集成电路设计中噪声问题的分析与处理

随着集成电路的不断发展和集成电路综合水平的不断提高,噪声对于集成电路性能的潜在危害越来越大,因此,处理噪声已经成为一个不容忽视的问题.根据对集成电路设计的实践经验,总结了设计集成电路及其版图时,对噪声问题的思考及一些处理方法.     

基于小波变换的集成电路内部缺陷检测方法

随着集成电路向多功能、高精密、高集成度的发展,集成化多层封装技术成为关键,而传统的表面缺陷检测和功能性测试方法对内部缺陷无法实现有效检测.X射线可通过透射成像直观地呈现元器件的内部缺陷,为极大规模集成电路产品的高可靠性生产提供了有效的检测手段.然而,集成电路的X射线图像灰度水平低、对比度低、有效特征细小,难以实现有效的检测.针对该问题文章设计了一种基于小波变换的集成电路内部缺陷检测方法.该方法利用小波的多分辨率分析特点,采用小波同态滤波方法对集成电路的X射线图像进行预处理,提高图像的对比度,进而采用小波模极大值方法提取缺陷的有效边缘供给工业检测判断.实验结果表明,该方法提取的缺陷边缘清晰、数量完整,为保证内部缺陷检测精度、提高集成电路封装质量提供依据.     

运用Cadence计算机软件平台验证积分运算电路

随着科学技术的发展,集成电路已经应用到人们生活的各个领域.由于半导体集成电路工艺水平的不断发展,电路的集成度不断提高.在过去的40年里,集成电路技术已经从生产只包含少量元器件的简单芯片发展到了规模巨大、功能十分复杂的系统芯片.利用计算机软件进行辅助设计会大大减少集成电路设计时间,降低设计成本,提高成品率.     

介绍一种新型的可编程逻辑器件：美国ATMEL公司EPLD

在电子产品设计中,电子系统工程师总是希望能找到刚是好或基本刚好满足自己需要的集成电路,以提高电路的集成度和可靠性,降低功耗。因此,专用集成电路设计便应运而生。专用集成电路设计分很多种:一种是全定制集成电路设计。顾名思义,即完全按照某种用途设计的电路,不浪费一点硅片,这种设计方法对于设计人员的水平要求很高,不能有一点差错,而且设计周期长,投资大.只有在大批量生产时才显示其优越性。再一种就是半定制集成电路设计。随着集成电路制造技术的发展,单片集成电路的容量越来越大,制造厂家     

基于数模混合的集成电路设计技术

集成电路的应用使得我国的微电子技术水平不断提高,并在我国的信息产业发展中扮演着十分重要的角色.集成电路可以分成三大类：数字电路、模拟电路与数模混合电路.科学技术的进步和人们生活生产需求的不断提高为数字模块逐渐与模拟模块内嵌在同一个芯片上提供了很大的动力.目前通讯与电子产业是数模混合电路应用的两大主要领域,与此同时人们也在不断扩大数模混合电路的使用领域.基于这一背景,本文讲解了数模混合电路设计的主要流程,以此为之后的研究工作提供借鉴.     

基于集成电路故障分析与检测方法的分析与探讨

伴随着电子技术的发展,集成电路的应用越来越广泛。集成电路的集成度越来越高,集成电路的引出脚也越来越多,对电子电路的故障分析与检测方法要求也越来越高。本文从故障分析与检测方法角度出发,论述了集成电路故障的有效分析、检测方法,对某些分析方法的利弊作了简要的说明。     

集成电路故障检测装置中数据通道设计

集成电路是20世纪60年代初期发展起来的一种半导体器件,随着集成电路集成度的迅速提高,它的故障检测与维修也变得更加困难.为了能够快速准确地找到故障位置,我们设计了非接触式的故障检测系统,本文给出了数据传输通道的具体电路及部分电路仿真图.     

电荷泵锁相环系统级功耗估计

功耗问题是制约集成电路设计的一个重要因素.分析了CMOS集成电路中功耗的来源,集成电路设计中功耗设计的目的,估算方法和功耗模型.研究模拟集成电路的特点和相应的功耗估计方法.针对采用环形振荡器的电荷泵锁相环,研究电荷泵锁相环的组成,各模块的工作原理及对功耗的贡献,提出了电荷泵锁相环系统级功耗估计模型.与实际测量结果相比,相对误差小于22%.该模型易于植入集成电路设计工具,可以对锁相环系统级设计提供功耗方面的参考,提高集成电路的设计质量.     

CMOS集成电路设计技术探索和分析

CMOS集成电路其本身具有较强的工作性能,并且运行时功耗相对较低,被广泛地应用在电子元器件的设计中。在集成电路技术迅猛发展的情况下,随着芯片集成的强化与电路性能的提高,在对产品进行开发的过程中采用传统方法和手段显然已经不能与快速发展的现代社会相适应了。因此,对集成电路的设计技术进行探索和分析,并不断地进行升级、改造和完善,是其发展的必然要求。该文对CMOS集成电路的特点进行了分析,并且对于其设计技术进行了进一步的探索。     

集成电路发展概述

随着信息技术的迅速发展,集成电路在日常生活中越来越普及,其集成度不断提高,工艺尺寸不断缩小,发展越来越快速。本文主要就现在集成电路的发展进行概括总结,并就今后集成电路的发展趋势进行简单分析。     

硅片本征吸杂工艺及其应用研究

大规模及超大规模集成电路的发展,要求元器件的制造有极高的合格率.集成度的提高,导致元器件的线度收缩、结深变浅,使得生产大规模和超大规模集成电路元器件所需硅片的质量要求越来越苛刻.除了不断提高单晶硅的纯度外,控制和利用硅片中的微缺陷是一个十分重要的研究课题,具有很大的实用价值和经济价值.     

