模拟电路可测性问题分析

为解决含大量不可测节点电路的测试问题及大规模电路测试成本过高的问题,本文分析了电路的可测拓扑结构和可测拓扑条件,提出了模拟电路可测性问题分析。     

模拟电路的K故障定位

导出了故障模拟电路端口响应偏差的新约束关系,制定了从ｍ＝Ｋ个测量值确定Ｋ个差错元件的新方法,并对Ｋ＝２情况下的端口响应作了深入考察,最后通过一个实例对其进行了说明．     

有源网络故障可测性的拓扑条件

首先利用零泛器将适于无源网络的故障诊断方法推广至适用于含有四种受接源电路的有源网络,然后,从拓扑上讨论了故障有源网络的局部可测条件和全局可测条件,最后给出了一个可测分析的例子。     

非线性电路故障诊断的可测性研究

本文是关于非线性模拟电路故障诊断的测试点选择问题的研究,在本文提出的关于诊断方程的雅可比矩阵的物几乎处处恒等这一概念的基础上,研究了非线性情况下诊断方程的形式及其可测性问题。     

动态电路故障诊断的可测性研究

本文是关于动态模拟电路故障诊断中测试点选择问题的研究,在作者提出的关于诊断方程的雅可比矩阵的秩几乎处处恒等这一概念的基础上,研究了对动态电路的多频率诊断法的内在关系,给出了若干重要定理来解决测试点选择问题。     

模拟电路故障诊断

电路故障诊断理论是近期来引起重视和有所发展的网络理论的第三个分支。本文介绍了模拟电路故障诊断的各种方法及其特点;故障诊断中的自动测试设备的主要功能、组成、主要指标和自动测试技术等方面的内容。     

模拟及混合信号芯片的可测性设计

对现有模拟及混合信号芯片可测性设计方法从测试内容、测试信号传输路径、测试信号产生及检测方式等不同角度进行了分类和分析比较。研究指出，在测试内容方面，基于结构的方法由于可得到较高的故障覆盖率并容易对其进行量化计算，因此被认为是今后发展的主要方向；在测试信号传输路径方面，基于总线的方法具有较易实现标准化的优点；而在测试信号产生及检测方面，内建自测试可大大降低测试所需代价，因此有较大的研究应用前景．统一的低测试代价和高故障覆盖率的模拟及混合信号芯片可测性设计方法的产生对于芯片设计来说将是进一步发展的要求和保障．     

具有不可及节点的模拟电路的多故障诊断

本文将T.N.Trick方程[1]推广用于具有不可及节点线性网络的多故障诊断。给出有关算法并分析了出现等效故障集的原因。对于秩(W_(f(act)))相似文献   

模拟电路故障定位的理论和方法

本文研究模拟电路故障诊断中的定位理论和方法，电网络分扯的理论和方法，伴随网络的理论和方法，分别被应用于故障定位中，文中还给出了另一种故障定位方法，这一方法是作者所提出的故障诊断定理的直接应用，在此基础上得出了两个诊断模拟电路故障的判据。     

模拟电路故障诊断神经网络方法

提出了一种新的模拟电路故障诊断近似估计方法以及求解此问题的神经网络。其显著特点是只需一次优化过程即能估计出最可能故障元件，计算量小。计算机模拟和实例表明该方法是可行的。     

系统故障的可测性及诊断方法研究

依据系统元件的结构关系，研究了故障可测性判据。从信息论的观点，提出了系统部分元件不可测时，确定最优故障检测点及其故障源的方法，并通过例子说明了该方法的有效性。     

模拟线性电路中故障元件存在范围的确定

为了简化模拟线性电路故障诊断定位阶段的工作量，提出了1种确定故障元件存在范围的方法.即在十分现实的K故障假设下，确定能代表电路所有元件并给出在K故障假设下的故障诊断方程的唯一解的1组元件--最优可测试元件组，使故障定位工作只局限于该组元件，而不必对电路所有元件进行.该方法构成了故障定位的第一步，且与故障定位方法无关.方法基于电路的可测试值计算和规范式不确定性组的确定，它在可测试性与不确定性组概念中具有严格的理论基础，其可测试性计算可直接从参数类型故障诊断技术中推得.     

IC可测试性分析的一种符号方法

提出了一种新的计算ＩＣ电路节点的信号概率值方法，该方法得出的信号概率值比以往的方法得出的更更准。     

Fuzzy数学在分层模拟电路故障定位中的应用

本文提出了应用模糊数学进行模拟电路故障定位的一种方法，并运用实例验证此方法是实际可行的。     

非线性电阻电路的单故障诊断的一种方法

提出了非线性模拟电路故障诊断的一种测前模拟法．应用伴随电路及特勒根定理导出故障诊断方程，用等电位屏蔽技术识别故障．非线性元件用其工作点参数等效线性化，可对故障电路逐级分块诊断，适用于大规模线性和非线性模拟电路．     

非线性电阻电路多故障诊断的一种方法

本文根据改进节点法和替代定理提出一种诊断非线性电阻电路多故障的方法,此方法将每个非线性电阻元件用相应的电流源替代,从而使诊断方程是线性的,诊断也较为简便。本文提出的方法适用于含有各种受控源的电路.     

Analog Circuit Testability for Fault Diagnosis

In every field of engineering, testing is a fundamental step for the validation of design, being the most direct way to verify that a product meets its specifications. If the desired performance is not achieved, testing should identify all the causes of malfunctioning and indicate suitable corrective actions. Different algorithms relying on the symbolic approach have been presented in the past by the authors and in this work noteworthy improvements on these algorithms are proposed. However, how the testability is designed to maintain devices during its lifetime is discussed lack at present. Furthermore, this problem concerns needing more times on testing and fault diagnosis, and wasting more manpower and material resources. Especially in the army devices field, it is very important that maintenance and indemnificatory are advanced. In this paper, the parameters in testability design for fault detection and diagnosis will be given. The detailed contents of testability will be proposed, including the dividing of circuit module in equipment, technology material needed for detection and requirement of specifications used for testing.     

一种数字电路的桥接故障诊断方法

针对目前数字电路桥接故障诊断效率低的问题,提出了一种基于微分故障模拟算法的数字电路的桥接故障诊断方法,用VHDL语言对电路模型进行了重新建模,利用单固定故障的信息来诊断桥接故障,并对ISCAS85平台下的一些电路进行了模拟,结果表明该方法简单、高效,特别适合于数字电路的故障诊断,对于提升我国数字电路可靠性具有重要的理论意义与实际推广应用价值。     

SoC的可测试性设计技术

基于可复用的嵌入式IP（intellectual property)模块的系统级芯片（SoC)设计方法使测试面临新的挑战，需要研究开发新的测试方法和策略，结合系统级芯片的可测试性设计技术所面临的技术难点。详细介绍了当前系统级芯片的可测试性设计技术，分析了各种系统级芯片的可测试性设计技术的特点及其优缺点，着重讨论了国际工业界内针对系统级芯片测试的方案；IEEEP1500和虚拟插座接口联盟（VSIA）测试访问结构。     

容差模拟电路复杂故障的测试与诊断

改进了模拟电路故障参数识别法.对容差模拟电路的复杂故障提出了基于节点电压方程的故障诊断方程,方便了方程的建立.将不可及节点电压作为辅助未知参量,降低了方程的非线性.采用改进的Newton-Raph-son迭代法求解故障诊断方程,加快了求解速度.最后,诊断实例验证了本方法的可行性和有效性.