。通过SPICE模拟验证表明测试产生的结果是有效的。     

Buck型DC-DC变换器中数字预测模糊PID控制器的设计与实现

为了提高数字DC-DC变换器的瞬态响应性能,设计了一种基于数字预测控制方法的模糊PID控制器.该控制器根据Buck型DC-DC变换器的电路结构,准确预测单个开关周期或多个开关周期后的负载电压和电感电流,以克服环路时延对系统瞬态响应的影响;同时,在基本PID控制基础上引入模糊控制,实时在线调整PID控制参数,以克服变换器的非线性特性对瞬态能力的影响.所设计数字控制器经FPGA验证,结果表明,与基本PID控制相比,所设计数字预测模糊PID控制器能有效提高变换器的瞬态响应能力,变换器的瞬态响应时间缩短1/3,电压超调量小于5%.     

简单内置式低压降线性稳压器设计与分析

设计了一种高精度、宽输入电压范围LDO线性稳压器。电路采用0.6μm BCD高压工艺,所需版图面积小,可内置在功率放大器等系统级芯片中作为内部电源使用。与传统方法相比,该电路在频率补偿、输出瞬态响应等关键指标参数上有所改进,输出级作为内部供电电源所需具备的稳定性精度为±1.2%,最大输出负载电流为30mA。     

一种高精度电流镜电路架构的设计

电流镜在模拟电路中是核心模块之一,在模拟电路要求较高的场合,精度是决定电流镜性能的重要参数之一;但随着工艺尺寸的减小,由于沟道长度调制效应,电流镜电流匹配精度变低;采用UMC 65 nm工艺,通过Cadence公司的Spectre进行仿真验证, 文章所提出的电流镜电路架构实现了较高的精度,使得随着工艺尺寸的减小所带来的偏差能够很大程度减小,满足了电路对高精度的要求.     

基于虚拟仪器的超声电机瞬态特性测试系统

超声电机（Ultrasonic Motor,简称USM）是近二十年发展起来的一种全新原理的电机。超声电机瞬态特性测试是实现其瞬态控制的基础。基于虚拟仪器技术,设计硬件触发电路、软件滤波和数据采集、测试、分析系统,克服以往硬件和软件设计带来的误差,实现了对超声电机启动和关断的速度曲线和响应时间等参数的准确测试。经试验证明,超声电机具有毫秒级的响应时间,同时检测系统结构简单,具有一定的通用性和可行性。     

LDO稳压器中动态频率补偿和限流保护的研究

.文章针对LDO稳定性的问题,提出了一种内部动态频率补偿电路,使LDO线性稳压器的稳定性不受负载电容的等效串联电阻的影响,其单位增益带宽也不随负载电流变化而改变,大大提高了瞬态响应特性;采用Hynix 0.5μm CMOS工艺模型对电路进行仿真;此外,该电路在实现动态频率补偿的基础上又加入了系统的过流保护功能,当负载电流大于限制电流时,LDO不能正常工作;当负载电流小于限制电流时,又自动恢复到正常工作状态。     

基于电流的芯片级集成电路故障诊断方法研究

随着芯片级集成电路规模的逐渐增大,电路结构越来越复杂,当前故障诊断方法利用电路状态对电路故障进行检测,检测精度低。为此,提出一种新的基于电流的芯片级集成电路故障诊断方法。选择动态电流对芯片级集成电路故障进行诊断,通过Haar小波函数对芯片级集成电路进行预处理。介绍了多重分形理论基础,给出动态电流多重分形谱的计算方法。针对正常芯片级集成电路的动态电流信号求出其多重分形谱,选择一组测试向量对待测芯片级集成电路进行动态电流检测,对得到的数据进行小波变换处理,求出不同尺度下动态电流小波系数的模极大值。依据小波系数模极大值求出多重分形谱,通过其和正常电路多重分形谱之间的差异判断该电路是否存在故障。实验结果表明,所提方法诊断精度高。     

基于模拟电路I_(DDT)的小波神经网络故障诊断方法

动态电源电流(IDDT)对模拟电路故障诊断非常有效。通过分析被测电路的动态电源IDDT及其输出响应来识别电路的故障元件;用小波对被测信号进行多尺度分解,提取小波系数能量,经归一化后,作为特征向量输入到神经网络而实现故障诊断.实验仿真结果表明:该方法能正确实现故障定位且准确率高.     

