模拟电路可测拓扑条件和可测性分析及可测性设计

深刻地阐述了系统的可测性问题 ,提出了从可测性分析和可测性设计两方面进行研究的观点 .针对支路故障诊断法 ,讨论了可测拓扑条件、可测性分析和可测性设计问题 ,提出了几个新的必要且几乎充分可测拓扑条件 ,并依据这些条件给出了可测性分析和可测性设计的一些方法     

可测性电器虚拟设计技术

针对电器行业产品设计的现状,提出了综合产品数值分析设计、样机测试、虚拟产品测试及其性能评估的可测性电器虚拟设计新技术;并在该项设计技术实施流程的基础上,分析了可测性电器虚拟设计的关键技术问题,且针对性地提出了相应的解决方案和技术措施.     

测控设备BIT设计研究

在分析现代测控设备南可测性技术现状的基础上,阐述了测控设备BIT的设计思想,并介绍了具体的实现方法和技术特点;指出了测控设备可测性研究的趋势。     

嵌入式存储器在SoC中的可测性设计

随着半导体工艺的发展,SOC芯片的规模越来越大,工艺尺寸却越来越小,并且内嵌的存储器在芯片中所占的比例也越来越大,传统的存储器可测性技术受到严峻的挑战．针对存储器的可测性技术及其在SOC中的实现进行了介绍和讨论。     

嵌入式存储器在SoC中的可测性设计

随着半导体工艺的发展,SOC芯片的规模越来越大,工艺尺寸却越来越小,并且内嵌的存储器在芯片中所占的比例也越来越大,传统的存储器可测性技术受到严峻的挑战,针对存储器的可测性技术及其在SOC中的实现进行了介绍和讨论.     

使用遗传算法对时序电路进行可测性预报

随着LSI/VLSI技术的发展,许多新的测试生成算法被开发出来 对于一个给定电路,快速而准确地选择最适合它的测试生成算法是一个具有很强现实意义的问题.本文提出了使用遗传算法(GA)找出逻辑电路的特性参数与测试生成算法可测性参数之间的关系,从而建立测试生成算法可测性参数(故障覆盖率,测试码个数)的模型,并对给定电路进行参数预报的方法。作者开发了遗传算法预报系统(GAFS),并使用该系统为常用的测试生成算法建立了直观的可测性参数表达式模型.用户可通过计算直接求得各测试生成算法对电路的可测性参数,然后通过比较选出最佳的算法.预报结果显示该系统具有较强的有效性和实用性.     

边界扫描技术在PCB可测性设计中的应用

运用边界扫描技术，对PCB可测性设计进行了研究，给出了具体实现方法，并实现几种电路板的可测性设计。结果证明该方法有效缩短了电路板开发周期，降低了维修测试费用，具有较大的实用价值。     

专用VAD集成电路可测性设计研究

在专用集成电路设计,基于功能单元的片上系统（FCBSOC,function-core-based system-on-a-chip)设计技术正得到广泛使用。这种片上系统的可测性设计方法很多,如Fscan-Bscan法、Fscan-Tbus法和层次化测试生成法等。通过对这些可测性设计方法的研究,该文提出一种测试开销低、测试故障覆盖率高的层次化分析法来实现专用VAD（Video add data)集成电路的可测性设计。     

软硬件测试的一致性

讨论了软硬件测试的的一致性，列举了软硬件测试中相似的测试方法，最后基于一致性的概念并借助硬件可测性设计BIST（build-in-self-test)技术提出一种新的软件可测性方法。称为BIST SDFT（software design-for-testability)，BIST SDFT为软件开发人员和测试人员提供了信息交流的桥梁。     

多芯片组件(MCM)的可测性设计

为克服在线测试技术测试MCM时不能达到满意的故障覆盖率的困难,采用可测性技术对MCM进行设计．根据MCM的特点和测试要求,提出了在JTAG标准基础上扩展指令寄存器,添加专门的用户指令,融合扫描通路法、内建自测试法等可测性方法,分层次地对MCM进行全面测试．建立模型进行验证的结果表明：该方法能有效地测试MCM,缩短了测试时间,故障覆盖率达到95％以上．     

