结合异常检测的X射线安检图像识别方法

针对Faster R-CNN模型对X射线安检图像中危险品检测准确率低、误检率高的问题,提出了一种前置预分类头部的X射线安检图像检测网络(pre-classification Faster R-CNN,PC-Faster R-CNN)。该模型在骨干网络之后,区域建议网络(Region Proposal Networks, RPN)之前新增一个预分类模块先对X射线安检图像进行异常检测,提高模型对正常图像的识别能力;同时引入兴趣区域对齐(RoIAlign)模块,减小兴趣区域池化层(RoIPooling)引起的量化误差,进而提升Faster R-CNN的检测性能。新模型将浅层卷积层的低级边缘特征输入到预分类模块,使其学习正常图像的高级语义特征,从而改善整个模型的识别性能。实验结果表明,与原始的Faster R-CNN相比,本文模型对危险品的检测精度提升了9.03%,误检率降低了24.03%;同时预分类头部使得模型较大地提高了检测效率,比原始的Faster R-CNN提升了44.54%。     

双能X射线高动态范围安检图像压缩算法

为使拥有高动态范围的双能X射线安检图像在普通显示器上显示时不丢失细节,提出了一种基于多尺度局部保边(local edge-preserving,LEP)滤波的自适应色调映射算法.该算法对原始图像进行多尺度LEP滤波,得到1个基础层和3个细节层.随后对基础层进行对数自适应色调映射,并对3个细节层进行Sigmoid函数自适...     

巴克拉对X射线的实验研究

简述了巴克拉的生平，回顾了他研究X射线散射规律、证明X射线的偏振性、发现元素发出的X射线辐射具有和该元素有关的标识辐射的贡献。巴克拉善于拓展研究课题和深刻分析实验现象的思维方法值得学习，但他过于自信走人误区的教训应引以为戒。     

几种与X射线吸收谱有关的技术

扼要介绍几种与XAFS有关的技术，原子的XAFS（AXAFS），这是由吸收原子的外层价电子的散射造成的，主要用来研究原子外层的电子结构及近邻环境的关系，近边结构X射线显微镜，这是将NEXAFS与X射线显微镜相结合的成像技术，除了利用相同元素在近边区吸收的差异可清晰成像的技术以外，还可作出生物分子中各有机分子或天然元素的定量分布图，光声X射线吸收精细结构，这是通过在吸收边两侧测量光声信号获得XAFS的技术，利用相位的延滞，可测得薄膜的厚度，与其它技术联合形成综合谱，DAFS是XRD与XAFS的综合谱，可研究在特定的位置上特定价态原子的近邻结构，XAFS还可以与X射线Raman,X射线粉末衍射，光电子能谱等技术联合用于结构研究。     

DEX10080A型安检设备框架设计

危险品检查仪是为消除危险品所造成的不安全因素这一社会安全需求而研制的。它已经广泛应用于机场、铁路、轮渡、公路等重要的交通场所,也可用于邮政、大型会议、特殊部门等地的安全检查。它是采用X射线透射物体成像技术,获取的原始图像阵列数据进行数字化图形图像处理,并由物质分类实验建立的分类区域的分类阈值,界定有机物、无机物、混合物进一步分辨出危险品。本论文主要研究的是安检设备新型号DEX10080A的设备框架的机械结构设计以及各功能部件的工作原理分析。     

X射线衍射分析技术课程的实验教学研究

对X射线衍射分析技术课程的实验教学内容及所开设的实验进行了研究与探讨,通过衍射分析系列实验,使学生了解X射线衍射分析技术的应用范围,掌握其基本的表达方式与分析方法,学会正确分析基本的XRD衍射图谱,获得准确的材料结构信息,为学生今后从事材料研究与开发打下坚实的基础。     

一种新型X射线安检图像增强算法

针对X射线安检图像噪声大、对比度低和边缘不清晰等特点,提出一种基于对比度受限自适应直方图均衡化(CLAHE)变换和图像灰度最大值融合的双重能量X射线图像增强算法。首先,应用CLAHE变换分别对高能和低能X射线图像分别进行处理得到初步增强结果;然后采用空域灰度值最大融合算法融合经过CLAHE变换后的高能和低能X射线图像从而得到最终增强X射线图像。实验结果表明该算法能更有效地提高双重能量X射线图像的对比度,显著改善图像质量。     

X射线透射法测量金属板各向异性的实验研究

具有织构的多晶体材料在宏观性能上表现为各向异性。利用X射线能够穿透金属薄板的性质,提出了一种利用X射线透射衍射法测量金属薄板材残余应力各向异性的实验方法。与常规的X射线反射衍射法相比,这种方法测量过程直观快捷、数据结果准确度高,克服了常规测量方法的一些不足,是常规X射线应力测量方法的一种有效补充。更适合学生教学实验,使学生能够深入理解织构造成材料的各向异性,掌握测量各向异性的基本表征手段。实验结果表明测量的变形纯铜板残余应力呈现各向异性分布。     

多晶体X射线分析实验中的误差分析与外推法

分析多晶体的X射线分析实验中的主要误差来源与消除误差的办法,讨论外推法在该实验中的局限性.     

