基于微扰的微波陶瓷介质损耗测试研究

基于经典微扰理论,以平行板开路型介质谐振器为研究对象,阐述介质谐振器与材料介电参数的内在联系,利用计算机控制网络分析仪进行自动测试.结果表明融入微扰法的思想,测试得到的介质损耗角正切值比用近似方法所得值更加准确.对于低介质损耗材料的测试,不能忽略系统传导损耗的影响,进一步说明理论分析与实验的一致性,为研究使用微波介质陶瓷提供参考.     

ZH-12型电学实验台验证戴维南定理实验中存在的问题及分析

通过戴维南定理的验证实验发现用ZH-12型通用电学实验台的两路直流电源测试开路电压时所测量的开路电压结果与理论值不符,其原因是由所用实验台的电源存在互相干扰引起的,从而针对实验台电源的问题提出了解决的方案。     

CMOS 存储器中地址译码器的开路故障及测试

对 CMOS存储器中地址译码器的开路故障进行了分析和分类 ,得出了其中有一类开路故障不能用常用的测试算法可靠的测试出 ,给出了测试该类开路故障的测试方法以及针对该类开路故障的容错性设计方案     

褶型气溶胶过滤器过滤阻力与结构参数关系

对褶型气溶胶过滤器过滤阻力进行理论计算及实验测试.在对速度函数假设的基础上,对Navier-Stokes方程进行压力求解.采用缝隙宽度上压力平均值的概念,提出一个用于求解褶型过滤器过滤阻力的方法,得出褶型气溶胶过滤器过滤阻力的解析解,理论计算结果与实验测试基本吻合.研究表明,减小褶距或增大褶高可增加过滤介质面积,减小过滤器介质过滤阻力;但是,过滤器结构阻力也将增加,褶型气溶胶过滤器阻力与单位长度褶数存在最佳值.     

一种压缩向量对测试集的新方法

通过施加一个测试向量对,瞬态电流测试可以检测出CMOS数字电路中的某些故障,这些故障通常（例如开路故障）不能被传统的电压测试和稳态电流测试有效地检测出来。研究如何有效地压缩向量对测试集与通常的测试向量压缩一样,意义十分重要,但目前人们对此研究得较少。首先使用三种现有的游程编码方法对向量对测试集进行压缩,并比较它们的压缩结果。在此基础上．提出了一种更好的压缩方法。采用新方法对几个ISCAS标准电路的开路故障向量对测试集进行压缩,实验证明压缩效果比三种游程编码方法都要好。而且,新方法的解码代价非常小,适合压缩大型电路的开路故障测试集。     

几种不同结构异向介质的电磁特性分析

根据异向介质可以由具有等效负磁导率的开路环形谐振器阵列和具有等效负介电常数的细金属导线阵列构成的基本原理,提出了多种新型的、具有双负特性的开路环形谐振器的结构.通过基于时域有限积分法的CST软件进行仿真,比较了各种不同结构异向介质的电磁特性,为不同的应用目标的异向介质微观结构选取提供理论依据.     

介质参量与试样厚度关系的规律性研究

本文设计了波导测量系统,在稳频、稳幅及电路匹配条件下,对介质参量进行测量。从理论和实验上得出了“短路”“开路”情况下的反射系数的振幅|Γ|与试样厚度d/λ_cg的关系曲线。通过误差分析,找出了准确测量介质材料时试样的厚度。图7,参5。     

CMOS组合电路开路故障的BIST探讨

对CMOS组合电路开路故障的测试方法进行了探讨.一种方法通过对电路输出的跳变次数进行计数,然后与无故障电路输出的跳变次数的期望值进行比较,可以检测到所有的开路故障,对于有n个输入端的电路完成测试需要6×2n个测试向量.另一种方法基于种子存储的自适应BIST方法,该方法充分利用开路故障的特征,实例验证表明能够在3×2n+1个时钟周期内完成对CMOS组合电路开路故障的测试,它在不用修改被测电路网络的前提下可对多开路故障达到完全的测试.     

用于IDDT测试的BIST测试向量生成器

检测CMOS电路中的开路故障通常需要使用测试向量对。内建自测试（BIST）作为一种有效的测试技术可以大大地降低测试开销。设计一种用于IDDT测试的BIST测试向量生成器,它随机产生跳变数为1-2的测试向量对。实验证明。它能以较少的测试向量对检测出比较多的故障。     

DJL—DE-11型太阳能电池电学性能研究

介绍了基于DJL—DE-11的太阳能电池I-V特性测试系统的工作原理,硬件设备。对硅型太阳能电池的输出特性进行了测量与分析,测量在无光照时、有光照时硅型太阳能电池的伏安特性、开路电压、短路电流、填充因子、相对光强。利用matlab软件数据模拟。进行数据拟合,得出了太阳能电池短路电流Isc、开路电压U。与相对光强J／J0之间的近似函数关系。