同时监控过程均值和方差漂移的VSI EWMA平均损失控制图设计

结合WLE控制图和VSI EWMA控制图,提出了基于田口损失函数下的可变抽样区间的EWMA控制图（简称VSI EWMA平均损失控制图）,它是一种在抽样区间可以变化的条件下能够同时检测过程均值和方差漂移的控制图;同时构造的新控制图通过添加控制限区分漂移类型,即在过程失控状态下区分是过程均值发生了漂移还是方差发生了漂移,或者两者都发生了漂移.通过与FP EWMA平均损失控制图及X-～S控制图进行比较,得出新构造的控制图对过程漂移具有更好的敏感性.     

Lévy稳定过程均值变点监测在CUSUM和EWMA控制图中的比较

给出了CUSUM和EWMA控制图在Lévy稳定过程均值变点监测的ARL近似估计,采用数字模拟的方法对CUSUM和EWMA控制图监测Lévy稳定过程均值变点的效果进行比较．     

监视过程均值变化的残差控制图检测能力分析

对过程实施统计质量控制的基本假设前提是观测值彼此独立,但实际工作中经常出现过程的观测值存在自相关的现象.若自相关过程的残差满足独立同分布条件,对残差实施控制图监视是解决自相关过程控制的方法之一.应用检测能力指数和平均运行长度两种衡量指标,分析了自相关过程由时间序列模型AR(1)描述时,残差控制图对过程均值变化的检测能力.结果表明,残差EWMA(φ≤1-λ)控制图对过程均值小偏移较灵敏,当φ<0时,残差EWMA控制图对过程均值大偏移的检测能力略差于残差Shewhart控制图.     

多元自相关过程的残差T2控制图

为了满足传统的统计过程控制理论中统计量彼此独立的基本假设,研究了多元自相关过程的残差T2控制图的控制方法及其控制性能。针对一般多元自相关过程,在参数已知的条件下,讨论了多元自相关过程的残差T2控制图,给出多元自相关过程偏移量的定义。通过M on te C arlo模拟,得出该控制图在不同偏移量时的平均链长,在残差T2控制图的适用范围内给出平均链长与偏移量之间的经验公式。结果表明,残差T2控制图可以有效控制出现大偏移的多元自相关过程。     

基于主成分分析的综合评分法在质量控制图中的应用

本文主要是用多元统计分析中综合主成分分析方法,改进了传统质量控制中需要利用包括均值—极差控制图、均值—标准差控制图、中位值—极差控制图等多张控制图才能进行对生产过程进行质量控制的缺点,得到用一张生产质量综合评分控制图来对生产过程进行质量控制.     

发现非对称性损失的非对称样本容量均值图

在一些生产过程中,过程均值的正向飘移与负向飘移对生产者意味着不同损失．提出了两种非对称样本容量均值图．利用马氏链方法研究了控制图的控制性质．计算结果显示,对于小于1.5个过程标准差的过程均值飘移,非对称样本容量均值图在兼顾一方向飘移的同时能更加快速地发现另一方向飘移,而警戒限的加入加快了控制图发现过程均值一个方向漂移的速度.     

控制图和EWMA控制图的灵敏性分析

在统计过程控制中通过分析X控制图,指出X图虽然对监测过程大波动非常灵敏,但对过程均值小漂移却不敏感,若结合使用判异规则,将导致虚发警报概率的增加。通过仿真数据图形化,分析了EWMA图的灵敏性,并与X图进行比较,结果表明EWMA图对监测过程小漂移比X图更灵敏,而X图对均值大偏移反应比较灵敏;两种控制图如互为补充,共同用于监测过程波动更有效。     

Lévy稳定过程均值变点监测研究

研究了特征指数α取值1<α≤2时,Cuscore控制图在Lévy稳定过程平均运行长度的近似估计以及EWMA控制图在Lévy稳定过程平均运行长度上界的近似估计;研究了特征指数!取值0相似文献   

(-X)控制图和EWMA控制图的灵敏性分析

在统计过程控制中通过分析X^-控制图，指出X^-图虽然对监测过程大波动非常灵敏，但对过程均值小漂移却不敏感，若结合使用判异规则，将导致虚发警报概率的增加。通过仿真数据图形化，分析了EWMA图的灵敏性，并与X^-图进行比较，结果表明EWMA图对监测过程小漂移比X^-图更灵敏，而X^-图对均值大偏移反应比较灵敏：两种控制图如互为补充，共同用于监测过程波动更有效。     

多工序过程自相关数据的统计监测

结合状态空间模型和统计过程控制方法,建立了多工序生产过程中的自相关数据控制图,给出了平均运行长度的计算公式,并采用Matlab软件模拟实际生产过程所产生的自相关数据.同时,通过生产实例,演示了此方法的应用步骤.结果表明,所建立的自相关数据控制图在受控状态下的报警率很低,而在失控状态下的报警率较高.