电子设备测试性设计及系统划分的研究

随着科学技术的发展,技术的复杂化和结构的集成化日益增加,检测与隔离故障越来越困难。主要体 现在系统测试性差,BIT不能满足使用要求和测试设备的效能差、数量多等。基于此,系统级测试性设计已 成为提高产品全寿命周期中最优性价比的重要手段,它既要求满足产品自身设计的兼容性,又要求满足其性 能恢复和保障的一致性。简要介绍了系统级测试性设计理论及在该理论中引入的基于模糊有向图理论的系 统划分,并加以总结和展望。     

基于合约的构件易测试性设计支撑工具的设计与实现

构件技术的新特点为构件测试带来挑战.合约式设计是一种重要的软件易测试性设计方法.基于合约的构件易测试性设计为构件测试提供了一种有效的手段.设计并实现了一种新的合约式设计工具(PKUJDBCT),为构件的易测试性设计提供有力的支撑,并为今后进一步研究基于合约的构件易测试性设计方法打下了良好的基础.     

A Metadata Model Based on Coupling Testing Information to Increase Testability of Component

A software component must be tested every time it is reused in order to assure quality of component itself and system in which it is to be integrated. So how to increase testability of component has become a key technology in the software engineering community. Here a method is introduced to increase component testability. And meanings of component testability and relative effective ways to increase testability are summarized. Then definitions of component coupling testing criterion, DU-I （Definition-Use Information） and OP-Vs （ Observation-Point Values ） are given. Base on these, a definition-use table is introduced, which includes DU-A and OP-Vs item, to help component testers to understand and observe interior details about component under test better. Then a framework of testable component based on above DU-table is given. These facilities provide ways to detect errors, observe state variables by observation-points based monitor mechanism. Moreover, above methods are applied to our application developed by ourselves before, and some test cases are generated. Then our method is compared with Orso method and Kan method using the same example, presenting the comparison results. The results illustrate the validity of our method, effectively generating test cases and killing more mutants.     

基于故障物理注入的模拟电路测试性分析方法研究

针对仿真建立的故障字典与实体电路存在较大差异以及一部分电路无法进行软件仿真等问题,本文提出了基于故障物理注入建立故障字典并进行故障检测和隔离的方法。首先研究了基于故障物理注入技术的实现方法;然后根据实测数据构建整数编码字典,以此为基础讨论了故障检测率、隔离率和虚警率等指标的预计方法;最后结合电路实例对算法进行了验证。实验结果表明,采用整数编码字典方法进行测试性分析与传统的D矩阵模型算法相比具有更高的故障分辨能力。     

基于符号方法的模拟电路可测度分析

现有电路可测度符号分析方法在低可测度电路故障诊断中没有考虑元件故障模糊组的影响。可测度分析时需要计算所有元件参数组合的可测度,但实质上其中部分参数组合的可测度是相同的,不必重复计算。鉴于上述问题,在可测度符号分析方法的基础上,提出根据系数依赖矩阵划分元件故障模糊组,将各个模糊组中的元件参数赋值后计算电路可测度。该方法减少了符号法可测度分析的计算量,适用于模拟电路的自动测试与故障诊断。     

某型地空导弹测试模型划分的研究

各种高性能现役武器系统在长期的外场使用中暴露出的主要问题是：武器系统的测试性差、BIT未能满足使用要求和测试设备的效能差、数量多。为此提出测试性设计。并通过测试性分析来检验设计质量和引导改进设计。测试性设计要求既满足装备自身设计的兼容性又满足其整体作战战斗力的恢复和保障的一致性。简要阐述系统级测试性设计理论．重点结合某地空导弹作战系统对系统测试性模型划分理论进行讨论和验证,并提出问题。     

A Novel Register Allocation Algorithm for Testability

In the course of high-level synthesis of integrate circuit, the hard-to-test structure caused by irrational schedule and allocation reduces the testability of circuit. In order to improve the circuit testability, this paper proposes a weighted compatibility graph (WCG), which provides a weighted formula of compatibility graph based on register allocation for testability and uses improved weighted compatibility clique partition algorithm to deal with this WCG. As a result, four rules for testability are considered simultaneously in the course of register allocation so that the objective of improving the design of testability is acquired. Tested by many experimental results of benchmarks and compared with many other models, the register allocation algorithm proposed in this paper has greatly improved the circuit testability with little overhead on the final circuit area.     

有源网络故障可测性的拓扑条件

首先利用零泛器将适于无源网络的故障诊断方法推广至适用于含有四种受接源电路的有源网络,然后,从拓扑上讨论了故障有源网络的局部可测条件和全局可测条件,最后给出了一个可测分析的例子。