圆面探测器对圆面源(非严格平行)的几何因子的蒙特卡罗计算

用基本Monte Carlo方法计算了圆面探测器对均匀非严格平行圆面源(两圆面中心轴线相交成α度)的几何因子,并且与圆面探测器对均匀同轴圆面源的几何因子进行了比较,探讨了两圆面中心轴线间夹角α对几何因子的影响;为了检验本文方法及所编程序的好坏,选取α=0时的数据与多边形近似法进行了比较。并根据讨论的结果,提出了对实验操作的要求。     

圆面探测器对圆面源(非严格平行)的几何因子的蒙特卡罗计算

用基本Mome Carlo方法计算了圆面探测器对均匀非严格平行圆面源（两圆面中心轴线相交成α度）的几何因子,并且与圆面探测器对均匀同轴圆面源的几何因子进行了比较,探讨了两圆面中心轴线间夹角α对几何因子的影响;为了检验本文方法及所编程序的好坏,选取α=0时的数据与多边形近似法进行了比较。并根据讨论的结果,提出了对实验操作的要求。     

α谱仪探测效率的理论计算与实验测定

谱仪的探测效率表征了探测器接收和记录信息的能力.为了更精确的测量α放射性核素的活度,定准α能谱仪的探测效率是非常必要的.本文利用查圆面源对窗的几何因子表和基于蒙特卡罗思想的MatLab模拟这两种方法对α谱仪探测效率进行了理论计算,并用Matlab软件对这两者所得的数据进行了比较分析,结果表明在5.5％的.对误差范围内两者可以近似相等.通过241 Am标准面源与氡子体标准源对α谱仪的探测效率进行了测量,发现用241 Am标准面源测得的探测效率与理论计算的探测效率相差很大,用氡子体标准源测得的探测效率与理论值符合的很好.研究表明241 Am标准面源的活度的均匀性与准确性以及尺寸定位的准确性是造成241 Am标准面源探测效率实验值与理论计算值差异的主要原因.     

小立体角因子的推导

探测器测到的计数N和源的总发射率(单位时间总发射粒子数)之比为小立体角几何因子G.α放射性样品质量的测量精度主要依赖于小立体角装置的几何因子.     

小圆面非平衡磁控原子源研究

在文[1—6]的基础上,研制了小圆面非平衡磁控源,取得了同轴圆柱磁控原理用于平面磁控源并达到实用的小型化。1 源的结构     

圆面折叠桌的动态模型

针对解决平板折叠桌动态模型的问题,通过分析折叠桌的设计原理,利用逐步优化的方法,建立了圆面折叠桌的动态方程.最终运用Matlab和Lingo等软件计算出折叠桌各技术参数的关系,得到了圆面折叠桌动态模型.     

均匀带电薄圆面的静电能

本文从电势叠加原理出发,引用电多极展开式,并应用球谐函数加法定理,给出带电系统电势分布的一般表达式,并由此计算出均匀带电薄圆面的电势分布和静电能。     

Monte Carlo方法用于就地γ辐射源项调查与剂量评估

基于Monte Carlo通用软件EGS4,开发了用于就地γ辐射源项调查与剂量评估目的的Monte Carlo应用程序Sterm-MC。该软件运行于Windows 98操作系统,具有图形化用户界面,主要由探测器特性数据库、源描述模块、几何描述模块、谱模拟分析、源项与剂量估算等模块组成。它可以对高纯锗(HPGe)、碲锌镉(CdZnTe)两种半导体探测器提供多种源、几何条件下的无源效率刻度;同时依据无源效率刻度数据,进行辐射源项反算与剂量估算。结合物理实验对Sterm-MC进行验证后,该软件已在中国某核电站检修期间的职业照射源项调查中得到了应用,所验证的探测器包括N型、P型两种同轴型高纯锗探测器和碲锌镉探测器。     

有限长均匀带电圆柱体轴线上的场强

本文针对均匀带电直线端点场强的不确定性 ,提出了均匀带电圆柱体轴线上的场强计算 ,结果表明 ,在不同条件下 ,均匀带电圆柱体的场强表达式将变成均匀带电直线、均匀带电圆面的场强。并证明了均匀带电圆柱体端点的场强连续     

有限长均匀带电圆柱体轴线上的场强

本针对均匀带电直线端点场强的不确定性，提出了均匀带电圆柱体轴线上的场强计算，结果表明，在不同条件下，均匀带电圆柱体的场强表达式将变成均匀带电直线，均匀带电圆面的场强，并证明了均匀带电圆柱体端点的场强连续。     

用于探测器校正因子计算的Monte Carlo方法

为解决探测器校正因子MonteCarlo模拟中,两个随机变量比值计算效率过低和探测器尺寸过小,粒子难以到达探测器并发生碰撞的问题,在MCNP-4C平台上结合已有的Dxtran球和强迫碰撞两种减方差技巧,以及新实现的相关抽样,共同形成了一种高效的校正因子计算方法。选用了4种不同的技巧分别与相关抽样结合,对一个简化的探测器校正因子计算模型进行了计算,与该方法进行了比较。计算结果表明,相关抽样无论与哪种减方差技巧结合,都提高了校正因子计算的FOM(figureofmerit)值。而该文方法则比其中效果最好的方法的FOM值还要高两个数量级。     

