几种金属薄膜密度的测量

用两种方法测量了几种金属薄膜的密度。介绍了应用卢瑟福背散射（ＲＢＳ）技术结合阶仪测厚来测量薄膜密度的测量方法，并将所得结果进行了讨论，分析了两种测量方法的优缺点。     

两种测量花生油体积方法的比较

采用密度法和相对密度法两种测量方法对花生油的体积进行了测定。采用F检验法比较了两种测量方法的差异性。结果表明,两种方法在测量花生油体积时不存在显著性差异（F≤F_a）。     

几种常用光学方法测量薄膜厚度设计

随着科技的进步和精密仪器的应用,薄膜厚度的测量方法层出不穷,准确测量薄膜的厚度和光学常数在薄膜的制备和应用中起着关键的作用,直接关系到该薄膜材料能否正常工作。本文通过对薄膜的光学测量方法进行归类,列举其中一些测量方法在教学中的应用。     

几种常用光学方法测量薄膜厚度设计

随着科技的进步和精密仪器的应用,薄膜厚度的测量方法层出不穷,准确测量薄膜的厚度和光学常数在薄膜的制备和应用中起着关键的作用,直接关系到该薄膜材料能否正常工作。本文通过对薄膜的光学测量方法进行归类,列举其中一些测量方法在教学中的应用。     

透射式透明薄膜厚度的在线测量

为满足工业半透明薄膜厚度在线检测的实际需求,论文提出了一种基于透射式光密度计量法的全场在线测量方法.该方法利用相机采集的放置薄膜前后的图像灰度值作为入射/出射能量计算其光密度值,再通过比尔-朗伯定律建立光密度值与厚度之间的关系.为减小测量误差,采用标准密度值标定板对系统进行标定,对计算的理论光密度值进行偏移校正.该系统结构简单,单次测量面积可达100 mm * 75 mm;以四氟薄膜为例进行验证,其测量的平均误差为5.7%,标准偏差为6.66%,为薄膜厚度全场在线检测提供了新的可行性.     

测定薄膜厚度的基片X射线衍射法

基于X射线衍射与吸收理论，建立了一种薄膜厚度测量方法，即基片多级衍射法．利用X射线衍射仪测量高速钢表面的TiN薄膜厚度，由于膜下基片的衍射强度较高及衍射峰形良好，可以确保薄膜厚度的测量精度．本法克服了非晶薄膜材料中薄膜衍射信息较差以及存在织构等不利因素所导致测量结果不可靠等问题．     

物体密度测量实验方法的改进

基于桥式电路测量原理的分析,针对目前大学物理物体密度测量实验,设计了一种桥式电路测量方法.将密度测量与电学结合,可实现计算机在线实时检测,提高了学生的动手能力和综合能力.     

波导薄膜折射率测量方法研究

本文讨论了四种测量波导薄膜的有效方法,对各种测量方法作了分析研究,并着重对棱镜耦合法进行了实验研究。     

激光辅助跨越补偿点磁化反转动力学的实验测量

文章介绍了稀土-过渡族金属铁磁合金薄膜的磁学性质以及超快磁化动力学的一般测量方法，论述了传统实验手段难以测量非可逆的激光辅助跨越补偿点磁化反转动力学的原因．实现了一种新的实验测量方法——光-磁同步动态磁光测量法，并论述了相关原理和技术．以此方法测量得到了GdFeCo薄膜的磁化反转动力学，能够反映真正跨越补偿点磁光记录的过程信息．     

Polymer/Si AWG器件材料光学性质的准确测量

使用WVASE32型椭偏仪, 对Si基单层有机薄膜的测量方法进行分析; 并对聚甲基丙烯酸甲酯（PMMA）材料和氟化聚酯材料进行测量, 根据测量结果对阵列波导光栅（AWG）器件进行设计. 在124 nm到1 700 nm之间可测量出任意波长的折射率, 其均方差（MSE）均远小于1, 证明测量结果极其准确. 同时探讨了对多层有机薄膜及氟化聚合物薄膜的测量方法.     

SnO_2(F)、Fe_2O_3和ZnSe(Fe)薄膜厚度的测量

用RBS技术、椭偏法和微量天平称重法测量了掺氟SnO_2(FTO)透明导电膜、掺铁ZnSe磁性半导体膜和Fe_2O_3气敏元件膜的薄膜厚度.实验结果表明,RBS技术的测量数值与椭偏法以及微量天平称重法测得的结果符合得较好。     

基于梯度下降法的双能CT双物质分解算法

基物质分解是双能CT重建的重要步骤,其中双物质分解是常用的分解模型之一,该模型的核心关键是计算分解系数投影.为了更快计算它,提出了基于误差反馈梯度下降的双能CT双物质分解算法和基于Armijo-Goldstein梯度下降的双能CT双物质分解算法.由于计算了梯度下降步长,这两种方法能快速迭代求解基物质分解系数投影.同时他们有效地解决了双能CT重建的非线性问题.仿真实验结果显示,与传统查表匹配法相比,这两种算法稳定收敛,计算速度快,重建精度高,对临床应用有重要的意义.在重建结果精度近似的情况下,基于Armijo-Goldstein梯度下降的算法采用不精确线性搜索步长,因此它的运行速度更快.     

