硅衬底上薄金膜的椭偏光谱和光学性质

用椭圆偏振光谱法测量了Au膜—Si衬底系统在紫外—可见光范围的光学性质,其结果不能用理想的突变界面模型来解释.分析了空洞、表面粗糙及过渡层对椭圆偏振光谱的影响.此外,还考虑了界面处形成的Au—Si合金层,并用经典振子模型来进行分析.分析表明,后者对Au—Si系统的椭偏光谱影响最大.综合上述因素,可使椭圆偏振光谱的理论计算值与实验结果符合得很好.低温退火后(100℃,10分钟),Si原子扩散到Au膜表面并容易与氧作用形成氧化层.     

论椭圆偏振光的旋转方向

从椭圆偏振光的表达式出发 ,讨论了椭圆偏振光的旋转方向与位相差的关系 ,由此提出了椭圆 (圆 )偏振光旋转方向的判定法则。并针对不同的光学教材所采用的电矢量的不同表达形式 ,分析了判断椭圆偏振光旋转方向易出错的原因 ,指出了判断椭圆偏振光旋转方向应注意的问题 ;同时介绍了按电矢量的空间分布特点判断椭圆偏振光旋转方向的新方法     

椭圆偏振技术研究盐酸介质中丙炔醇对不锈钢的缓蚀作用

采用循环伏安法和椭圆偏振光谱法,研究了丙炔醇（Propargyl alcohol ,PA）对1Cr18Ni9Ti不锈钢在含有氯离子的腐蚀环境中的缓蚀作用,实验表明Cl∧-能使1Cr18Ni9Ti不锈钢发生点蚀,而缓蚀剂PA对不锈钢受到Cl∧-的腐蚀起抑制作用,采用电位扫描椭圆偏振光谱法测定几次循环扫描过程的Vop值,其比值大小及其变化规律可判定点蚀往往的产生及缓蚀剂PA的合理用量。     

椭圆偏振光和部分偏振光检验的理论依据与实验方法

利用矩阵光学的方法,从理论上推导了椭圆偏振光和部分偏振光检验的依据;建立了实验测试系统,并利用偏振光实验平台,测定了出射光的马吕斯定律曲线．实验结果和理论分析相吻合．     

椭圆光的偏振态及其几何表示

一、电矢量末端所描椭圆的轴长及其取向任意椭圆偏振光都可以由振动面相互垂直、位相差恒定的两束平面偏振光迭加而成。设这两束平面偏振光的电矢量分别为:     

椭圆偏振光的实验检验

本文通过解析,设计了一种实验方案来解决椭圆偏振光(包括由1/4波片和任意厚度的波片产生椭圆偏振光以及由其它方法产生的任意椭圆偏振光)的实验检验问题。     

椭圆偏振光的实验验证方法

对椭圆偏振光通过四分之一波片后的光强变化规律进行了研究,提供了在波片主轴未知的情况下验证椭圆偏振光的实验方法,经实验验证可行无误。     

椭圆偏振光与部分偏振光的实验现象分析

由于部分偏振光与椭圆偏振光经旋转偏振片后,其光强发生相似的变化,所以难以区分.采用在椭圆偏振光路中加入2片1/4波片,在部分偏振光光路中加入1片1/4波片,从而加以区分.实验结果表明,部分偏振光的光强发生变化,但是没有出现消光现象,椭圆偏振光通过1/4波片变成浅偏振光,出现消光现象.     

ZnO薄膜的椭圆偏振光谱研究

采用椭圆偏振光谱法,在1.50～4.50eV光谱范围内,研究了在蓝宝石衬底上使用分子束外延方法制备的纤锌矿结构ZnO薄膜的光学性质.对椭圆偏振光谱拟合结果表明,坦吉扩展(Tanguy extend)色散公式能更准确、方便地描述ZnO薄膜带边附近的折射率和消光系数的色散关系.提供了ZnO薄膜在1.50～4.50eV光谱范围内的寻常光(o光)和非常光(e光)折射率和消光系数色散关系,为定量分析ZnO薄膜带边附近各向异性的光学性质提供了依据.     