模数转换(A/D)集成电路设计原理及其应用技术

随着数字信号处理技术的不断发展和人们对电子产品质量要求的不断提高,模数转换(A/D)集成电路芯片已成为电子产品设计中最关键的芯片器件之一,它的性能优劣直接决定着电子产品的质量.介绍了几种主要的A/D集成电路的基本原理,分析了各类A/D芯片的性能特点及其应用范围,指出了提高不同应用领域A/D芯片质量的关键技术及其发展趋势.     

RAM检测的算法分析及软件实现

在嵌入式系统和集成电路设计中,对CPU、存储器等的自动检测非常重要,通过对RAM的故障分析,运用综合的检测方法,用软件实现了RAM检测算法.     

高速数电芯片参数测试方案优化研究

为了解决高速数电芯片测试速度慢、测试精度低的问题,提出一种利用LK88系列测试平台对集成电路高速数电芯片参数进行有效测试的方法.该测试方案通过对高速数电芯片SN74HC138的测试,可以实现快速筛出失效芯片、进行功能验证、对高速数电芯片的直流参数进行精准测试,最后通过上位机直观显示出来.测试过程易于操作、增强了可读性.与芯片Spec参数标准对比分析后可以得出测试精准性也有效提高.因为缩短了整体测试时长,并且精度提高,对于提升集成电路产业链经济效益方面具有积极影响.     

华中理工大学专业介绍(三)电子科学与技术系(四年制)

电子科学与技术专业是从事电子科学与工程研究的学科 ,研究范围涉及电子和光子信息的检测、存储、处理传输与显示 .主要学习电子材料、电子器件以及大规模集成电路和系统的工作原理和设计技术 ,先进电子材料与器件的工艺原理及微制造技术、计算机辅助设计和测试技术 ,以及数字化信息系统与光通信系统的设计、研制和应用管理 .主要课程 :固体电子学导论、电子器件原理与应用、集成电路原理与设计、ＶＬＳＩ及系统集成、数字系统、光通信原理、软件技术基础、模拟电子技术、数字电子技术、微机原理及接口技术、数据通信与网络技术、薄厚膜技术…     

长春市蔬菜中亚硝酸盐含量的测定

蔬菜是极易富集亚硝酸盐的作物,控制蔬菜中亚硝酸盐的富集是减少其对人体造成危害的基本保障.通过检测其中亚硝酸盐含量的测定,显示人们对食品质量认识的不断提高和对食品质量的不断重视,给广大消费者以安全优异品质的蔬菜.     

基于数模混合的集成电路设计技术

集成电路的应用使得我国的微电子技术水平不断提高,并在我国的信息产业发展中扮演着十分重要的角色。集成电路可以分成三大类:数字电路、模拟电路与数模混合电路。科学技术的进步和人们生活生产需求的不断提高为数字模块逐渐与模拟模块内嵌在同一个芯片上提供了很大的动力。目前通讯与电子产业是数模混合电路应用的两大主要领域,与此同时人们也在不断扩大数模混合电路的使用领域。基于这一背景,本文讲解了数模混合电路设计的主要流程,以此为之后的研究工作提供借鉴。     

集成电路CAD系统中的图形显示软件

在集成电路计算机辅助设计和验证系统(以下简称CAD系统)中几乎所有的软件都有显示图形的要求.在我们配置的QU68000/UNIX计算机系统中,有众多的图形显示设备以及各种不同的图形语言和图形驱动接口.例如Plot 10是一种适用于Tektronix系统各种图形终端的图形语言,但还不能完全通用.为了提高CAD系统各种应用软件的开发效率,建立一个有效的、实用的图形显示软件的支撑环境是至关重要的. 我们研制的复旦图形语言FGL作为QU68000计算机系统中的图形显示软件,已成为CAD系统中各种应用软件与现有的五种图形显示设备和六种图形语言之间的公共界面.根据各应用软件的实际需要和现有图形语言及图形驱动接口功能的差异.我们将     

基于电流的芯片级集成电路故障诊断方法

随着芯片级集成电路规模的逐渐增大,电路结构越来越复杂。当前故障诊断方法利用电路状态对电路故障进行检测,检测精度低。为此,提出一种新的基于电流的芯片级集成电路故障诊断方法。选择动态电流对芯片级集成电路故障进行诊断,通过Haar小波函数对芯片级集成电路进行预处理。介绍了多重分形理论基础,给出动态电流多重分形谱的计算方法。针对正常芯片级集成电路的动态电流信号求出其多重分形谱,选择一组测试向量对待测芯片级集成电路进行动态电流检测,对得到的数据进行小波变换处理,求出不同尺度下动态电流小波系数的模极大值。依据小波系数模极大值求出多重分形谱,通过其和正常电路多重分形谱之间的差异判断该电路是否存在故障。实验结果表明,所提方法诊断精度高。     

基于紧致遗传算法的N次检测测试集压缩

N次检测是一种新兴的面向缺陷的集成电路生产测试技术,它通过对故障的多次测试来提高对电路缺陷的测试覆盖率.N次检测技术所面临的主要困难是其所需测试矢量数目过多,导致测试时间长,成本高.为此,提出一种基于紧致遗传算法的N次检测测试集压缩方法,可以有效降低计算花费,非常适合处理测试矢量规模较大的N次检测的测试集压缩问题.实验表明,该方法能够在有效的时间内得到更小的测试集.