基于ATmega16的pH参数在线测控仪设计

为了在线连续准确测量水体溶液中的氢离子浓度(pH值),为各种生产过程提供准确、可靠的工艺参数,设计了新型pH参数在线测控仪.分析了化学分析法、试纸分析法和电位分析法测量pH值的原理和各种测量方法的优缺点,以及电位分析法测量pH值时环境参数对测量结果的影响和软硬件补偿方法.以电位分析法为基础,应用新材料技术的成果,自制了新型一体化酸度传感器.并以新型高速单片机———ATmega16为核心,设计了具有数据采集与处理、现场控制与远程通信等功能的测控仪表.经实际使用表明,用电位分析法测量各种水体溶液的pH值,可以做到在线实时测量,测量结果准确可靠.以ATmega16为核心的测控仪表,性能先进、抗干扰能力强,可以满足各种工业现场应用的要求.该pH参数在线测控仪已应用到多个工业企业的日常生产过程中,应用前景广泛.     

山茱萸科植物叶面积测定方法的比较

采用5种方法测定四照花等6种山茱萸科植物的叶面积,结果表明:不同洲定方法测定同一树种叶面积有显著差异;用SHY-150扫描式活体叶面积仪测定叶面积操作简便,但误差较大;数字图像处理法测定结果准确,重复性好,但操作相对复杂;方格记数法和画纸称重法准确度较高,但较费时、费工.     

等厚干涉法测量薄膜厚度的两种方法

等厚干涉法测量薄膜厚度设备简易,操作方便,分析直观,在生产中有着广泛的应用.本文探讨了两种等厚干涉法测量薄膜厚度的原理与方法,利用预先形成的薄膜台阶产生空气或透明材料劈尖,单色光在劈尖上下两界面的反射光发生相干叠加产生干涉条纹,通过条纹相关参数的测量,获得薄膜的厚度.通过比较,空气劈尖法较之薄膜劈尖法操作更简易、准确,因而更实用.     

Production of HfO2 thin films using different methods: chemical bath deposition,SILAR and sol-gel process

Hafnium oxide thin films (HOTFs) were successfully deposited onto amorphous glasses using chemical bath deposition, successive ionic layer absorption and reaction (SILAR), and sol-gel methods. The same reactive precursors were used for all of the methods, and all of the films were annealed at 300°C in an oven (ambient conditions). After this step, the optical and structural properties of the films produced by using the three different methods were compared. The structures of the films were analyzed by X-ray diffraction (XRD). The optical properties are investigated using the ultraviolet-visible (UV-VIS) spectroscopic technique. The film thickness was measured via atomic force microscopy (AFM) in the tapping mode. The surface properties and elemental ratios of the films were investigated and measured by scanning electron microscopy and energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDX). The lowest transmittance and the highest reflectance values were observed for the films produced using the SILAR method. In addition, the most intense characteristic XRD peak was observed in the diffraction pattern of the film produced using the SILAR method, and the greatest thickness and average grain size were calculated for the film produced using the SILAR method. The films produced using SILAR method contained fewer cracks than those produced using the other methods. In conclusion, the SILAR method was observed to be the best method for the production of HOTFs.     

用双脉冲测量铁电薄膜的开关特性与电滞回线

分析测量了铁电薄膜的开关特性.介绍了测量铁电薄膜开关特性的重要仪器——双极性双脉冲发生器,以及利用双极性双脉冲测试铁电薄膜电滞回线的原理.这种电滞回线比用常规测量方式所测出的电滞回线更能真实地反映出铁电薄膜的特性,同时还能反映出铁电薄膜的极化转向过程.     

用质子激发X射线能谱分析技术测量FVAPD装置合成薄膜均匀性

采用质子激发的X射线能谱分析(PIXE)方法对磁过滤阴极真空弧沉积(FVAPD)装置在Al板上合成Ti膜相对厚度进行了测量,给出了沉积靶室中不同位置大面积合成薄膜的均匀性.通过同背散射分析(RBS)测量结果的比较表明:利用在轻衬底上合成重元素薄膜的PIXE分析可以快速、无损和精确地测量FVAPD装置合成薄膜的均匀性.     

混凝土粘结面粗糙度测试方法研究

通过 30组混凝土立方体试块 ,分别对人工凿毛及劈拉试验试件的断开面两种类型分别采用自制量测仪法与灌砂法进行了粘结面粗糙度测试研究。给出了两种量测方法测试混凝土粘结面粗糙度回归公式且具有较好的相关性。该量测仪操作简单、使用方便、造价低 ,特别适合实际工程加固中混凝土粘结面粗糙度测量 ,为工程加固中提供了一种好的混凝土粘结面粗糙度测试方法。     

铁电薄膜开关特性测量

对铁电薄膜的开关特性进行了分析．介绍了利用美国ＨＰ４１９２Ａ低频阻抗分析仪设计铁电薄膜开关特性测量仪的方法．讨论了测量原理以及如何利用测量仪所产生的双极性双脉冲对铁电薄膜的开关特性进行测量,给出了有关ＰＺＴ（５５／４５）铁电薄膜样品的测量结果