椭圆偏振光电矢量转动的角速度

对椭圆偏振光电矢量转动的角速度进行分析,澄清一些文献中的错误。     

海船尾气紫外强化有效氯一体化脱硫脱硝的研究

为控制船舶尾气中SO_x和NO_x等有害污染物的排放,符合国际海事组织和地方性的公约和法规要求,各国都在加紧研究船舶尾气的后处理技术。介绍了目前尾气脱硫脱硝后处理技术的现状和研究方向,提出紫外辐照强化有效氯氧化脱硫脱硝的一体化尾气处理新技术。建立了实验平台,设计了实验方法,描述了化学反应的机理。实验结果表明,氧化溶液在紫外辐照的环境下,在pH为3～10时,具有一定的氧化脱硫脱硝能力。在设定的实验条件下,对NO和NO_2的最高脱除率达到61%,对SO2的脱除率达到100%。此一体化脱硫脱硝新方案适用于海船环境,为船舶尾气后处理技术的研究提供了参考。     

间苯三酚生产废水处理的试验研究

采用两段化学絮凝-湿式催化氧化-氯氧化-硅藻土混凝和微滤分离膜过滤组合工艺对间苯三酚生产废水进行处理,研究Fenton试剂、絮凝剂、NaClO用量对处理效果的影响.废水经组合工艺处理后,间苯三酚浓度由5.08g/L下降为0.36mg/L,去除率接近100%;COD由46450mg/L下降为24.6mg/L,去除率接近100%;颜色由深棕色完全褪尽,去除率为100%;处理后的出水浊度为0.18NTU,色度为5度.处理后的每吨水可回收硫酸钠、氯化钠等无机盐40千克.实验结果表明该处理工艺效果优良,实现了废水的处理与资源化.     

毫米波椭偏法测量介质的复介电常数

将椭圆偏振测量法（椭偏法）的电磁频谱从原来可见光、红外波段拓展到毫米波段,对毫米波椭偏法测量原理进行理论分析,使用已构建的实验装置进行测量.通过对测量结果的分析,选择合适的入射角,经过大量测试,计算出被测介质材料的复介电常数.     

8mm波导螺钉圆极化器的设计与优化

根据“射频椭偏测量法及装置的研究”课题的要求,设计8 mm波导螺钉圆极化器.通过理论 分析和数值计算给出了一种新的优化设计方法,经过软件的模拟仿真确定了最佳设计尺寸, 并制作了实物样品.实验测量表明,该圆极化器具有良好的性能.     

椭圆法用于阴极溶出伏安法测定铅的研究

用新物理量Ｖｏｐ的椭圆法对阴极溶伏安法分析的含铅的一系列溶液进行了研究。结果表明：光学方法和电化学方法所得分析结果一致,且利用椭圆法测量的工作曲线相关系数更好。     

椭圆偏振谱学法研究Ni(OH)2/NiOOH电极的性质

应用现场椭圆偏振光谱技术并结合循环伏安法。研究了镍电极表面Ni(OH)2与NiOOH的相互转化，以均匀膜模型拟合实验数据获得表面膜厚度的变化规律，采用以光学参量变化速率(Vop)为参数的椭圆偏振光谱方法能直接反映出体系的特征．Vop参量与表面膜厚度的变化率间存在密切关系,Vop反映了电极表面表面膜厚度的变化率．     

自组装单分子膜表征技术的研究

对自组装单分子膜技术的研究是具有广泛的实用价值与应用价值的,随着自组装技术的深入发展其应用领域也更加广泛,同时其大量的表征方法也日益更新.本文主要从以下几方面对自组装膜的表征手段作出了对比分析,例如:光、电化学分析方法、光谱学测试方法、微观显微学测试法等及自组装分子膜的相关辅助手段,例如:粗糙度检测法、金像显微观测法、...     

椭偏谱法测量类金刚石薄膜的质量

应用椭偏光谱法研究了一系列不含氢DLC样品,讨论了样品制备与测量、模型的建立及多样品分析法和椭偏数据拟合,表明椭偏光谱法可以确定DLC膜的厚度,并可反映出sp3成份百分比变化与制备时偏置电压的关系.     

Characterization of ultrathin SiO 2/Si interface grown by low temperature plasma oxidation

Ultrathin SiO 2 layers on Si (100) wafers were prepared by plasma oxidation at a low temperature (250℃). The analyses of X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and TEM reveal that the chemical composition of the oxide layer is stoichiometric SiO 2 and the SiO 2/Si interface is abrupt. The thickness of the ultrathin oxide layer obtained from XPS, capacitance-voltage (C-V) and ellipsometry measurements indicate a nonlinear time dependence. The high frequency C-V characterization of MOS structure shows that the fixed charge density in SiO 2 film is about 10 11 cm -2 . It is also shown that the strength of breakdown electrical field of SiO 2 film with 6 nm thickness is of the order of 10 6 Vcm -1 . These properties of the ultrathin SiO 2 layer ensure its application in silicon quantum devices.