含一个割点的连通图的最小特征值

一个图的无符号拉普拉斯最小特征值在某个图类中的所有图中达到最大时常称为极大图;通过利用特征向量方程研究特征值的方法,对只含有一个割点的连通图的无符号拉普拉斯最小特征值进行了研究,且得到了最小特征值的值,从而得到了只含有一个割点的具有相同阶数的所有的连通图中最小特征值的极大值,并且刻画了最小特征值取到极大值时所对应的极大图的结构.     

链状割点图的Hosoya多项式

任一连通图的Hosoya多项式的定义如下:H(G)≡H(G,x):=∑d(G,k)xk k≥0,其中d(G,k)是图G中距离为k的点对的个数。事实上,d(G,0)等于图G的点数,而d(G,k)等于图G的边数。设{Gi}ni=1是一个两两不交的图的集合,并且Vi,Vi∈V(Gi),所谓链图C(G1,G2,…,Gn)≡C(G1,G2,…Gn;v1,w1,v2,w2,…,vn,wn)指的是将各点对wi和vi+1粘合起来而得到的图,其中i=1,2,…,n-1。文章得到了链状割点图的Hosoya多项式,并且,作为引理,并给出了树的Hosoya多项式。     

关于图的平方根的一个注记

给出了一个以图的边数来判断一个图是否存在平方根的一个必要条件：对于图Ｇ（Ｖ，Ｅ），基｜Ｅ｜〈２｜Ｖ｜－３，则此图无平方根。     

k连通图在边点割原子与点割上的可去边

图的可收缩边与可去边是研究连通图的构造和使用归纳法证明连通图的一些性质的有力工具.利用边点割断片的性质给出某些k连通图中在特定子图上可去边的分布情况,得到了最小度至少为(3(k-1)/2)或围长至少为4的k连通图(k≥4)中由边点割原子与点割所导出的子图的每一条边都是可去边.     

点可迁图的顶点划分

设G是k正则连通点可迁图。图G的一个边割S称为限制性边割，如果G－S不含孤立点，最小限制性边割所含的边数λ′称为限制性边连通度。已经证明λ′≤2k-2，等号成立时，称图G是极大限制性边连通的。本文证明了：如果G不是极大限制性边连通的，那么G的顶点集存在一个划分π＝（C1，…，Cm)，使得由Ch导出的子图同构于一个连通k-1正则点可迁图H,h=1,2，…，m，而且k≤|H|≤2k-3。     

简单连通图G(P,P)的块-割点划分

主要讨论简单连通图G(P,P)(P≥4)的块一割点划分。     

用矩阵判断哈密顿图的一个充要分析

给出了一个从图的邻接矩阵来判断有限无向连通图是否是哈密图的充分必要条件。     

图和宽的几个界

在文〔3〕的基础上进一步研究图和宽的界.     

关于图的谱半径的一个改进上界

通过对图的邻接矩阵结构的分析和讨论，得到了一个关于图的谱半径的一个新的上界，从而改进的几个已知的结果。     

HAMILTON图的特征矩阵

讨论了Hamilton图G和它的邻接矩阵A之间的关系，得到如下结果定理1：图G是H－图当且仅当A＝B＋Q，这里B≥0且B≠0，Q＝PCP，C是由互换单矩阵中的第1行和第n行所得到的初等阵，P是置换阵，P是P的转置矩阵，定理：图G是H－图当且仅当A的谱半径ρ（A）是A的单根，且存在正特征向量ξ，使得Aξ＝ρ（A）ξ＞η，这里η是适当调整ξ的分量而得到的向量，满足：当ξ的第i个分量调为η的第j个分量时，A的（i,j)元aij=1.     

点泛圈偶图

设Ｇ是连通偶图，（Ｘ１，Ｘ２）是其顶点的二分类，｜Ｘ１｜＝｜Ｘ２｜＝ｎ，δ（Ｇ）≥ｔ≥３，且对于Ｘｉ中的任意两点ｕ和ｖ，均有｜Ｎ（ｕ）∪Ｎ（ｖ）｜≥ｎ－（ｔ－２），ｉ＝１，２，文中对ｔ≤６的情况，证明Ｇ是点泛圈偶图。     

商Cayley图与顶点传递图

本文得到的一个令人感兴趣的结论是,顶点传递有向图(或无向图)必定是Cayley有向图(或无向图),反之亦然。     

割集矩阵在早期不交化FTA中的应用

根据故障树早期不交化方法,提出利用割集矩阵运算导出早期不交化的故障树分析新算法,并用Ｃ＋＋语言开发了基于Ｗｉｎｄｏｗｓ的ＦＴＡ应用软件。实例证明新算法运算速度快,软件可靠,能有效降低ＦＴＡ的“ＮＰ”困难,为ＦＴＡ技术在机械系统故障树分析方面提供了一种新的方法。     

一类无爪图的Hamilton圈

设ｖ是图Ｇ＝（Ｖ，Ｅ）的顶点，若存在顶点ｕ∈Ｖ－｛ｖ｝，使子图Ｇ［Ｎ（ｖ）∪｛ｕ｝中任意一对顶点的距离不超过３，则称ｖ是Ｇ的弱局部连通顶，点。设Ｇ是非平凡的连通无爪图，且它的任一顶点割均钫含一个弱局部连通顶点，则Ｇ包含Ｈａｍｉｌｔｏｎ圈。     

r－循环矩阵逆阵的一种求法

本文给出了ｒ－循环矩阵非奇异判别方法，并且给出一种求逆陈的方法．     

一种新的晶体定向切割方法

发展了一种新的晶体定向切割方法，此法利用Ｘ光定向仪，在只须知道晶体某一晶面的情况下，借助于该晶体的标准极图，即可定向切割出该晶体的任意所需晶面（或晶向）。理论分析表明，此法对立方晶系、六方（含三方）晶系、四方晶系、正交晶系均正确、可靠，定向切割操作快速、准确、简捷，具有很高的实用性。     

图之极小顶点覆盖

图的一个顶点覆盖被称为极小的假如其任何真子集不再是该图的一顶点覆盖，本文证明了某些图之所有极小顶点覆盖的个数的明确表达式，其中包括路径，梯形图，及线性ｎ部图。     

一种校正基体效应的方法

介绍了一种实用的校正基体效应的方法。该方法在某铅锌矿2号矿体群的应用表明:X射线荧光法分析结果与化学分析结果相比较,在规定的允许偶然误差限内,对铅和锌其合格率分别为81%和79%,X射线荧光法重复分析铅、锌含量的平均相对误差均小于1%。