X射线成像技术的发展现状和趋势

医学影像学一直是诊断技术的热点 ,X射线成像设备是目前医学成像的主流设备之一 ,传统平面成像正受到新兴数字成像技术的挑战。基于 X射线穿透性成像技术的关键是 X射线发生器、探测器和成像软件的开发与改进 ,未来基于 X射线成像技术的趋势是在减少对患者的辐射剂量的同时 ,提取和处理更多的有效信息 ,为医生提供更准确、分辨率更高的医学影像。     

X射线安全检查技术

近年来,受航空安全等需要的驱使,X射线安全检查技术迅速发展,已成为国际上广泛采用的安全检查技术。目前,常用的有X射线透射法、双能X射线检测法、X射线散射法及X射线CT等技术。双能X射线＋背散射检查设备可提供更丰富的被检物信息,尤其对浅表层的有机物检查灵敏度很高,适合在高安全等级的环境使用或应用在多级检查中。     

小角X射线散射技术的新进展

小角X射线散射(SAXS)技术是广泛使用的研究亚微观体系结构的主要工具之一.本文介绍了小角X射线散射的研究范围、技术特点、优势和最新发展.     

小角X射线散射技术的新进展

小角X射线散射（SAXS）技术是广泛使用的研究亚微观体系结构的主要工具之一。本文介绍了小角X射线散射的研究范围、技术特点、优势和最新发展。     

X射线衍射测量中扫描速度对实验结果的影响

分析了X射线衍射测量中扫描速度对衍射结果的影响。在实验基础上分别对广角X射线衍射和小角X射线衍射在不同扫描速度下的研究进行了探讨。结果表明,在广角X射线衍射分析测量中,要想得到理想的衍射数据,扫描速度设定为2deg./min比较合适。在小角X射线衍射测量中,扫描速度设定为0.5deg./min较为合理。     

软X射线投影光刻技术

本世纪八九十年代大规模集成电路芯片的制造技术取得了惊人的发展，由此带来的信息革命冲击着社会的每个角落。大规模集成电路芯片制造技术的关键是光刻技术，它的进步决定着集成电路芯片制造技术的发展。在过去的十几年间，每隔3～4年集成电路就更新换代一次，这表现为集成电路中     

多视角X射线内部结构不均匀物品密度探测新方法

多视角X射线安检设备密度探测方面由于当前的原理和方法有局限性,不能对被检查的内部结构不均匀物品进行密度检测,对多视角X射线安检设备自动探测效率有很大影响。提出了一种全新的基于变形图像三维空间校正(CAD表的建立)和被检测物品切片面积快速估计的密度探测方法。实验结果表明,该方法对内部结构不均匀物品密度探测有很强的区分性和稳定性,具有实践应用意义。     

重视X射线的卫生防护

X射线它具有波长短、穿透力强、莹光作用、摄影作用及生物效用等特征.根据特性工业上用于探伤检测金属焊接质量及金属结构情况:医学上用于特征:通过透视、摄片、照射等手段方法,对人体内部器客进行诊断及治疗工作.因此,X射线在工业及医学上所起到的作用是巨大的.但是,X射线射入人体后被吸收产生的生物效应对人体有损害,损害的程度随吸收剂量而定.一般来说,过小剂量对人体无大损害,大剂量可导致组织细胞破坏及血液系统方面的病变.因此做好X射线的卫生防护工作是医务工作者至关重大的研究课题.本文就工业X射线探伤的卫生防护,医用X射线正确使用及防护以及X射线辐射可能引发的临床症状及诊断进行了分述.目的是减少和避免射线对人体的损害,使其发挥更好效能.     

简述X射线荧光技术在地质勘查中的应用

X射线荧光技术具有快速、低成本等特点，主要应用于冶金、煤矿、材料、环保、等部门，近年来也运用于地质勘查并发挥了重要作用；本文介绍了X射线荧光技术在地质勘查中的原理和应用，对加快地质勘查工作进度、缩短找矿周期有着重要意义。     

基于改进YOLOv5的X射线图像危险品检测

目前安检甄别工作主要依靠人工完成,但巨大的工作量使自动安检成为必然趋势。为了在保证精度的前提下轻量化模型,并进一步克服X射线安检图像存在物品重叠遮挡、背景干扰严重等问题,提出了一种基于YOLOv5的改进模型。该模型采用Ghost模块对原模型进行剪枝处理;引入坐标注意力机制,使网络在训练中更好地聚焦危险品,生成更具分辨性的特征;采用传统数据增强策略与Mixup数据增强策略相结合的方式来改善模型的泛化能力和鲁棒性。实验结果表明：改进模型的参数量和模型大小比原模型分别减少了17.3%、16.1%,改进模型在SIXray和OPIXray数据集上的平均精度均值(mAP)比原模型分别提高了2.3%、5.7%。所提出模型在轻量化的同时能够进一步提高检测能力,满足实时检测要求,具有较好的应用价值。