用于IDDT测试的BIST测试向量生成器

检测CMOS电路中的开路故障通常需要使用测试向量对。内建自测试（BIST）作为一种有效的测试技术可以大大地降低测试开销。设计一种用于IDDT测试的BIST测试向量生成器,它随机产生跳变数为1-2的测试向量对。实验证明。它能以较少的测试向量对检测出比较多的故障。     

Testing Cross-Talk Induced Delay Faults in Digital Circuit Based on Transient Current Analysis

The delay fault induced by cross-talk effect is one of the difficult problems in the fault diagnosis of digital circuit. An intelligent fault diagnosis based on IDDT testing and support vector machines （SVM） classifier was proposed in this paper. Firstly, the fault model induced by cross-talk effect and the IDDT testing method were analyzed, and then a delay fault localization method based on SVM was presented. The fault features of the sampled signals were extracted by wavelet packet decomposition and served as input parameters of SVM classifier to classify the different fault types. The simulation results illustrate that the method presented is accurate and effective, reaches a high diagnosis rate above 95%.     

一种使用调控器针对数据通路的综合功能的时间扩展模型生成方法

一些超大规模集成电路(VLSI)近来通过行为描述已在高层次被设计.行为合成可以将行为描述变换成由控制器和数据通路组成的寄存器传输层电路.数据通路的控制信号线输入序列和状态信号线输出序列从控制器提取.作者提出一种生成综合功能时间扩展模型的方法,其中提取的信息作为约束被加入.在常规的贯序测试生成方法中使用时间模型只有结构信息,因为对于实际的贯序电路的搜索空间相当庞大,所以在合理时间内很难达到高排错效率.在使用来自功能验证模块的功能时间扩展模型的贯序测试生成方法中,因为所有的功能行为不可能全被覆盖,所以很难提高排错效率.由于作者提出的方法可以覆盖所有的功能行为,所以与常规的方法相比可以实现在合理时间内的高排错效率.所提出的测试生成方法被用于除法器电路.实验数据显示了在16 s内排错覆盖率达到了100%.     

复合材料许用值试验数据处理方法

基于现有文献资料中对于复合材料许用值试验数据统计方法的总结,论述了复合材料许用值试验数据处理方法,包括正则化要求,异常数据的处理以及B基准统计方法,并对B基准统计过程中的批间差异检验、方差等同性检验和正态分布检验的工程判断进行了详细的介绍。重点阐述了合并法、单点法、小样本方法和最小批次B基准值方法的使用方法与限制条件,提出了B基准统计方法的选择流程。在B基准统计过程中,提出了采用修改离散系数方法补偿过低的变异性,以提高通过批间变异性和方差等同性检验的机率,并得到保守的复合材料许用值。采用所述方法对2组复合材料许用值试验数据进行了B基准值计算,结果表明：合并法与单点法得到的B基准值比较稳定且差异较小;小样本统计方法得到相对保守的B基准值,但是与母体的B基准值十分接近;最小批次B基准值方法得到的B基准值不一定保守,得到的B基准值不够稳定,需补充试验数据以得到用于设计和强度分析的许用值。     

电力电子电路机理仿真实验系统的初步研究

把建立电路方程的一般方法-表矩阵法,应用于带开关器件的电力电子电路,通过把电路中的开关元件视为理想开关,并将其作为一个电路元件包含在电路中,建立起统一的电路方程,采用向后欧拉法对其进行数值求解.电路的表矩阵方程的系数矩阵通常是稀疏矩阵,需要采用稀疏矩阵技术进行计算机仿真.最后用一个实例,单象限降压型电路(Buck电路)的仿真,说明了这种方法在实际应用中的可行性和有效性.     

A New Method for the Detections of Multiple Faults Using Binary Decision Diagrams

With the complexity of integrated circuits is continually increasing, a local defect in circuits may cause multiple faults. The behavior of a digital circuit with a multiple fault may significantly differ from that of a single fault. A new method for the detection of multiple faults in digital circuits is presented in this paper, the method is based on binary decision diagram （BDD）. First of all, the BDDs for the normal circuit and faulty circuit are built respectively. Secondly, a test BDD is obtained by the XOR operation of the BDDs corresponds to normal circuit and faulty circuit. In the test BDD, each input assignment that leads to the leaf node labeled 1 is a test vector of multiple faults. Therefore, the test set of multiple faults is generated by searching for the type of input assignments in the test BDD. Experimental results on some digital circuits show the feasibility of the approach presented in this paper.     

电路测试的可区分故障算法研究

研究一种基于人工神经网络的能区分故障的数字电路测试生成方法,该方法利用电路基本逻辑门的特性和神经网络模型的特点,首先建立测试生成的神经网络模型,然后通过求解网络能量函数的最小值点获得给定类型故障的测试矢量,其研究结果在可区分故障的测试生成方面提供了一种可能的新途径