环面构造管道拼接曲面的方法及其连续性

讨论了当给定管道截面为椭圆、并且给定截面与管道轴线不垂直的情况下 ,利用椭圆环面实现两椭圆柱面间光滑过渡曲面的构造方法 .当生成椭圆环面的运动轴线与给定管道轴线为一阶几何连续时 ,可使椭圆环面与给定管道达到一阶几何连续 ;当轴线为二阶几何连续时 ,曲面可以达到二阶几何连续 .并且还对于用法向环面构造过渡曲面的连续性做了进一步的分析 .     

强度比红外定向研究

提出了一种红外定向方法:根据2个相互垂直的红外探测器的信号强度比来确定目标方向.介绍了该方法的原理、实验方案.实验得到了每隔1°的红外源方向角度α和两探测器信号强度比值q的数据库,-αq符合反正切关系.实验结果表明,只要红外源与探测器的距离R>10 cm,则-αq关系与R值无关,该定向方法的角分辨率至少达到1°,且重复性好,表明该方法切实可行.与现有红外定向方法相比,本文提出的强度比定向法原理和技术简单、易于实现、成本较低.     

井条件下的几何因子理论

本文论述了有井和无井时多层介质的测井响应与两个无限均匀介质的界面响应之间的关系。将分层均匀地层的测井响应化简成关于各层物理特征的代数方程,并定义了各种测井方法的几何因子和井条件下的几何因子,提出了该几何因子的计算方法及实际应用时的成立条件,并给出了验证实例。     

用小立体角法测定α放射性样品质量

放射性样品的质量可用小立体角装置绝对测量α计数，从而可以推出样品的质量．样品质量的测量精度主要依赖于小立体角装置的几何，而刻度小立体角装置的几何因子有两个方法即放射性法和几何方法．     

EDXRF分析方法中最佳激发源角度的研究

在用同位素源激发的能量色散X射线荧光（EDXRF）方法分析样品时, 装置中的激发源、探测器和样品之间的几何条件对测量效率有一定的影响. 本文使用EDXRF分析谱仪, 采用不锈钢窗241Am源激发BaSO4样品;对影响测量的因素：样品直径、激发源与样品之间的几何角度、激发源与探测器之间的横向距离进行了研究. 得到：随样品直径的增大, 最佳激发源角度逐渐减小, 当样品直径增大到一定大小后, 最佳角度不随样品直径的继续增大而变化, 基本为一稳定值;由于“在线”分析需要, 需要增大激发源和探测器之间的横向距离, 而最佳激发源角度随横向距离的增加呈线性增长.     

PIPS-低本底α、β测量影响因素的研究

PIPS(passivated ion-implanted planar silicon)探测器作为低本底α、β活度分析的发展方向,其影响因素有很多。为了探究PIPS探测器影响因素对低本底α、β测量仪性能的影响,采用PIPS-低本底α、β测量仪、²³⁹Pu平面源和⁹⁰Sr平面源等试验器材,用改变探测器工作偏压、探测距离及真空度的试验方法,进行α、β和本底测量,分析测量结果,再根据本底计数率、探测效率和串道比的极差与仪器分级差值的比值研究了偏压、源距和真空度对测量的影响。结果表明:源距较偏压和真空度对PIPS-低本底α、β测量仪的影响更大,尤其体现在探测效率上,增大源距使α探测效率的极差与仪器分级差值的比值达到2.593,β探测效率的极差与仪器分级差值的比值为0.479。偏压和真空度对测量性能的影响都很小。     

确定应力强度因子的实验－计算混合法

提出一个新的、由光弹性与权函数两种方法相结合确定应力强度因子的混合法．用此方法求解了单圆孔有限宽板孔边单侧有一水平裂纹、双圆孔无限宽板中心有一水平裂纹受均匀拉伸和具有单边垂直裂纹的半圆形板受三点弯曲时的应力强度因子，并与文献作了比较，两者符合良好，为断裂力学的研究和工程应用提供了一个经济有效的方法．     

确定应力强度因子的实验—计算混合法

提出一个新的、由光弹性与权函数两种方法相结合确定应力强度因子的混合法，用此方法求解了单圆孔有限宽板孔边单侧有一水平裂纹、双圆孔无限宽板中心有一水平裂纹受均匀拉伸和具有单边垂直裂纹的半圆形板受三点弯曲时的应力强度因子，并与文献作了比较，两者符合良好，为断裂力学的研究和工程应用提供了一个经济有效的方法。     

125I微型源在水模体中能量分布的蒙特卡罗模拟

介绍了γ射线辐射场能量分布的蒙特卡罗模拟计算方法;以立方体水为介质模型,利用EGS4软件模拟了γ光子在三维水模体中的输运过程,并对微型源125I在水模体中的辐射场能量分布进行了模拟计算;研究了125I源的排列方式、几何特性以及介质的均匀性对辐射场分布的影响.